技术编号:9416878
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。二氧化碳气体直接进入加速器质谱仪(AMS)进行放射性同位素14C测量技术的兴起,有利于超微量样品的测量,其可将原固体石墨靶样所需碳量从mg级降低至yg级;且略去样品处理耗时最长、最易引入污染的还原过程,可大大提高14C-AMS分析的效率与准确性。但是,对于处于高真空度、高电势差的离子源头部,过量的气体的突然进入必将对真空系统的栗组造成损害,严重的将导致离子源头部的真空绝缘性遭到破坏,进而出行击穿、打火等严重损害离子源头部的情况,最终无法正常输出由Cs+溅射...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。