一种分析涂层残余应力的方法及装置与流程

文档序号:34048949发布日期:2023-05-05 15:22阅读:87来源:国知局
一种分析涂层残余应力的方法及装置与流程

本申请涉及涂层材料,特别涉及一种分析涂层残余应力的方法及装置。


背景技术:

1、一些复合材料因具有硬度高、耐磨、耐腐性好的特点,而被广泛应用,常见的复合材料往往作为耐磨涂层在冶金、航空等领域应用。在复合材料涂层制备过程中,基体热膨胀系数的差异会导致冷却后涂层界面产生残余应力,而残余应力对涂层的拉伸性能和疲劳性能会产生很大的影响,故在实验中需要精确分析复合材料涂层的残余应力。

2、现有技术中,目前有多种分析残余应力的方法,例如x射线衍射法、中子衍射法、化学腐蚀法等。其中,x射线衍射法只能测量材料表面基体中的应力,并不完全等同于涂层界面残余应力,中子衍射法测量准确但成本较高,化学腐蚀法则需利用显微镜的聚焦距离测量长度,误差较大。因此,如何高精度、低成本的分析涂层界面残余应力成为了亟需解决的问题。


技术实现思路

1、基于上述问题,本申请提供了一种分析涂层残余应力的方法及装置,以高精度、低成本的分析涂层界面残余应力。

2、本申请公开了一种分析涂层残余应力的方法,所述方法包括:

3、基于上述一种分析涂层残余应力的方法,本申请还公开了一种分析涂层残余应力的装置,包括:

4、本申请公开了一种分析涂层残余应力的方法及装置。假设涂层存在热膨胀产生的残余应力,建立有限元分析模型,使有限元分析模型处理结果接近试样的实际变形轮廓数据,获取与所述残余应力对应的热膨胀系数,再建立实际厚度模型,代入热膨胀系数,计算涂层界面残余应力。基于有限元分析模型和热膨胀假设,使结果清晰、准确,且操作方便无需射线,在降低成本的同时实现了涂层界面残余应力的高精度分析。



技术特征:

1.一种分析涂层残余应力的方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立有限元分析模型,使所述有限元分析模型的处理结果拟合所述变形轮廓数据,包括:

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述通过所述有限元分析模型获得所述涂层的热膨胀系数,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取试样表面的变形轮廓数据,包括:将所述变形轮廓数据的中部数据作为零点,将两端数据进行归一化处理,构建所述变形轮廓数据曲线,得到试样两端的变形最大值和轮廓变形规律。

5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,在所述获取试样表面的变形轮廓数据前,所述方法还包括:基于存在残余应力的带涂层构件获取预设体积的试样。

6.一种分析涂层残余应力的装置,其特征在于,包括:变形轮廓数据获取单元、有限元分析模型建立单元、热膨胀系数获取单元和残余应力获取单元;

7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述有限元分析模型建立单元包括:

8.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述热膨胀系数获取单元包括:

9.根据权利要求6-9任一项所述的装置,其特征在于,所述变形轮廓数据获取单元用于:将所述变形轮廓数据的中部数据作为零点,将两端数据进行归一化处理,构建所述变形轮廓数据曲线,得到试样两端的变形最大值和轮廓变形规律。

10.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:试样获取单元,用于基于存在残余应力的带涂层构件获取预设体积的试样。


技术总结
本申请公开了一种分析涂层残余应力的方法及装置。假设涂层存在热膨胀产生的残余应力,建立有限元分析模型,使有限元分析模型处理结果接近试样的实际变形轮廓数据,获取与所述残余应力对应的热膨胀系数,再建立实际厚度模型,代入热膨胀系数,计算涂层界面残余应力。基于有限元分析模型和热膨胀假设,使结果清晰、准确,且操作方便无需射线,在降低成本的同时实现了涂层界面残余应力的高精度分析。

技术研发人员:刘春江,陈贺贺,姜涛,刘昌奎
受保护的技术使用者:中国航发北京航空材料研究院
技术研发日:
技术公布日:2024/1/12
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