Micro-LED显示面板中有源驱动阵列的测试电路的制作方法

本发明涉及集成电路，尤其涉及一种micro-led显示面板中有源驱动阵列的测试电路。

背景技术：

1、基于micro-led或micro-oled的微显示技术是指以自发光的微米量级的led或oled为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度led阵列的显示技术。由于微显示芯片尺寸小、集成度高和自发光等特点，在显示的亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面具有更大的优势。基于上述优势，基于微显示芯片的显示装置可以制造成微型且可便携的产品，这使得基于微显示芯片的显示装置可以应用于av或vr显示装置中。

2、如图1所示，现有技术中，micro-led显示面板一般是在底层用正常的cmos集成电路制造工艺制成，micro-led显示有源驱动阵列面板100，所述有源驱动阵列面板100上分布有阵列排布的多个有源驱动mos管单元101，然后再通过倒装工艺将led阵列单元面板200键合在所述有源驱动阵列面板100上（或者通过mocvd工艺在有源驱动阵列面板100上制作led阵列单元面板200），所述led阵列单元面板200分布有阵列排布的多个led发光单元201。从而实现了微型显示屏，也就是micro-led显示面板。

3、而目前针对微显示驱动背板cmos集成电路的良率测试，目前主流方法是只对外围功能性电路，如时序控制电路、数据校正电路、扫描电路等模块进行测试，无法对显示阵列驱动像素的良率进行测试。因此无法在发光器件制作之前判断驱动阵列晶圆的良率水平，造成在微显示器件模组制备完成之后发现不良的时候，无法分析具体失效原因。

4、由此可见，现有技术中需要一种新的针对于micro-led显示面板中的有源驱动阵列进行良率检测的检测电路及检测方法，以能够在micro-led显示面板的整体制造工艺中的中间环节处对有源驱动阵列进行良率检测，以提高最终的micro-led显示面板的良率。

技术实现思路

1、本发明所要实现的技术目的在于提供一种显示面板中有源驱动阵列的测试电路及测试方法，能够在micro-led显示面板的整体制造工艺中的中间环节处对有源驱动阵列进行良率检测，以提高最终的micro-led显示面板的良率。

2、基于上述技术目的，本发明提供一种micro-led显示面板中有源驱动阵列的测试电路，所述测试电路包括，由多个相同的开关元件所构成的有源驱动阵列，所述开关元件的第一端连接于驱动电源，所述开关元件的第二端用于连接led发光元件，所述开关元件的控制端连接于像素驱动单元，根据所述像素驱动单元输入的控制信号来控制开关元件是否处于导通状态，并在导通状态下将驱动电源从所述第一端传输到第二端；

3、每个所述开关元件的第二端均连接有一个测试控制单元，所述测试控制单元包括一个测试端和一个控制端，所有测试控制单元的测试端连接在一起形成公共测试端，且所有测试控制单元的控制端连接在一起形成公共控制端。

4、在一个实施例中，所述公共测试端连接有电流检测单元，以获知每个开关元件的电流状态。

5、在一个实施例中，所述测试控制单元由pmos开关管构成，所述pmos开关管的栅极为控制端，所述pmos开关管的第一端与所述开关元件的第二端连接，所述pmos开关管的第二端与公共测试端连接。

6、本发明的另一方面在于提供一种micro-led显示面板中有源驱动阵列的测试方法，所述测试方法用于在micro-led显示面板制造过程中对未安装led发光元件的有源驱动阵列进行测试，所述方法包括：

7、s100，通过公共控制端打开全部测试控制单元，并通过像素驱动单元输入零灰阶图像数据信号；

8、s101，测量公共检测端的有源驱动阵列的实际静态漏电流值i0，并确定短路状态开关元件数量m；

9、s102，判断短路状态开关元件的数量m是否超出预先设定的第一阈值；若超出第一阈值，则判断该有源驱动阵列不合格；

10、s103，若短路状态开关元件的数量m未超出第一阈值，则通过像素驱动单元逐个开关元件输入最高灰阶图像数据信号，且同时其他开关元件保持零灰阶图像数据信号输入；

11、s104，获取每个开关元件在输入最高灰阶图像数据信号时公共检测端的电流值i1；

12、s105，对比电流值i1和理论静态漏电流值i漏的大小关系；

13、s106，若电流值i1﹥电流值i漏，则说明该输入最高灰阶图像数据信号的开关元件状态正常；

14、s107，若电流值i1﹤电流值i漏，则说明该输入最高灰阶图像数据信号的开关元件为断路状态，则将出现断路的开关元件的数量n加1；

15、s108，全部开关元件的电流值i1判断完毕后，判断出现断路的开关元件的数量n是否超出第二阈值，若超出则认定该有源驱动阵列不合格。

16、在一个实施例中，当通过像素驱动单元输入零灰阶图像数据信号给每一个开关元件时，即使每个开关元件均处于关闭状态。

17、在一个实施例中，通过所述开关元件的设计参数获得有源驱动阵列的理论静态漏电流值i漏，并根据其与实际静态漏电流值i0的差值确定短路状态开关元件数量m。

18、与现有技术相比，本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点：

19、本发明中通过在micro-led显示面板的制造的中间环节中，增加了对有源驱动阵列的测试电路及实施对应于该测试电路的测试方法，可以在制造的中间环节对有源驱动阵列进行良率的检测，避免了在micro-led显示面板全部制造完成后，再进行检测时，若出现像素缺陷，无法确认是led发光元件产生缺陷还是有源驱动开关元件出现缺陷。

20、本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

技术特征：

1.一种micro-led显示面板中有源驱动阵列的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括，由多个相同的开关元件所构成的有源驱动阵列，所述开关元件的第一端连接于驱动电源，所述开关元件的第二端用于连接led发光元件，所述开关元件的控制端连接于像素驱动单元，根据所述像素驱动单元输入的控制信号来控制开关元件是否处于导通状态，并在导通状态下将驱动电源从所述第一端传输到第二端；

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述公共测试端连接有电流检测单元，以获知每个开关元件的电流状态。

3.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试控制单元由pmos开关管构成，所述pmos开关管的栅极为控制端，所述pmos开关管的第一端与所述开关元件的第二端连接，所述pmos开关管的第二端与公共测试端连接。

4.一种micro-led显示面板中有源驱动阵列的测试方法，其特征在于，所述测试方法用于在micro-led显示面板制造过程中对未安装led发光元件的有源驱动阵列进行测试，所述方法包括：

5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，当通过像素驱动单元输入零灰阶图像数据信号给每一个开关元件时，即使每个开关元件均处于关闭状态。

6.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，通过所述开关元件的设计参数获得有源驱动阵列的理论静态漏电流值i漏，并根据其与实际静态漏电流值i0的差值确定短路状态开关元件数量m。

7.一种micro-led显示面板，其特征在于，所述micro-led显示面板中包含如权利要求1-3之一所述的测试电路。

技术总结
本发明涉及集成电路技术领域，其公开了一种Micro‑LED显示面板中有源驱动阵列的测试电路，包括由多个相同的开关元件所构成的有源驱动阵列，每个所述开关元件的第二端均连接有一个测试控制单元，所述测试控制单元包括一个测试端和一个控制端，所有测试控制单元的测试端连接在一起形成公共测试端，且所有测试控制单元的控制端连接在一起形成公共控制端。本发明通过在Micro‑LED显示面板制造的中间环节中，增加了有源驱动阵列的测试电路及实施对应于该测试电路的测试方法，可以在制造的中间环节对有源驱动阵列进行良率的检测。

技术研发人员：黄苒,赵博华,孙雷
受保护的技术使用者：北京数字光芯集成电路设计有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/5/16