技术编号:14943301
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及利用红外全反射衰减法(IR-ATR法)求出以含氟聚合物为有效成分的含氟表面处理剂所具有的氟代烷基的碳原子数的分析法。背景技术提出了测定含氟有机化合物中的含氟烃链的表面偏析性的方法。公开了通过利用XPS或使用轨道同步辐射的X射线吸收的方法而对试样进行局部分析的技术(例如,K Honda,M Morita,H Otsuka,A Takahara.Macromolecules 38(13),5699-5705(2005)和K.Honda,M.Morita,O.Sakata,S.Sasaki ...
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