技术编号：11249411
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量热学性能的装置，特别是涉及一种测量材料散热性能的装置，应用于材料散热性能测量和控制技术领域。背景技术随着科技的进步，电气化、信息化时代的到来，各类用电产品内部超大规模集成电路的容量和密集度也迅速增大，而且基板上各类芯片的组装数及组装密度也越来越高，相对地其单位体积所散发的热量也愈来愈高，高温会降低元器件性能，导致系统运行不稳定，从而影响系统的可靠性，缩短其使用寿命，甚至有可能使某些部件烧坏。据统计，当前用电精密器件损坏的主要原因是热损坏，即工作温度超过允许的数值。为了进一步提高...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。