测试用转接模块、终端测试系统及测试方法与流程

本公开涉及显示技术领域，尤其涉及一种测试用转接模块、终端测试系统、以及终端测试方法。

背景技术：

随着光学技术和半导体技术的发展，以液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)和有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Diode，OLED)为代表的平板显示器具有轻薄、能耗低、反应速度快、色纯度佳、以及对比度高等特点，在显示领域占据了主导地位。

为了保证显示品质，显示装置在出厂前均会通过点屏测试对模组产品的电学性能进行测试，例如通过外接电源对显示屏外灌3.3V的电压作为印刷电路板(PCB，Printed Circuit Board)的逻辑输入电压VDD，以对显示效果进行测试。在测试过程中需要保证该逻辑输入电压VDD恒定，但当切换显示画面时，由于显示屏端的负载发生变化，而外接电源电压为一固定值，因此电流会随之变化，从而不可避免的造成逻辑输入电压VDD的变化。由于该逻辑输入电压VDD是外接电源电压通过转接板转换成3.3V供给PCB的，在转换过程中，转接板和转接线必然会损耗一部分电压，因此真正供给PCB的逻辑输入电压VDD会低于3.3V，并且随着显示画面的变化，在越重载的画面下，转接板和转接线上的压降也就越大，则PCB的逻辑输入电压VDD就越小。

现有技术中，每切换一次显示画面，都需要通过万用表连接逻辑输入电压VDD测试点，同时手动调节外接电源的电压，以使逻辑输入电压VDD保持恒定值，这对点屏测试造成了极大的不便。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现要素：

本公开的目的在于提供一种测试用转接模块、终端测试系统、以及终端测试方法，进而至少在一定程度上克服由于相关技术的限制和缺陷而导致的一个或者多个问题。

本公开的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。

根据本公开的一个方面，提供一种测试用转接模块，包括：

转接板，具有电压输入端和输出端，且所述电压输入端连接至外接电源，所述输出端连接至待测试终端；

电压转换单元，设于所述转接板上且与所述电压输入端相连，用于将所述电压输入端接收到的外接电源电压转换为测试电压以提供至所述待测试终端；

反馈单元，连接所述电压转换单元，用于将所述测试电压与参考电压进行对比以提供反馈数据；

补偿单元，连接所述反馈单元以及所述转接板，用于根据所述反馈数据生成补偿电压并施加至所述转接板，以对所述测试电压进行补偿。

本公开的一种示例性实施例中，所述反馈单元包括：

误差放大器，其第一输入端接收所述测试电压、第二输入端接收所述参考电压、输出端连接所述补偿单元。

本公开的一种示例性实施例中，所述补偿单元连接所述反馈单元以及所述转接板的电压输入端，用于将生成的所述补偿电压施加至所述电压输入端。

本公开的一种示例性实施例中，所述补偿单元连接所述反馈单元以及所述转接板的输出端，用于将生成的所述补偿电压施加至所述输出端。

本公开的一种示例性实施例中，所述反馈单元和所述补偿单元的功能集成于电压反馈电路芯片。

本公开的一种示例性实施例中，所述点屏测试用转接模块还包括：

采样单元，连接在所述电压转换单元和所述电压反馈电路芯片之间，用于对所述测试电压进行采样并将采样信号输入至所述电压反馈电路芯片。

本公开的一种示例性实施例中，所述采样单元包括：

第一分压电阻，其一端连接所述电压转换单元、另一端连接所述电压反馈电路芯片的反馈电压输入端；

第二分压电阻，其一端连接所述第一分压电阻、另一端接地。

根据本公开的一个方面，提供一种终端测试系统，包括上述的测试用转接模块。

根据本公开的一个方面，提供一种终端测试方法，用于在终端负载变化时提供稳定的测试电压；所述测试方法包括：

接收外接电源电压并转换为测试电压；

将所述测试电压与参考电压进行对比以提供反馈数据；

根据所述反馈数据生成补偿电压以对所述测试电压进行补偿。

本公开的一种示例性实施例中，所述将所述测试电压与参考电压进行对比以提供反馈数据包括：

将所述测试电压和所述参考电压输入至误差放大器进行对比并输出反馈数据。

本公开示例性实施方式所提供的测试用转接模块、终端测试系统、以及终端测试方法，在传统转接板功能的基础上增加了反馈补偿功能，通过将电压转换单元生成的测试电压与参考电压进行对比以得到一补偿电压，从而实现对测试电压的补偿。这样一来，在终端测试过程中，可能出现例如显示画面切换而造成的终端负载变化，从而引起测试电压的变化，而本公开利用反馈单元和补偿单元的功能对该测试电压进行补偿，可在终端负载变化时例如不同显示画面下使该测试电压保持为同一值，从而避免了手动调节外接电源电压，为终端产品的电学分析提供了便捷性。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示意性示出本公开示例性实施例中点屏测试系统的架构图；

图2示意性示出本公开示例性实施例中点屏测试用转接模块的连接关系示意图一；

图3示意性示出本公开示例性实施例中点屏测试用转接模块的连接关系示意图二；

图4示意性示出本公开示例性实施例中点屏测试系统的等效电路图一；

图5示意性示出本公开示例性实施例中点屏测试系统的等效电路图二；

图6示意性示出本公开示例性实施例中转接板搭载UC3842芯片的设计原理图；

图7示意性示出本公开示例性实施例中所述点屏测试方法的流程图。

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。

此外，附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。

本示例实施方式提供一种测试用转接模块，可应用于终端测试系统例如点屏测试系统。如图1所示，在该终端测试系统中，所述转接模块的一输入端连接外接电源10，另一输入端连接数据信号端20，输出端连接待测试终端例如显示模组30，用于将外接电源电压转换为测试电压VDD、将数据信号转化为例如显示画面信号，并通过转接线提供给待测试终端例如显示模组30的PCB301以使显示屏302显示各种画面。

基于此，如图2和图3所示，所述转接模块可以包括：

转接板40，具有电压输入端、数据输入端、以及输出端，且所述电压输入端连接至外接电源10，所述数据输入端连接至数据信号端20，所述输出端连接至待测试终端例如显示模组30；

电压转换单元401，设于所述转接板40上且与电压输入端相连，用于将电压输入端接收到的外接电源电压转换为测试电压VDD以提供至待测试终端例如显示模组30；

信号转换单元(图中未示出)，设于所述转接板40上且与数据输入端相连，用于将数据输入端接收到的数据信号转换为例如显示画面信号；

反馈单元402，连接电压转换单元401，用于将测试电压VDD与参考电压Vref进行对比以提供反馈数据；

补偿单元403，连接反馈单元402以及转接板40，用于根据反馈数据生成补偿电压并施加至转接板40，以对测试电压VDD进行补偿。

其中，所述测试电压VDD是指终端测试时转接模块实际向待测试终端例如显示模组30的PCB提供的逻辑输入电压，而所述参考电压Vref是指终端测试时转接模块理论上应该向待测试终端例如显示模组30的PCB提供的逻辑输入电压。

需要说明的是：所述电压转换单元401、所述信号转换单元、所述反馈单元402、以及所述补偿单元403可以均设置在转接板40上，即该转接板40集成了电压转换、信号转换、数据反馈、以及数据补偿的功能；当然，所述反馈单元402和所述补偿单元403也可以独立于转接板40设置，这里不做具体限定。此外，由于本示例实施方式的核心在于电压的反馈补偿，因此涉及信号转换单元的部分未作详尽的说明，其可视为与现有技术相同。

本公开示例性实施方式所提供的测试用转接模块，在传统转接板功能的基础上增加了反馈补偿功能，通过将电压转换单元生成的测试电压VDD与参考电压Vref进行对比以得到一补偿电压，从而实现对测试电压VDD的补偿。这样一来，在终端测试过程中，可能出现例如显示画面切换而造成的终端负载变化，从而引起测试电压VDD的变化，而本公开利用反馈单元和补偿单元的功能对该测试电压VDD进行补偿，可在终端负载变化时例如不同显示画面下使该测试电压VDD保持为同一值，从而避免了手动调节外接电源电压，为终端产品的电学分析提供了便捷性。

由此可知，本示例实施方式提供的转接模块相当于一种电源辅助结构，其可以自动调节终端产品的逻辑输入电压，使其在不同终端负载下保持稳定。

本示例实施方式中，如图4和图5所示，所述反馈单元402可以包括：误差放大器，其第一输入端接收所述测试电压VDD、第二输入端接收所述参考电压Vref、输出端连接所述补偿单元403。这样一来，通过对比并放大测试电压VDD与参考电压Vref的差值，便可得到一精确的反馈数据，从而提高补偿电压的精度。

本示例实施方式中，针对所述测试电压VDD的补偿具体可以包括以下两种方式。

第一种方式：参考图2和图4所示，所述补偿单元403连接所述反馈单元402以及所述转接板40的电压输入端，用于将生成的所述补偿电压施加至所述电压输入端。

这种补偿方式是将补偿电压施加在转接板40的电压输入端的，那么补偿后的电压还需要经过转接板40上的走线以及器件，也就是说还会产生一定的压降。如此一来，只要反馈单元402接收到的测试电压VDD与参考电压Vref不一致，便会不断地进行对比反馈和电压补偿，直至测试电压VDD与参考电压Vref完全相等，方才完成终端负载变化时测试电压VDD的自动调节。本示例实施方式充分考虑了转接板40走线以及器件的阻抗造成的压降，因此电压的反馈补偿也是经过对转接板40走线以及器件的阻抗计算后得到的补偿值，从而抵消通过转接板40产生的压降。

第二种方式：参考图3和图5所示，所述补偿单元403连接所述反馈单元402以及所述转接板40的输出端，用于将生成的所述补偿电压施加至所述输出端。

这种补偿方式是将补偿电压施加在转接板40的输出端的，无需考虑转接板40走线以及器件的阻抗，补偿后的电压直接经过转接线输出至待测试终端例如显示模组30。

基于上述的第二种方式，考虑到简化转接板40的改造量，参考图2和图3所示，本示例实施方式优选将所述反馈单元402和所述补偿单元403的功能集成于电压反馈电路芯片400。这样一来，不仅可以减小对转接板40本身的结构改造，同时还可以利用现有的电路芯片来实现电压反馈补偿功能，为本公开的实施提供了便利的条件。

需要说明的是：利用电压反馈电路芯片400实现转接模块的反馈补偿功能时，在该电路芯片与转接板40的其它功能单元之间还需设置相应的外围连接电路，这里对于所述外围连接电路不做具体限定，以能够实现该电路芯片的反馈补偿功能为准。

下面结合图4所示的终端测试系统的等效电路图，以该终端测试系统为点屏测试系统为例，对本示例实施方式中的测试用转接模块进行具体的说明。

其中，V_in为转接板40电压输入端接收到的电压，RA为转接板40上的走线及器件的阻抗，RB为显示屏302及PCB301的阻抗，且该负载RB会随着终端负载变化即显示画面的切换而发生变化。

在点屏测试过程中，外接电源10向转接板40提供一电源电压，且该电源电压等于理论上应为显示模组30提供的逻辑输入电压，此时转接板40的电压输入端便接收到一电压V_in，经过转接板40上的电压转换单元401将该电压V_in转换为测试电压VDD以备输出。在此基础上，当切换显示画面时，显示屏端的负载RB会发生变化，则测试电压VDD也会随之变化，此时将测试电压VDD和参考电压Vref共接在误差放大器的正负端，且将参考电压Vref的大小设置为理论上应为显示模组30提供的逻辑输入电压，当测试电压VDD与参考电压Vref不一致时，通过误差放大器将二者的差值放大，并提供一反馈数据给补偿单元403，补偿单元403根据该反馈数据生成一补偿电压施加到转接板40的电压输入端上，经过不断的误差放大和反馈补偿，最终使得测试电压VDD与参考电压Vref相等，从而实现了显示画面切换时测试电压VDD的自动调节，保证了不同显示画面下向显示模组30提供的逻辑输入电压的一致性。

同理，参考图5所示，当补偿电压施加在转接板40的输出端时，测试电压VDD的转换、反馈数据的提供、以及补偿电压的生成均与上述过程一致，其区别仅在于补偿电压最终施加的节点位置，这里不再赘述。

本示例实施方式中，如图6所示，所述转接模块还可以包括：采样单元405，连接在所述电压转换单元401和所述电压反馈电路芯片400之间，用于对所述测试电压VDD进行采样并将采样信号输入至所述电压反馈电路芯片400。其中，所述采样单元405可以包括：第一分压电阻R1，其一端连接所述电压转换单元401、另一端连接所述电压反馈电路芯片400的反馈电压输入端；第二分压电阻R2，其一端连接所述第一分压电阻R1、另一端接地。

需要说明的是：图6是以转接板40搭载UC3842芯片为例进行说明的，且在转接板40搭载该UC3842芯片时还设置有外围电路。但本实施例还可以搭载其它型号的芯片，只要该芯片具有电路反馈补偿功能即可。

具体而言，UC3842芯片采用固定工作频率，脉冲宽度可控的调制方式。UC3842芯片内部基准电路可产生+5V的基准电压作为UC3842内部电源，经衰减得到+2.5V电压作为误差放大器的基准即参考电压Vref，接入误差放大器的正相输入端；电压转换单元401将转换后的测试电压VDD经分压电阻R1和R2分压后得到电压采样信号，并将该采样信号经过芯片内部的PWM(Pulse Width Modulation，脉冲宽度调制)控制器的电压反馈输入端(管脚2)接入误差放大器的负相输入端；当采样电压小于2.5V时，误差放大器的正相输入端和负相输入端之间的压差经过放大后生成补偿电压施加至转接板40的电压输入端，经过不断的反馈补偿使得测试电压VDD上升，并最终稳定在设定的电压值上。

需要说明的是：本实施例采用转接板40搭载电压反馈电路芯片的方式，是直接对转接板的输出端电压进行反馈调节，因此无需计算转接板40走线以及器件的阻抗。但正因如此，由于参考电压Vref是芯片内部的设定值，且电压采样的分压电阻也为固定值，因此得到的输出电压也只能对应一固定值，本实施例可将其设定为最常用的逻辑输入电压3.3V，其局限在于如果需要其它的逻辑电压输入值，便需手动更换分压电阻。

本示例实施方式还提供一种终端测试系统，参考图1所示，包括上述的测试用转接模块。示例的，所述终端测试系统可以为点屏测试系统。其中，所述测试用转接模块集成了电压转换、数据传输、以及测试电压的自动调节功能。

需要说明的是：所述终端测试系统的具体细节已经在对应的测试用转接模块中进行了详细的描述，这里不再赘述。

本示例实施方式还提供一种终端测试方法例如点屏测试方法，用于在终端负载变化时例如显示画面切换时提供稳定的测试电压；如图7所示，所述终端测试方法可以包括：

S1、接收外接电源电压并转换为测试电压VDD；

S2、将所述测试电压VDD与参考电压Vref进行对比以提供反馈数据；

具体而言，反馈单元402将所述测试电压VDD和所述参考电压Vref输入至误差放大器的正负端以进行对比，并根据对比结果得到一反馈数据输出至补偿单元403。

S3、根据所述反馈数据生成补偿电压以对所述测试电压进行补偿。

具体而言，补偿单元403根据所述反馈数据生成补偿电压，并施加至转接板40的电压输入端、或者施加至转接板40的输出端，以对所述测试电压VDD进行补偿。

本公开示例性实施方式所提供的终端测试方法，通过将电压转换单元生成的测试电压VDD与参考电压Vref进行对比以得到一补偿电压，从而实现对测试电压的补偿。这样一来，在终端测试过程中，可能出现例如显示画面的切换而造成的终端负载变化，从而引起测试电压的变化，而本公开利用反馈补偿功能对该测试电压VDD进行补偿，可在终端负载变化时例如不同显示画面下使该测试电压VDD保持为同一值，从而避免了手动调节外接电源电压，为终端产品的电学分析提供了便捷性。

应当注意，尽管在上文详细描述中提及了用于动作执行的设备的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本公开的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。

此外，尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤，但是，这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤，或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本公开实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、移动终端、或者网络设备等)执行根据本公开实施方式的方法。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由所附的权利要求指出。