技术编号：13449403
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。：本实用新型涉及测试装置，具体涉及顶白测试仪器。背景技术：背光模组在组装过程中受到外力压迫容易形成白点现象，这种现象在小尺寸背光模组上会更加明显。针对光学增亮膜顶白测试也是我们评估光学膜性能优劣的一项主要指标，目前业界有相关的预防背光模组顶白的一些治具，主要依靠手动操作及肉眼观测测试效果，并没有一套完善的测试方法和标准，对产品良率评判带来不利影响。现需要一种测试方法或设备，在做顶白测试时可以减少人为因素干扰，对测试条件及效果有量化的标准，最终对产品进行统一标准的评价。实用新型内容：本实用新型的目...
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