专利名称：颅面部高度测量尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种人体颅面部垂直高度测量工具。
背景技术：
长期以来，在颅面部垂直高度的直接测量方面，由于颅面部形态的复杂性和位置的不确定性，而且测量要求体位一致，测量结果才能具有准确性和可比性，但是一般测量工具难以满足颅面部形态的测量要求。
发明内容
本实用新型的目的提供一种颅面部垂直高度测量的专用工具。
本实用新型的技术解决方案是一种颅面部高度测量尺，包括L型直角刻度指示尺，所述的L型直角刻度指示尺水平端设有水平基准尺和水平指示气泡，L型直角刻度指示尺上设有滑动指针。
本实用新型用于颅面部形态各器官垂直高度测量，也可用于类似这种测量要求的其他垂直高度的测量，本实用新型操作简单、方便，读数准确，误差小，只需一人即可单独完成测量。本实用新型弥补了国内颅面部直接测量工具的不足，在医学领域或解剖学领域具有较高的实用价值。
附图为本实用新型结构示意图。
具体实施方式
一种颅面部高度测量尺，包括L型直角刻度指示尺3，L型直角刻度指示尺3的量程范围参照我国成人颅颏高度的最大范围所设计，最小刻度间隔为1毫米，所述的L型直角刻度指示尺3水平端延长连接水平基准尺1作为测量基准，L型直角刻度指示尺3中设有水平指示气泡2，L型直角刻度指示尺1上设有滑动指针4，滑动指针4在L型直角刻度指示尺3上滑动指示颅面部某部位距水平基准尺1的高度数值。
本实用新型使用方法先用眉笔在颅面部标出测量标志点，以人体眶耳平面平行于地平面的侧貌垂直位为测量体位。为保证头位的可重复性，每测量高度时，应先将水平基准尺1置于眶耳平面，调整头部位置，观察水平指示气泡2是否居中，居中说明眶耳平面与地平面平行。在此前提下，以水平基准尺1接触人体头顶部，调整测量尺角度，保证水平指示气泡2居中，上下移动滑动指针4，使其到达测量位置，从刻度指示尺3显示读取高度尺寸。以此方法能够测量出颅部各部分的垂直高度，即上、中、下面高，鼻、上下唇及颏等的高度。
权利要求1.一种颅面部高度测量尺，包括L型直角刻度指示尺(3)，其特征在于所述的L型直角刻度指示尺(3)水平端设有水平基准尺(1)和水平指示气泡(2)，L型直角刻度指示尺(1)上设有滑动指针(4)。
专利摘要一种颅面部高度测量尺，包括L型直角刻度指示尺，所述的L型直角刻度指示尺水平端设有水平基准尺和水平指示气泡，L型直角刻度指示尺上设有滑动指针。本实用新型用于颅面部形态各器官垂直高度测量，也可用于类似这种测量要求的其他垂直高度的测量，本实用新型操作简单、方便，读数准确，误差小，只需一人即可单独完成测量。本实用新型弥补了国内颅面部直接测量工具的不足，在医学领域或解剖学领域具有较高的实用价值。
文档编号A61B5/107GK2525942SQ0127374
公开日2002年12月18日 申请日期2001年12月26日 优先权日2001年12月26日
发明者司新芹, 周洪 申请人:司新芹, 周洪