技术编号:6028844
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种物理的光电测量,特别是一种用背景光照射线阵CCD辅助测量的方法。背景技术目前在工业上最常用的测量方法是以一束平行光照射CCD,并放置被测体在光场中,使被测体处于二者之间,即可在CCD上得到同尺寸的阴影和相应的目标信号,其输出信号即是方波脉冲,正是因为大部分CCD单元被光照射,抑制了CCD的噪声,使它工作较为稳定,且结构简单,允许被测体缓慢移动,使这种方法适用于大部分动态测量。而它的缺点是从平行光源到CCD之间距离较近,在测量环境较差时,结构上...
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