技术编号:9685201
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。如附图3所示,零件设有两个基准孔,即主基准和副基准,两个基准之间具有位置度公差;零件还设有其它孔,分别具有相对于主基准和副基准的位置度公差。常规检具不能同时检测零件有两个基准以上的孔的位置度,除非制作两套以上检具,这样既浪费成本又无法实现快速检测。发明内容本发明提供一种零件双基准孔位置度检测装置,在一套检测装置上实现双基准多孔位置度的检测,可以节约检测时间,使检测节拍加快,提高工作效率。本发明的技术方案如下—种零件双基准孔位置度检测装置,包括主基座、副基座...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。