技术编号：6100669
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种用于被测件的尤其是用于晶片的电气检测设备，具有一个与被测件对应的触头和一个电联接的连接装置以及一个在该连接装置背向触头的一侧面上布置的支撑装置，所述的触头具有构成触针布置的销状接触元件，所述的连接装置设有接触面，该接触面与接触元件上背朝布置有被测件的测试平面的一端相接触。背景技术 本文开头提到的这种检测设备与被测件进行电接触，以测试其功能。该电气检测设备与被测件之间为电连接，即一方面与被测件的电气端子接触，另一方面用电接触来连接一个检测系统，...
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