技术编号：14943308
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本申请案主张2015年6月10日申请的第62/230,608号美国临时申请案及2015年11月13日申请的第62/255,230号美国临时申请案的权益，所述临时申请案两者的全文特此以引用的方式并入本文中。技术领域本发明大体上涉及半导体测试装备，且更特定来说，涉及用于路由测试信号/电力到半导体裸片的集成电路及路由来自所述集成电路的测试信号/电力的方法及设备。背景技术集成电路广泛使用于各种产品中。集成电路已不断地降低价格且增加性能，在现代电子装置中变得无处不在。性能/成本比率的这些改进至少部分基于微...
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