技术编号：6177772
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明公开了检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头及系统，检测复杂导电结构表面缺陷的涡流阵列探头，由多个涡流探头组成，所述的多个涡流探头按横向和纵向排列成网格状；相邻的两个涡流探头之间设有机械弹性结构；在每一个涡流探头的底端朝向被检测物表面的一面安装有激励线圈及感测器，在激励线圈及感测器周围非发射或接收方向都设置有屏蔽层；本发明可以检测复杂导电结构表面缺陷的存在，并可根据信号特征判断其数量、方向及长、宽、深度等形状信息。专利说明检测复杂导电结构表面缺陷的涡...
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