技术编号：6117432
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测试设备，特别是涉及一种电子装置的枢轴耐久性测 试的测试设备。背景技术一般而言，电子装置具备有轻薄短小及方便携带的功能已成为现代潮 流的趋势。为缩小电子装置的体积，以达到方便携带的功效，目前市面上 发展出掀盖方式来缩小其体积的可携式电子装置，例如笔记型电脑及行动 通讯装置等，掀盖式的电子装置于制造后会利用一测试设备来测试其枢轴 的耐久性，藉以提供制造厂商关于电子装置枢轴的使用寿命及耐久性等相 关资讯，以利厂商改良结构设计，控管产品品质及了解其...
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