技术编号：17917501
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于测量技术领域，具体地，涉及一种测量系统及方法。背景技术地表反照率和辐射能量测量时，传感器安装在高塔上。高塔的反射和辐射对反照率和辐射测量会有影响。但是由于设备和技术的局限，在现有的测量还中不能屏蔽高塔反射对辐射测量的影响，因此这种影响不能定量测量。另外，地表反照率表和辐射计的视场角理论上是180 度，实际视场角在150-170度左右。在实际测量中，由于视场中干扰物的出现，对观测信号会有多少影响无法定量测量。因此亟需开发一种测量系统及方法，屏蔽高塔反射对辐射测量的影响，减小视场中干扰物的...
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