技术编号:14912912
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种存储芯片测试方法,特别是涉及一种用于eMMC芯片存储参数测试的方法及系统。背景技术eMMC芯片(Embedded Multi Media Card,嵌入式多媒体卡)由NAND Flash、控制器和标准封装接口组成,其中,NAND Flash提供了存储空间;控制器实现了对Flash块的读写控制和管理,包括ECC除错机制(Error Correcting Code)、区块管理(Block Management)、平均抹写储存区块技术(Wear Leveling)、指令管理管理(Comm...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术无源代码,用于学习原理,如您想要源代码请勿下载。