技术编号:6851215
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种特别用于晶片检测的电气检测设备。这种检测设备带有一个与被测件对应的触头,触头上带有形成触针布置的销状接触元件;这种设备还带有一个电气连接装置,它的接触面与接触元件上背朝被测件的一端相接触。背景技术 本发明开头所提到的这种电气检测设备被用来和被测件进行电接触,以测试它的功能。这种电气检测设备与被测件之间为电连接,也就是说,它一方面与被测件的电气端子接触,另一方面又将电接触用来连接一个检测系统,这个系统通过检测设备向被测件发送电信号,测量它的电阻...
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