技术编号：14685324
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及X射线源装置，尤其涉及一种用于研究单能X射线的X射线源装置。背景技术目前在单能X射线研究领域中，大多数集中在10keV能量以上，但在低能段的粒子能量变化对X射线探测器的影响显著，所以在低能段对探测器进行精准刻度具有重要意义。但是，对于10keV能量以下的单能X射线在空气中非常容易被空气吸收，导致探测器接收不到信号。为解决10keV能量以下的单能X射线容易被空气吸收的问题，在现有技术中，经常采用两种设计方案。其中一种设计方案为在X光机出射口安装一段真空管，在真空管的另一端放置探测器，但是...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。