一种测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法
【专利摘要】本发明公开了一种测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法，包括确定标准谐振频率、绘制标准曲线、测量皮瓣厚度和/或检测接收线圈。本发明提供的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法通过将和发射线圈相同的体外线圈耦合到接收线圈上，在不同间距下测量其等效阻抗，最后通过标准曲线确定使用者的皮瓣厚度；和/或通过阻抗共振峰的最大值和谐振频率来判断线圈故障原因。本发明具有无损简单，迅速，不影响使用者体内安装植入体的工作情况的优点。而且，本发明还能够迅速判断线圈断路、谐振偏离等故障，为分析、了解故障原因提出可靠依据。
【专利说明】一种测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及电子耳蜗领域，特别是涉及一种测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法。 【背景技术】
[0002]电子耳蜗是一种能够为重度和极重度感音神经性耳聋患者提供功能性听力的植入型电子装置。它越过已经失去正常功能的人体内耳，用带有声音信息的电流脉冲直接刺激听神经来产生听觉。图1为电子耳蜗的结构示意图，电子耳蜗由体外机部件和植入体部件连部分组成，体外机部件主要包括传声器(如麦克风等)、言语处理器和发射线圈，植入体部件主要包括接收线圈、刺激器和多通道电机阵列组成，由麦克风接收声音信号，言语处理器对声音信号进行处理和编码后发射到刺激器，然后将信号解码转化为电流脉冲，电流脉冲通过电极阵列刺激听神经，从而使大脑感知到声音。
[0003]但是将植入体部件植入皮下后，如何用一个简单的方法无损测量使用病人的皮瓣厚度是一个难题。当线圈出现断路故障时或者植入体因为谐振原因而输入能量不够时，如何无损地、在不取出植入体条件下判断故障原因，也是个难题。
【发明内容】
[0004]有鉴于此，本发明的目的在于提出一种测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法，以解决无损测量使用者皮瓣厚度的难题，和/或解决无损判断线圈故障原因的难题。
[0005]基于上述目的，本发明提供的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法包括以下步骤:
[0006]植入电子耳蜗前，先将体外线圈以一定间距与植入体部件的接收线圈耦合，所述体外线圈与体外机部件的发射线圈相同；测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，并根据阻抗共振峰的最大值确定标准谐振频率；
[0007]在所述标准谐振频率下，改变体外线圈和接收线圈的间距，并测量不同间距时的等效阻抗，再绘制不同线圈间距对应不同等效阻抗的标准曲线；
[0008]在植入电子耳蜗后，
[0009]如需测量皮瓣厚度，则将所述体外线圈置于皮肤上，并与所述植入体部件的接收线圈耦合，在所述标准谐振频率下测量所述体外线圈的当前等效阻抗，并通过所述标准曲线计算所述体外线圈与所述接收线圈的间距；
[0010]如需检测接收线圈，则测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，如果阻抗共振峰的最大值消失，表明接收线圈断路；如果谐振频率与所述的标准谐振频率不同，表明发生谐振偏离。
[0011]可选地，所述等效阻抗通过阻抗分析仪或者具有阻抗测量的网路分析仪测量。
[0012]可选地,所述测量不同频率的频率测量范围约为f 30MHz。
[0013]从上面所述可以看出，本发明提供的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法通过将和发射线圈相同的体外线圈耦合到接收线圈上，在不同间距下测量其等效阻抗，最后通过标准曲线确定使用者的皮瓣厚度；和/或通过阻抗共振峰的最大值和谐振频率来判断线圈故障原因。可见，本发明具有无损简单，迅速，不影响使用者体内安装植入体的工作情况的优点。而且，本发明还能够迅速判断线圈断路、谐振偏离等故障，为分析、了解故障原因提出可靠依据。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为电子耳蜗的结构示意图；
[0015]图2为本发明实施例测量等效阻抗的结构示意图；
[0016]图3为本发明实施例不同线圈间距对应不同等效阻抗的标准曲线。
【具体实施方式】
[0017]为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。
[0018]本发明提供的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法包括以下步骤:
[0019]植入电子耳蜗前，先将体外线圈以一定间距与植入体部件的接收线圈耦合，所述体外线圈与体外机部件的发射线圈相同；测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，并根据阻抗共振峰的最大值确定标 准谐振频率；
[0020]在所述标准谐振频率下，改变体外线圈和接收线圈的间距，并测量不同间距时的等效阻抗，再绘制不同线圈间距对应不同等效阻抗的标准曲线；
[0021]在植入电子耳蜗后，
[0022]如需测量皮瓣厚度，则将所述体外线圈置于皮肤上，并与所述植入体部件的接收线圈耦合，在所述标准谐振频率下测量所述体外线圈的当前等效阻抗，并通过所述标准曲线计算所述体外线圈与所述接收线圈的间距；
[0023]如需检测接收线圈，则测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，如果阻抗共振峰的最大值消失，表明接收线圈断路；如果谐振频率与所述的标准谐振频率不同，表明发生谐振偏离。
[0024]可选地，所述等效阻抗通过阻抗分析仪或者具有阻抗测量的网路分析仪测量。
[0025]可选地，所述测试不同频率的范围约为f500MHz。
[0026]作为本发明的一个实施例，所述测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法具体包括以下步骤:
[0027]I)确定谐振频率:植入电子耳蜗前，先将体外线圈以一定间距与植入体部件的接收线圈耦合，所述体外线圈与体外机部件的发射线圈相同；然后采用阻抗测试部件测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，并根据阻抗共振峰的最大值确定标准谐振频率。
[0028]参考图2，其为本发明实施例体测量等效阻抗的结构示意图。所述阻抗测试部件与体外线圈相连，在扫描频率约f 30MHz下测量体外线圈的等效阻抗，在约16MHz处获得阻抗共振峰的最大值，即标准谐振频率。此时,线圈间距约为4mm，等效阻抗如电感Ls约1.75uH,电阻Rs约1600HM。
[0029]可选地，所述阻抗测试部件为阻抗分析仪或者具有阻抗测量的网路分析仪。[0030]2)绘制标准曲线:在所述标准谐振频率约16MHz下，改变体外线圈和接收线圈的间距，并测量不同间距时的等效阻抗，再绘制不同线圈间距对应不同等效阻抗的标准曲线。如图3所示，在不同的线圈间距下，等效阻抗(Z值，Ls值，Rs值)会随线圈间距的改变而变化。
[0031 ] 3 )测量皮瓣厚度:植入电子耳蜗后，将所述体外线圈置于皮肤上，并与所述植入体部件的接收线圈耦合，在所述标准谐振频率约16MHz下采用阻抗测试部件测量所述体外线圈的当前等效阻抗，并通过如图3所示的标准曲线计算所述体外线圈与所述接收线圈的间距，即皮瓣厚度。
[0032]进一步地，也可以通过步骤4)来判断线圈的故障原因。
[0033]4)检测接收线圈:采用阻抗测试部件测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，扫描频率范围约f 30MHz，如果在16MHz附近的阻抗共振峰最大值消失，等效阻抗随频率变化成平坦，没有谐振峰，表明接收线圈断路；如果谐振频率与步骤I)中所述的标准谐振频率约16MHz不同，表明发生谐振偏离。
[0034]当植入接收线圈发生断路等情况时，或者因为泄漏等原因内部谐振电感、电容等元件数值发生偏离时，谐振状况会发生变化，直接体现在阻抗测量曲线发生变化，比如阻抗共振峰最大值消失，或者谐振峰位置发生偏离。
[0035]如上所述，本发明提供的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法通过将和发射线圈相同的体外线圈耦合到接收线圈上，在不同间距下测量其等效阻抗，最后通过标准曲线确定使用者的皮瓣厚度；和/或通过阻抗共振峰的最大值和谐振频率来判断线圈故障原因。可见，本发明具有无损简单，迅速，不影响使用者体内安装植入体的工作情况的优点。而且，本发明还能够迅速判断线圈断路、谐振偏离等故障，为分析、了解故障原因提出可靠依据。
[0036]所属领域的普通技术人员应当理解:以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保 护范围之内。
【权利要求】
1.一种测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法，其特征在于，包括以下步骤: 植入电子耳蜗前，先将体外线圈以一定间距与植入体部件的接收线圈耦合，所述体外线圈与体外机部件的发射线圈相同；测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，并根据阻抗共振峰的最大值确定标准谐振频率； 在所述标准谐振频率下，改变体外线圈和接收线圈的间距，并测量不同间距时的等效阻抗，再绘制不同线圈间距对应不同等效阻抗的标准曲线； 在植入电子耳蜗后， 如需测量皮瓣厚度， 则将所述体外线圈置于皮肤上，并与所述植入体部件的接收线圈耦合，在所述标准谐振频率下测量所述体外线圈的当前等效阻抗，并通过所述标准曲线计算所述体外线圈与所述接收线圈的间距； 如需检测接收线圈，则测量不同频率下所述体外线圈的等效阻抗，如果阻抗共振峰的最大值消失，表明接收线圈断路；如果谐振频率与所述的标准谐振频率不同，表明发生谐振偏离。
2.根据权利要求1所述的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法，其特征在于，所述等效阻抗通过阻抗分析仪或者具有阻抗测量的网路分析仪测量。
3.根据权利要求1所述的测量皮瓣厚度和检测接收线圈的方法，其特征在于，所述测量不同频率的频率测量范围为1~500ΜΗζ。
【文档编号】A61N1/36GK103961106SQ201310039664
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2013年1月29日 优先权日:2013年1月29日
【发明者】夏斌, 姚慧 申请人:杭州诺尔康神经电子科技有限公司