通过掩盖色色阶来量化残影的方法、装置、电子设备与流程

本发明涉及显示屏残影测试，具体而言，涉及一种通过掩盖色色阶来量化残影的方法、装置、电子设备。

背景技术：

1、当显示屏在显示一个画面上停留较长时间，显示屏内液晶中的带电粒子会吸附在上下玻璃两端形成内建电场，画面切换之后，这些带电粒子在没有立刻释放出，使得液晶分子没有立刻转到相应的角度会产生残影现象，另外由于像素电极在设计阶段由于设计不良使得液晶分子在画面切换时也会因排列错乱而产生残影现象。

2、在显示屏行业中，残影测试是其中一项重要的测试项目。但是，由于残影测试的判定是由人眼来判定的，且一般通过对比判定为轻微、中等、严重。或者判定为level1～5的等级，但是此种判定标准主要有对比比较来判定的，若是不同尺寸的显示屏，其残影效果的评估往往比较难分高低。此外，如专利文献cn113176678a涉及的幕残影的测试方法，包括暗室中对屏幕进行mura检测，其检测手段复杂，不利于残影的量化检测。

3、本背景技术描述的内容仅为了便于了解本领域的相关技术，不视作对现有技术的承认。

技术实现思路

1、根据本发明公开的示例实施例，提供了一种通过掩盖色色阶来量化残影的方法、装置、电子设备。

2、在本发明公开的第一方面中，提供了一种通过掩盖色色阶来量化残影的方法，所述方法包括：

3、测试显示步骤，将显示屏模组点亮并显示第一测试画面，持续点亮并显示第一测试画面预定时间后，切换显示第二测试画面；其中，所述第二测试画面为白色色阶画面；

4、采集与对比步骤，切换显示第二测试画面的同时，启动光学测试仪采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值；将所述测试亮度值与标准亮度值对比；

5、掩盖色色阶确定步骤，若测试亮度值与标准亮度值的差小于预定阈值，则确定所述第二测试画面对应的白色色阶，确定为掩盖色色阶。

6、优选地，所述方法还包括标准确定步骤；所述标准确定步骤，包括：

7、根据显示屏模组点亮并显示第二测试画面，持续点亮并显示第二测试画面预定时间后，采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值，将此时的第二测试画面作为标准画面，对应的测试亮度值作为标准亮度值。

8、优选地，所述掩盖色色阶确定步骤中，若测试亮度值与标准亮度值的差不小于预定阈值，则增加第二测试画面的白色色阶，并更新所述第二测试画面；

9、根据第一测试画面、以及更新后的第二测试画面继续执行测试显示步骤、采集与对比步骤，直至测试亮度值与标准亮度值差小于预定阈值；并将所述测试亮度值对应的第二测试画面的白色色阶，确定为掩盖色色阶。

10、优选地，所述第一测试画面为黑白格方格画面；根据所述第一测试画面的黑白格方格画面将第二测试画面分割为对应的同样方格大小的方格画面；

11、所述切换显示第二测试画面的同时，启动光学测试仪采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值；将所述测试亮度值与标准亮度值对比，包括：

12、获取第二测试画面中每个方格中像素点对应的测试亮度值，并计算每个方格亮度均值，并生成第一亮度序列；

13、获取标准画面中位于同样位置方格的亮度均值，并生成第二亮度序列；

14、计算第一亮度序列、第二亮度序列的平方差之和，将所述平方差之和作为测试亮度值与标准亮度值的差。

15、优选地，所述方法还包括残影效果评价步骤；所述残影效果评价步骤，包括：

16、根据掩盖色色阶大小确定残影效果；其中，掩盖色色阶越大，所述显示屏模组的残影效果越差。

17、在本发明公开的第二方面中，提供了一种通过掩盖色色阶来量化残影的装置，所述装置包括测试显示模块、采集与对比模块、掩盖色色阶确定模块；其中：

18、测试显示模块，用于将显示屏模组点亮并显示第一测试画面，持续点亮并显示第一测试画面预定时间后，切换显示第二测试画面；其中，所述第二测试画面为白色色阶画面；

19、采集与对比模块，用于切换显示第二测试画面的同时，启动光学测试仪采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值；将所述测试亮度值与标准亮度值对比；

20、掩盖色色阶确定模块，用于若测试亮度值与标准亮度值的差小于预定阈值，则确定所述第二测试画面对应的白色色阶，确定为掩盖色色阶。

21、优选地，所述装置还包括标准确定模块；

22、所述标准确定模块，用于根据显示屏模组点亮并显示第二测试画面，持续点亮并显示第二测试画面预定时间后，采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值，将此时的第二测试画面作为标准画面，对应的测试亮度值作为标准亮度值。

23、优选地，所述掩盖色色阶确定模块，还用于若测试亮度值与标准亮度值的差不小于预定阈值，则增加第二测试画面的白色色阶，并更新所述第二测试画面；

24、根据第一测试画面、以及更新后的第二测试画面继续执行测试显示模块、采集与对比模块，直至测试亮度值与标准亮度值差小于预定阈值；并将所述测试亮度值对应的第二测试画面的白色色阶，确定为掩盖色色阶。

25、在本发明公开的第三方面中，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：一个或多个处理器，存储器，所述存储器用于存储一个或多个计算机程序；其特征在于，所述计算机程序被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行如上第一方面所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法步骤。

26、在本发明公开的第四方面中，提供了一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序；所述程序由处理器加载并执行以执行如上第一方面所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法步骤。

27、本发明通过将显示屏模组点亮并显示第一测试画面，持续点亮并显示第一测试画面预定时间后，切换显示第二测试画面；其中，第二测试画面为白色色阶画面；切换显示第二测试画面的同时，启动光学测试仪采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值；将测试亮度值与标准亮度值对比；若测试亮度值与标准亮度值的差小于预定阈值，则确定第二测试画面对应的白色色阶，确定为掩盖色色阶。相比于现有技术，通过掩盖色色阶来量化残影的方法，让残影的测试结果用数据来量化，便于后续的残影判定更加精准。

28、应当理解，
技术实现要素：
部分中所描述的内容并非旨在限定本发明公开的实施例的关键或重要特征，亦非用于限制本发明公开的范围。本发明公开的其它特征将通过以下的描述变得容易理解。

29、本发明实施例的可选特征和其他效果一部分在下文描述，一部分可通过阅读本文而明白。

技术特征：

1.一种通过掩盖色色阶来量化残影的方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法，其特征在于，所述方法还包括标准确定步骤；所述标准确定步骤，包括：

3.根据权利要求1或2所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法，其特征在于，所述掩盖色色阶确定步骤中，若测试亮度值与标准亮度值的差不小于预定阈值，则增加第二测试画面的白色色阶，并更新所述第二测试画面；

4.根据权利要求3所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法，其特征在于，所述第一测试画面为黑白格方格画面；根据所述第一测试画面的黑白格方格画面将第二测试画面分割为对应的同样方格大小的方格画面；

5.根据权利要求4所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法，其特征在于，所述方法还包括残影效果评价步骤；所述残影效果评价步骤，包括：

6.一种通过掩盖色色阶来量化残影的装置，其特征在于，所述装置包括测试显示模块、采集与对比模块、掩盖色色阶确定模块；其中：

7.根据权利要求6所述的通过掩盖色色阶来量化残影的装置，其特征在于，所述装置还包括标准确定模块；

8.根据权利要求6或7所述的通过掩盖色色阶来量化残影的装置，其特征在于，所述掩盖色色阶确定模块，还用于若测试亮度值与标准亮度值的差不小于预定阈值，则增加第二测试画面的白色色阶，并更新所述第二测试画面；

9.一种电子设备，所述电子设备包括：一个或多个处理器，存储器，所述存储器用于存储一个或多个计算机程序；其特征在于，所述计算机程序被配置成由所述一个或多个处理器执行，所述程序包括用于执行如权利要求1-5任一项所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法步骤。

10.一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序；所述程序由处理器加载并执行以实现如权利要求1-5任一项所述的通过掩盖色色阶来量化残影的方法步骤。

技术总结
本发明提供了一种通过掩盖色色阶来量化残影的方法、装置、电子设备。通过将显示屏模组点亮并显示第一测试画面，持续点亮并显示第一测试画面预定时间后，切换显示第二测试画面；其中，第二测试画面为白色色阶画面；切换显示第二测试画面的同时，启动光学测试仪采集显示屏模组显示的第二测试画面对应的测试亮度值；将测试亮度值与标准亮度值对比；若测试亮度值与标准亮度值的差小于预定阈值，则确定第二测试画面对应的白色色阶，确定为掩盖色色阶。相比于现有技术，通过掩盖色色阶来量化残影的方法，让残影的测试结果用数据来量化，便于后续的残影判定更加精准。

技术研发人员：杨磊,黄冬红,林伟迪
受保护的技术使用者：信利光电股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14