电致发光显示设备的制作方法

本公开内容涉及电致发光显示设备及其显示缺陷处理方法。

背景技术：

1、电致发光显示设备基于发光层的材料而被分为无机发光显示设备和 电致发光显示设备。电致发光显示设备的每个子像素包括自发光的发光装 置，并且基于图像数据的灰度级利用数据电压对从发光装置发射的光量进 行控制以调节亮度。

2、当子像素随着驱动时间的流逝而退化时，可能由于子像素短路而出现 热斑缺陷。被识别为热斑的有缺陷的子像素使用户的可见度降低，从而降 低显示质量。

技术实现思路

1、为了克服现有技术的上述问题，本公开内容可以提供电致发光显示设 备，其对由子像素短路引起的热斑缺陷进行检测和补偿以提高显示质量。

2、此外，本公开内容可以提供一种电致发光显示设备，这使用于对由子 像素短路引起的热斑缺陷进行检测和补偿的电路单元最小化，从而降低制 造成本并增加产品的寿命和可靠性。

3、为了实现这些目的和其他优点并且根据本公开内容的目的，如本文所 体现和广泛描述的，一种电致发光显示设备，包括：像素，所述像素连接 至检测线；面板驱动电路，面板驱动电路，所述面板驱动电路被配置成在 检测间隔中截止驱动包括在像素中的驱动元件；参考电压生成电路，所述 参考电压生成电路被配置成在检测间隔之前向检测线提供检测参考电压， 在检测间隔中生成高于检测参考电压的第一比较器参考电压，并且在检测间隔中生成低于检测参考电压的第二比较器参考电压；比较器，所述比较 器被配置成在检测间隔的第一时序处将第一比较器参考电压与检测线的 电压进行比较以生成第一比较输出，以及在检测间隔的第二时序处将第二 比较器参考电压与检测线的电压进行比较以生成第二比较输出；以及逻辑 电路，所述逻辑电路被配置成基于在检测间隔中得到的第一比较输出和第 二比较输出确定所述像素是否出现缺陷。

4、在本公开内容的另一方面中，一种包括与检测线连接的像素的电致发 光显示设备的显示缺陷处理方法，所述显示缺陷处理方法包括：在检测间 隔中向像素提供具有导通电平的扫描信号和具有截止电平的检测数据电 压，以将包括在像素中的每个驱动元件截止驱动；顺序地生成第一参考电 压和第二参考电压，在检测间隔的第一时序处向检测线提供第一参考电 压，以及在检测间隔的第二时序处向检测线提供第二参考电压，第二参考电压低于第一参考电压且第二时序晚于第一时序；在第一时序处将第一比 较器参考电压与检测线的电压进行比较以生成第一比较输出，以及在第二 时序处将第二比较器参考电压与检测线的电压进行比较以生成第二比较 输出；以及基于第一比较输出和第二比较输出确定所述像素是否出现缺 陷。

5、在本公开内容的又一方面中，一种电致发光显示设备包括：像素；面 板驱动电路，面板驱动电路与像素连接并被配置成在检测间隔中向像素提 供具有导通电平的扫描信号和具有截止电平的检测数据电压；比较器，比 较器包括接收参考电压的第一输入端和与检测线连接的第二输入端，并且 被配置成在检测间隔的第一时序处和第二时序处分别生成第一比较输出 和第二比较输出；以及逻辑电路，逻辑电路基于第一比较输出和第二比较输出确定像素是否出现缺陷；其中，参考电压被设置为：在第一时序处高 于检测参考电压的第一比较器参考电压，并且在第二时序处低于检测参考 电压的第二比较器参考电压；并且检测参考电压为在检测间隔之前向检测 线提供的电压。

6、在本公开内容的又一方面中，一种电致发光显示设备，包括：像素， 像素连接至检测线；面板驱动电路，面板驱动电路被配置成在检测间隔中 截止驱动包括在像素中的驱动元件；参考电压生成电路，参考电压生成电 路被配置成在检测间隔之前的初始化间隔中向检测线提供检测参考电压； 动态逻辑电路，包括连接在第一电平电力和低于第一电平电力的第二电平 电力之间的第一输出节点和第二输出节点，动态逻辑电路被配置成通过第 一输出节点生成第一逻辑输出，并通过第二输出节点生成第二逻辑输出， 并且第一逻辑输出和第二逻辑输出基于在检测间隔中从检测参考电压偏 移的检测线的电压而被偏移；以及逻辑电路，逻辑电路被配置成基于在检 测间隔中得到的第一逻辑输出和第二逻辑输出来确定像素中是否出现缺 陷。

技术特征：

1.一种电致发光显示设备，包括：

2.根据权利要求1所述的电致发光显示设备，其中，所述逻辑电路还被配置成基于在所述检测间隔中得到的所述第一比较输出和所述第二比较输出的逻辑组合来确定所述像素是否出现所述缺陷。

3.根据权利要求1所述的电致发光显示设备，其中，所述比较器、所述逻辑电路和所述参考电压生成电路安装在控制印刷电路板上，并且

4.根据权利要求3所述的电致发光显示设备，其中，所述比较器包括：第一输入端，通过所述第一输入端输入所述第一比较器参考电压和所述第二比较器参考电压；第二输入端，通过所述第二输入端输入所述检测线的电压；以及输出端，在所述输出端中生成所述第一比较输出和所述第二比较输出，

5.根据权利要求3所述的电致发光显示设备，还包括：

6.根据权利要求1所述的电致发光显示设备，还包括多个源极驱动集成电路，其中，所述面板驱动电路的一部分安装在所述多个源极驱动集成电路上，

7.根据权利要求6所述的电致发光显示设备，其中，所述比较器包括：第一输入端，通过所述第一输入端输入所述第一比较器参考电压和所述第二比较器参考电压；第二输入端，通过所述第二输入端输入所述检测线的电压；以及输出端，在所述输出端中生成所述第一比较输出和所述第二比较输出，并且

8.根据权利要求6所述的电致发光显示设备，其中，所述多个源极驱动集成电路中的每一个还包括串行化电路，并且

9.根据权利要求1所述的电致发光显示设备，其中，所述像素包括共享所述检测线的多个子像素，并且

10.一种电致发光显示设备，包括：

11.一种电致发光显示设备，包括：

12.根据权利要求11所述的电致发光显示设备，其中，所述逻辑电路被配置成基于在所述检测间隔中得到的所述第一逻辑输出和所述第二逻辑输出的逻辑组合来确定所述像素中是否出现所述缺陷，并且

13.根据权利要求12所述的电致发光显示设备，其中，当在所述检测间隔中所述检测线的电压高于n型晶体管的阈值电压时，

14.根据权利要求12所述的电致发光显示设备，其中，当在所述检测间隔中所述检测线的电压低于p型晶体管的阈值电压时，

15.根据权利要求12所述的电致发光显示设备，其中，当在所述检测间隔中所述检测线的电压高于p型晶体管的阈值电压并且低于n型晶体管的阈电压时，

16.根据权利要求12所述的电致发光显示设备，其中，所述动态逻辑电路包括：

17.根据权利要求16所述的电致发光显示设备，其中，所述第一开关控制信号和所述第二开关控制信号具有相反的相位。

18.根据权利要求16所述的电致发光显示设备，其中，在所述预充电间隔中，所述第一开关控制信号保持低于p型晶体管的阈值电压的第一电压电平，并且所述第二开关控制信号保持高于n型晶体管的阈电压的第二电压电平，并且

19.根据权利要求11所述的电致发光显示设备，还包括多个源极驱动集成电路，其中，所述面板驱动电路的一部分安装在其上，并且

20.一种电致发光显示设备，包括：

技术总结
本公开内容涉及电致发光显示设备及电致发光显示设备的显示缺陷处理方法。在一个实施例中，电致发光显示设备包括：像素，连接至检测线；面板驱动电路，被配置成在检测间隔中截止驱动包括在像素中的驱动元件；参考电压生成电路，被配置成在检测间隔之前向检测线提供检测参考电压，在检测间隔中生成高于检测参考电压的第一比较器参考电压，并且在检测间隔中生成低于检测参考电压的第二比较器参考电压；比较器，被配置成在检测间隔的第一时序处将第一比较器参考电压与检测线的电压进行比较以生成第一比较输出，以及在检测间隔的第二时序处将第二比较器参考电压与检测线的电压进行比较以生成第二比较输出；以及逻辑电路，被配置成基于在检测间隔中得到的第一比较输出和第二比较输出确定所述像素是否出现缺陷。

技术研发人员：李昌祐,郑陈铉,金宣润,金泫郁
受保护的技术使用者：乐金显示有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12