技术编号:9994513
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。目前的集成电路测试架是由矩形柱体、两夹片、弹簧和插针等构成的,两夹片位于矩形柱体两侧,两夹片的下部分别与矩形柱体铰接,两夹片上部与矩形柱体间夹设弹簧,两夹片的底部与矩形柱体的底部围成矩形槽,插针竖向穿置于两夹片和矩形柱体的两个非夹合面中,插针底部露于矩形槽的四个内壁且与槽口齐平,插针顶部突出夹片和矩形柱体的上端。由于测试夹的外形为上大下小状,所以测试夹底部插针较密,为了便于测试时与插针连接,夹片和柱体的顶部均为台阶形。使用时将测试夹的矩形槽夹套在被测芯片上...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。