技术编号：5269431
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了一种材料全温度段多场耦合性能的压痕系统，包括驱动装置，用于利用温度得到推动力；压痕装置，用于通过所述驱动系统产生的推动力对被测量材料施加压力；所述压痕装置上设置有第一电极；样品定位装置，用于放置被测量材料的；所述样品定位装置上设置有第二电极；支撑装置，用于为所述驱动装置、压痕装置和样品定位装置提供支撑；所述支撑装置置于透射电镜内；所述驱动装置与所述压痕装置接触；所述压痕装置与所述样品定位装置接间隔第一设定距离；所述驱动装置、压痕装置和样品定位装...
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