技术编号：13935248
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型属于蒸镀机技术领域，具体涉及金属化薄膜光密检测探头和金属化薄膜光密检测仪。背景技术金属化电容薄膜是否均匀，直接影响制成后的金属化薄膜电容的质量。在生产金属化薄膜时，蒸镀机对薄膜进行镀膜操作，为了保证金属化薄膜整体厚度均匀，一般是使用两条测量导辊检测经过两条导辊之间的膜的方阻值，对薄膜的厚度进行监控。但使用这种方法测量方阻，只能检测整块膜的整体的方阻平均值，如果在喷锌磨具出现变形或铝蒸发不平均的情况下，有可能使得膜上的各个镀区的方阻值不一致，但采用导辊检测并不能发现这种异常状况。同时使用...
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