电子装置检查方法与流程

本发明涉及可靠性得到提高的电子装置检查方法。

背景技术：

1、用于智能电话、电视机、监视器等的电子装置包括具备公共电极的显示层以及传感器层之类各种元件。为了确保所述元件的可靠性，需要在开发以及制造过程中对所述元件的工作特性以及所述元件之间的电连接关系进行检验的程序。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供可靠性得到提高的电子装置检查方法。

2、可以是，根据本发明的一实施例的电子装置检查方法包括：提供电子装置的步骤，所述电子装置包括显示层以及传感器层，所述显示层包括公共电极，所述传感器层配置于所述显示层之上且包括多个第一电极以及与所述多个第一电极分别绝缘交叉的多个第二电极；测定由所述多个第一电极的每一个和所述多个第二电极的每一个彼此形成的多个沟道的多个抖动(jitter)值的步骤；算出所述多个抖动值全部的平均值即第一值的步骤；将所述多个沟道中的由所述多个第二电极中的一个形成的沟道的抖动值相加而算出第二值的步骤；以及基于将所述第二值除以所述第一值的第三值来检查所述公共电极的步骤。

3、可以是，检查所述公共电极的步骤包括：若所述第三值大于预定的值，则将所述公共电极判断为次品的步骤。

4、可以是，检查所述公共电极的步骤还包括：若所述第三值小于所述预定的值，则将所述公共电极判断为良品的步骤。

5、可以是，所述预定的值是50。

6、可以是，所述多个抖动值的每一个具有1至25的值。

7、可以是，检查所述公共电极的步骤包括：判断所述公共电极的未成膜与否的步骤。

8、可以是，所述显示层还包括多个数据线。

9、可以是，所述电子装置检查方法还包括：向所述多个数据线提供白信号(whitesignal)。

10、可以是，提供所述白信号的步骤提供在提供所述电子装置的步骤和测定所述多个抖动值的步骤之间。

11、可以是，所述多个第一电极包括在第一方向上排列的多个感测图案以及连接所述多个感测图案中的彼此相邻的两个感测图案的至少一个连接图案，所述多个第二电极包括在与所述第一方向交叉的第二方向上排列的多个第一部分以及连接所述第一部分中的彼此相邻的两个第一部分的至少一个第二部分。

12、可以是，所述连接图案和所述第二部分配置于彼此不同的层。

13、可以是，测定所述多个抖动值的步骤包括：向所述多个第一电极提供检查信号的步骤；从所述多个第二电极感测互电容的步骤；以及基于所述互电容感测所述多个抖动值的步骤。

14、可以是，根据本发明的一实施例的电子装置检查方法包括：提供电子装置的步骤，所述电子装置包括显示层以及传感器层，所述显示层包括公共电极以及多个数据线，所述传感器层配置于所述显示层之上且包括多个第一电极以及与所述多个第一电极分别绝缘交叉的多个第二电极；测定由所述多个第一电极以及所述多个第二电极分别形成的多个沟道的多个抖动(jitter)值的步骤；基于所述多个抖动值算出第一值的步骤；将所述多个沟道中的由所述多个第二电极中的一个形成的沟道的抖动值相加而算出第二值的步骤；以及基于所述第一值以及所述第二值来判断所述公共电极的未成膜与否的步骤。

15、可以是，基于所述多个抖动值算出第一值的步骤包括：将所述多个抖动值全部的平均值算出为第一值的步骤。

16、可以是，判断所述公共电极的未成膜与否的步骤包括：算出将所述第二值除以所述第一值的第三值的步骤。

17、可以是，判断所述公共电极的未成膜与否的步骤还包括：若所述第三值大于预定的值，则判断为所述公共电极未成膜的步骤。

18、可以是，判断所述公共电极的未成膜与否的步骤还包括：若所述第三值小于预定的值，则判断为所述公共电极正常的步骤。

19、可以是，所述预定的值是50。

20、可以是，所述电子装置检查方法还包括：向所述多个数据线提供白信号(whitesignal)的步骤。

21、可以是，提供所述白信号的步骤提供于提供所述电子装置的步骤和测定所述多个抖动值的步骤之间。

22、根据上述内容，当在公共电极中产生未成膜次品时，在由多个第二电极中的特定第二电极与多个第一电极形成的沟道中测定的抖动值可以比在相邻的沟道中测定的抖动值上升。基于此，可以容易地判断公共电极的未成膜与否。因此，能够提供可靠性得到提高的电子装置检查方法。

技术特征：

1.一种电子装置检查方法，其中，包括：

2.根据权利要求1所述的电子装置检查方法，其中，

3.根据权利要求2所述的电子装置检查方法，其中，

4.根据权利要求3所述的电子装置检查方法，其中，

5.根据权利要求1所述的电子装置检查方法，其中，

6.根据权利要求1所述的电子装置检查方法，其中，

7.根据权利要求1所述的电子装置检查方法，其中，

8.根据权利要求7所述的电子装置检查方法，其中，

9.根据权利要求8所述的电子装置检查方法，其中，

10.根据权利要求1所述的电子装置检查方法，其中，

11.根据权利要求10所述的电子装置检查方法，其中，

12.根据权利要求1所述的电子装置检查方法，其中，

13.一种电子装置检查方法，其中，包括：

14.根据权利要求13所述的电子装置检查方法，其中，

15.根据权利要求13所述的电子装置检查方法，其中，

16.根据权利要求15所述的电子装置检查方法，其中，

17.根据权利要求16所述的电子装置检查方法，其中，

18.根据权利要求17所述的电子装置检查方法，其中，

19.根据权利要求13所述的电子装置检查方法，其中，

20.根据权利要求19所述的电子装置检查方法，其中，

技术总结
可以是，根据本发明的一实施例的电子装置检查方法包括：提供电子装置的步骤，所述电子装置包括显示层以及传感器层，所述显示层包括公共电极，所述传感器层配置于所述显示层之上且包括多个第一电极以及与所述多个第一电极分别绝缘交叉的多个第二电极；测定由所述多个第一电极的每一个和所述多个第二电极的每一个彼此形成的多个沟道的多个抖动(jitter)值的步骤；算出所述多个抖动值全部的平均值即第一值的步骤；将所述多个沟道中的由所述多个第二电极中的一个形成的沟道的抖动值相加而算出第二值的步骤；以及基于将所述第二值除以所述第一值的第三值来检查所述公共电极的步骤。

技术研发人员：朴珍佑,陸宝根,金兑俊,李昇录,李一浩
受保护的技术使用者：三星显示有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/8