技术编号：5902453
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种用于测量孔径的仪器，尤其是涉及一种基于图像处理技术和表面反射原理设计的光学孔径测量仪。背景技术孔径测量是长度计量技术的主要内容之一，目前通常采用的测量孔径的工具有三座标仪，万能测长仪、环规塞规、视频测长仪、万工显等，但是，现有技术中的孔径测量工具都难以满足实际使用中高精度测量孔径的需求。三座标仪在测量孔径时，检测四个点，通过四个点拟合成一个圆，通过计算得出圆的直径。由于拟合误差，和找点的不确定性，所以难以实现高精度测量。万能测长仪是通过多...
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