技术编号：13935257
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于计算机视觉测量技术领域，具体涉及一种基于灰度修正与自适应阈值的结构光条纹中心提取方法。背景技术投影结构光条纹的三维形貌检测技术具有非接触性、测量效率高和易于实现等特点，被广泛应用于产品快速成型、在线测量和故障检测等诸多领域。结构光三维测量技术利用投影仪向被测物体投射特定的结构光条，经物体表面调制后，由CCD相机拍摄变形光条图像，并利用三角测量原理来获得被测物体的三维几何信息。其中，快速准确的获取结构光条纹中心线的图像坐标是结构光三维测量的核心技术之一。通常认为条纹中心在截面灰度最大值附...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
请注意，此类技术没有源代码，用于学习研究技术思路。