技术编号：6119125
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及一种，特别是涉及一种涡流导电率仪测量电路。背景技术根据德国FORSTER博士应用电涡流法测定金属的电导率原理，制作的非铁磁性金属电导率仪。其原理是将载有交变电流的检测线圈(一般称为探头)置于被测金属平面上，探头在被测金属上产生感生涡流，这些涡流的反作用改变线圈的电特性(即线圈阻抗Z＝R+jWL)，分析和测定线圈阻抗的变化就可确定金属电导率值。目前，常用的线圈阻抗桥路检测电路一般采用交流电桥(如图1所示)。图1中V为电桥的交流激励电源；A为电桥...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。