技术编号:14478120
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及模拟集成电路中的放大器领域,更具体地说,涉及一种提高所述放大器精度的技术。背景技术在当前的工业控制系统、仪器仪表、医疗设备、安防、汽车、航空航天及消费类电子等领域,精密放大器集成电路有着广泛的应用。输入失调电压、失调电压的温漂(drift)、闪烁噪声(1/f noise)是标示放大器精度的重要技术指标,其性能直接影响到上述应用设备和系统的精度指标。在利用半导体工艺制造集成电路的过程中,诸多因素会影响放大器的精度,例如器件失配(mismatch)、闪烁噪声、器件参数的温度漂移、封装压力(...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。