技术编号：5893030
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种霍尔芯片磁通量测试装置，以在SOT23封装测试时对量产 的霍尔芯片进行磁通量的测试。背景技术霍尔效应是磁电效应的一种，当电流以垂直于外磁场的方向通过位于该磁场中 的导体时，在导体的垂直于磁场和电流方向的两个端面之间会出现电势差，这种现象叫 做霍尔效应。霍尔传感器即是利用霍尔元件基于霍尔效应原理而将被测量的物理量(如 电流、磁场、位移、压力等)转换成电动势输出的一种传感器。其结构简单，体积小， 无触点，可靠性高，易微型化，因此，在测量技术中...
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