显示面板及其检测方法、显示装置与流程

本发明涉及显示，更具体地，涉及一种显示面板及其检测方法、显示装置。

背景技术：

1、随着科技的不断发展，有机发光二极管(oled，organic light-emittingdisplay)凭借其亮度高、驱动电压低、节能等优势得到了快速的发展。

2、通常，在有机发光二极管显示装置中，需要通过像素电路对发光元件(如oled)进行驱动控制。常用的像素电路包括驱动晶体管等多个晶体管，通过调整驱动晶体管生成的驱动电流，进而控制发光元件发光。子像素中器件是否存在缺陷直接影响发光元件的发光效果，从而影响显示面板的显示效果。

3、因此，提供一种能够实现对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，有利于提高产品质量和产品良率，是本领域技术人员亟待解决的技术问

技术实现思路

1、有鉴于此，本发明提供了一种显示面板及其检测方法、显示装置，可实现对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，有利于提高产品质量和产品良率。

2、本发明提供一种显示面板，包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个子像素包括至少一个待检测元件，至少一个待检测元件与至少一条第一检测线电连接；非显示区包括至少一个检测焊盘，第一检测线与检测焊盘电连接。

3、基于同一思想，本发明还提供了一种显示面板的检测方法，显示面板包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个子像素包括至少一个待检测元件，至少一个待检测元件与至少一条第一检测线电连接；非显示区包括至少一个检测焊盘，第一检测线与检测焊盘电连接；检测方法包括：根据检测焊盘的信号确定第一检测线上的电流信号；根据电流信号判断待检测元件所在子像素内器件是否存在缺陷。

4、基于同一思想，本发明还提供了一种显示装置，包括本发明提供的显示面板。

5、与现有技术相比，本发明提供的显示面板及其检测方法、显示装置，至少实现了如下的有益效果：

6、本发明提供的显示面板中，显示区内至少一个子像素包括至少一个待检测元件，待检测元件与第一检测线电连接，第一检测线与检测焊盘电连接，即检测焊盘作为测试端使用，子像素中待检测元件上的电流信号可通过第一检测线传输至检测焊盘，可根据检测焊盘的信号确定与其电连接的第一检测线上的电流信号，根据电流信号可判断与该第一检测线电连接的待检测元件所在子像素内器件是否存在缺陷，即可根据电流信号对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，从而后续可根据检测结果以排除不良品，避免不良品流出，影响产品良率。本实施例提供的显示面板检测结构简单，可直接测得显示区内子像素中器件是否有问题，有利于实现面板内部子像素中器件的检测，提高产品质量和产品良率，降低成本。

7、当然，实施本发明的任一产品不必特定需要同时达到以上所述的所有技术效果。

8、通过以下参照附图对本发明的示例性实施例的详细描述，本发明的其它特征及其优点将会变得清楚。

技术特征：

1.一种显示面板，其特征在于，包括显示区和围绕所述显示区的非显示区；

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

4.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，

5.根据权利要求3所述的显示面板，其特征在于，

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

7.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的显示面板，其特征在于，

9.根据权利要求6所述的显示面板，其特征在于，

10.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

11.根据权利要求10所述的显示面板，其特征在于，

12.根据权利要求11所述的显示面板，其特征在于，

13.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，

14.一种显示面板的检测方法，其特征在于，

15.根据权利要求14所述的显示面板的检测方法，其特征在于，

16.根据权利要求14所述的显示面板的检测方法，其特征在于，

17.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括权利要求1-13任一项所述的显示面板。

技术总结
本发明涉及显示技术领域，公开了一种显示面板及其检测方法、显示装置，显示面板包括显示区和围绕显示区的非显示区；显示区包括多个子像素和至少一条第一检测线，至少一个子像素包括至少一个待检测元件，至少一个待检测元件与至少一条第一检测线电连接；非显示区包括至少一个检测焊盘，第一检测线与检测焊盘电连接。本发明可实现对子像素中器件的工作特性及参数进行检测，有利于提高产品质量和产品良率。

技术研发人员：靳春明
受保护的技术使用者：武汉天马微电子有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14