技术编号：9215107
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。目前市场的主流的产品自动检测大部分采用光学自动全检。其中，光学检测系统是利用影像擷取装置擷取待测物的影像，再将所擷取到的影像与一参考影像比较，以判断待测物是否存在缺陷。现有的自动光学检测系统大多是将待测物置于影像擷取装置的焦点位置上以擷取较为清晰的影像，如此将限制自动光学检测系统的应用。对于光学自动全检，其控制技术及电路要求及成本高，对操作人员的技术能力要求相对较高。发明内容有鉴于此，本发明的目的在于提供，旨在解决现有技术中光学自动全检控制技术及电路要求及...
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