技术编号：10675351
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。近年来，数据的大规模传输要求变得越来越普及。很多芯片都要经过超高频的测试，能够快速、准确地提取RF参数，是芯片测试的关键。这些高特性的出现给芯片测试设备提出了更高更新的要求。目前在CP测试上选用的探针都还是悬臂针。这种类型的针比较长，而且是悬空的，信号完整性控制上非常困难，传输率只有100-400Mbps，高速信号的测试是几乎不可能的；另外，探针和触点的直接接触在电气性能上也有局限，容易产生漏电和接触电阻，这对于高精度的信号测量也会带来巨大的影响。当然，理...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。