专利名称：生成质谱数据的方法和设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及使用质谱仪，例如TOF质谱仪，生成质谱数据的方法和设备。
背景技术：
飞行时间(TOF)质谱测定法是用于通过加速离子并测量离子到离子检测器的飞行时间来测量离子的质量/电荷比率的分析技术。在简单形式中，TOF质谱仪包括用于生成样品材料的离子的脉冲(或者脉冲串)的离子源和用于检测已经从离子源行进到离子检测器的离子的离子检测器。离子源产生的离子优选地具有例如预定的动能，因为它们已被加速到该动能，所以根据其质量/电荷比率而具有的不同的速度。因此，随着离子在离子源和离子检测器之间行进，具有不同质量/电荷比率的离子通过其不同的速度而被分离且由此被离子检测器在不同的时间检测到，这允许基于离子检测器的输出测量到它们各自的飞行时间。这样，代表样品材料的离子的质量/电荷比率的质谱数 据能够基于离子检测器的输出被获得到。通常称为“基质辅助激光解析电离(MALDI) ”的基质(matrix)辅助激光解吸/离子化是一种电离化技术，在该技术中，一般地激光器被用以将光发射到样品材料和吸收光的基质的(通常结晶化的)混合物上，以便离子化样品材料。用于MALDI的样品材料典型地包括诸如生物分子(biomolecule)(例如蛋白质)的分子、大的有机分子和/或聚合物。吸收光的基质一般被用以保护这种分子以免被来自激光器的光毁坏或者破坏。然后由此产生的离子被加速到高动能，通常约20keV，该离子通常具有数千个道尔顿的质量。一般的，构造成通过MALDI产生离子的离子源称为“MALDI离子源”。MALDI离子源典型地包括通过将光发射到样品材料和吸收光的基质的混合物上来离子化样品材料的激光器。MALDI通常与飞行时间质谱测定法结合来提供“MALDI T0F”质谱测定法，其中，一般地通过MALDI产生离子脉冲并且然后测量离子在越过通常约1-2米的距离上的飞行时间，从而能够确定离子的质量/电荷比率。在现代的TOF质谱仪例如MALDI TOF质谱仪中的离子飞行时间的测量通常要求多种多样的范围的高速数字电子设备和模拟电子设备。例如，可以使用高速计时电子设备，以使各个高压电脉冲与激光器的发射以及离子信号的获得精确地同步。此外，kV/μ s转换速率(slew-rate)的高压电脉冲可用以加快、门控以及引导激光器产生的离子化的分子。最后，高速多数位模数转换器可用以记录离子检测器的输出，从而能够确定离子的飞行时间并由此确定离子的质量/电荷比率。这种高速的数字和模拟电子设备典型地在TOF质谱仪的每个获得周期运行。直到近来，TOF质谱仪，例如MALDI TOF质谱仪，已经使用具有高达数十赫兹重复率(repetition rate)(能够发射光脉冲的速率)的气体激光器。更新近的TOF质谱仪已经使用能够实现高得多的重复率的固态激光器，例如IkHz或更高。本发明人已经发现固态激光器的高重复率与数字电子设备的增大的时钟速率在TOF质谱仪特别是在MALDI TOF质谱仪的设计中带来了新的问题。这些设计问题包括
-如何产生多个高精度的延迟(例如，具有微秒的持续时间以及亚纳秒的分辨率)；-如何稳定电子设备稳定的电源而不辐射大量的窄带电噪声，特别是对于高压脉冲；以及-如何降低噪声在这种MALDITOF质谱仪产生的质谱数据中的表现。根据上述考虑已经设计了本发明。
发明内容
总的来说，本发明涉及使用质谱仪生成质谱数据的方法，该方法通过从代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据中减去代表质谱仪中的噪声的噪声质谱数据来产生修改的代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。结果，修改的信号质谱数据优选地具有降低的噪声。因此，本发明的第一方面可提供使用具有离子源以及离子检测器的质谱仪生成质谱数据的方法，其中该方法包括在至少一个信号获得周期中，基于所述离子检测器的输出获得表示样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据，在所述至少一个信号获得周期中，通过所述离子检测器检测通过所述离子源产生的样品材料的离子；以及 从所述信号质谱数据减去代表所述质谱仪中的噪声的噪声质谱数据以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。由于此方法，修改的信号质谱数据优选地具有降低的噪声。特别地，修改的信号质谱数据能够具有与原获得的信号质谱数据相比较降低的系统噪声。优选地，该方法包括在至少一个噪声获得周期期间基于离子检测器的输出获得代表质谱仪中的噪声的噪声质谱数据。通过使用质谱仪获得噪声质谱数据，噪声质谱数据能够提供在信号质谱数据中的任意系统噪声的良好代表。然而，在一些实施方式中，该方法不包括获得噪声质谱数据，例如因为噪声质谱数据被在较早时间获得或者产生，例如在制造质谱仪时。例如，从信号质谱数据中减去的噪声质谱数据可以是或者可以基于预存储的噪声质谱数据，即在获得信号质谱数据之前储存(例如，储存在质谱仪的存储器中)的噪声质谱数据。预存储的噪声质谱数据可能例如是平均的噪声质谱数据，并且可能已经在获得信号质谱之前已被存储较长的时间(例如，大于一天)，例如在质谱仪的初期测试期间或者当构建质谱仪时。使用预存储的噪声质谱数据的优点在于不必在每一次获得信号质谱数据时获得噪声质谱数据。缺陷是预存储的噪声质谱数据可能不会像每一次获得信号质谱数据时获得噪声质谱数据那样提供在质谱仪中的系统噪声的良好代表，因为例如供电电压、温度及其他引起质谱仪中的噪声的物理和电子参数可以随时间而漂移。优选地，在至少一个噪声获得周期中，离子检测器不检测来自离子源的任意离子。这样，离子检测器在至少一个噪声获得周期中检测的任意信号将总体上代表质谱仪中的噪声。这种噪声可包括随机或者系统噪声，如以下更详细地说明的。将观察到，其中离子检测器不检测来自离子源的任意离子的噪声获得周期能够以至少两种不同的方式实现。作为第一示例，其中离子检测器不检测来自离子源的任意离子的噪声获得周期可以通过离子源在噪声获得周期中不产生任意样品材料的离子的噪声获得周期实现，不产生任意样品材料离子的原因例如在于用于离子化样品材料的激光器不发射。作为第二示例，离子检测器不检测来自离子源的任意离子的噪声获得周期可以通过离子源在噪声获得周期中产生样品材料的离子但是离子源产生的离子被阻止由离子检测器检测到的噪声采集周期实现，例如因为离子源产生的离子被阻止到达离子检测器例如使用偏转器和/或单透镜和/或离子栅(ion gate)。因此，在一些实施方式中，在至少一个噪声获得周期中，离子源不产生任何的样品材料的离子或者离子源产生样品材料的离子但是离子源产生的(样品材料)的离子被阻止由离子检测器检测到。优选地，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期像所述信号获得周期或每个信号获得周期一样可行，不同之处在于在至少一个噪声获得周期中，离子检测器不检测来自离子源的任意离子。这样，噪声质谱数据能够提供在信号质谱数据中的任意系统噪声的良好代表。为此，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期以及所述信号获得周期或每个信号获得周期优选地包括以下中的一个或多个产生一个或更多个高压脉冲(例如，±500V或者更大，±lkV或者更大)，例如在质谱仪的一个或更多个高压电源中；将一个或更多个高压脉冲(例如，±500V或者更大，±lkV或者更大)，例如从质谱仪的一个或更多个高压电源，供给到该质谱仪的一个或更多个部件(例如，离子栅、激光器)；以及操作质谱仪的一个或更多个马达。如以下详细说明的，这些处理能够引起质谱数据中的“模拟电子噪声”。类似的，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期以及所述信号获得周期或每个信号获得周期优选地包括基于离子检测器的输出操作用于生成质谱数据的电子设备。此电子设备可包括例如模拟输入段(section)，例如用于调节来自离子检测器的输出；模数转换器，例如用于将来自离子检测器的输出数字化(例如，如模拟输入段调节后)；以及一个或更多个存储器，例如用于存储质谱数据。如以下详细说明的，这些处理能够引起质谱数据中的“数字电子噪声”。
为简单起见，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期可以大致相同于所述信号获得周期或每个信号获得周期，不同之处在于在所述噪声获得周期或每个噪声获得周期中，或者离子源不用来产生任意的样品材料的离子或者离子源用来产生样品材料的离子但离子源产生的离子不被离子检测器检测。例如，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期可以大致相同于所述信号获得周期或每个信号获得周期，不同之处在于在所述噪声获得周期或每个噪声获得周期中，用于通过将光发射到样品材料以离子化样品材料的激光器不发射以离子化样品材料。作为另一示例，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期可以大致相同于所述信号获得周期或每个信号获得周期，不同之处在于离子源产生的样品材料的离子被阻止到达离子检测器，例如使用偏转器和/或单透镜和/或离子栅。优选地，离子检测器在特定时刻的输出代表离子检测器在该时刻检测的离子数量。例如，该输出可表示当离子通过和/或撞击离子检测器时感应的电荷或产生的电流，输出信号的幅度表示离子检测器检测的离子数量。质谱数据可采取能够表示样品材料的离子的质量/电荷比率的任意形式。在实践中，这可通过采取下述数据形式的质谱数据实现使代表离子检测器检测的离子数量的幅度与离子的飞行时间或者质量/电荷比率有关。优选地，离子的飞行时间(或者质量/电荷比率)在离散的飞行时间(或者质量/电荷比率)间隔或“箱(bin) ”内被组合在一起，每个飞行时间(或者质量/电荷比率)“箱”代表飞行时间(或者质量/电荷比率)的范围。因此，从信号质谱数据减去噪声质谱数据可包括使每个飞行时间(或者质量/电荷比率)“箱”的噪声质谱数据的幅度从相应“箱”的信号质谱数据被减去幅度。在本申请的上下文中，“从信号质谱数据减去噪声质谱数据”意图是指从信号质谱数据实际上消除(减去)噪声质谱数据或者从噪声质谱数据消除(减去)信号质谱数据的任何操作。换句话说，为本申请的目的，从噪声质谱数据减去信号质谱数据相当于从信号质谱数据减去噪声信号质谱数据。如果存在多个信号获得周期和多个噪声获得周期，则为了方便起见，优选地，在已经获得全部的噪声质谱数据和信号质谱数据后，噪声质谱数据被从信号质谱数据减去。替代地，在每个噪声获得周期期间获得的噪声质谱数据可从在各自的一个信号获得周期期间获得的信号质谱数据中被减去，以渐进地逐步建立修改的信号质谱数据。信号、噪声或者修改的信号质谱数据可绘制为示出了幅度针对飞行时间或者质量/电荷比率幅度的质谱，其中幅度代表给定飞行时间或者质量/电荷比率下由检测器检测的尚子数量。 优选地，基于多个信号获得周期期间离子检测器的输出获得信号质谱数据。换言之，在从信号质谱数据减去噪声质谱数据之前，可以在多个周期上获得信号质谱数据，在每个信号获得周期中，离子源产生有差别的样品材料的离子。这样，随机噪声在信号质谱数据中的比例能够降低。在多个信号获得周期中的每一个周期期间获得的质谱数据可例如被累积、做加法或平均化以提供信号质谱数据。优选地，基于多个噪声获得周期期间离子检测器的输出获得噪声质谱数据。换言之，在噪声质谱数据被从信号质谱数据减去之前，可在多个周期上获得噪声质谱数据。这样，随机噪声在噪声质谱数据中的比例能够降低。在多个噪声获得周期中的每一个周期期间获得的质谱数据可例如被累积、做加法或平均化以提供信号质谱数据。该方法可包括在多个段中获得噪声质谱数据，每个段的噪声质谱数据优选地代表在各自的质量/电荷比率范围上的质谱仪中的噪声，并且优选地基于至少一个各自的噪声获得周期期间的离子检测器的输出获得。在多个段中获得噪声质谱数据的优点在于能够降低(噪声)获得周期之间的时间，因为本发明人已经发现，在实践中，将代表在整个质量/电荷比率范围上的质谱仪中的噪声的噪声质谱数据(例如通过累积)存储到存储器中花费的时间要比首先产生噪声质谱数据花费的时间长，例如因为存储噪声质谱数据花费的时间比质谱仪中的离子的飞行时间长。因为系统噪声总体上并不会在获得周期之间明显变化，所以在多个段中获得噪声质谱数据能够起作用。如果在多个段中获得噪声质谱数据，噪声获得周期的数量可以比信号获得周期的数量大段的数量的倍数。这在使得噪声获得周期的“有效”数量等于信号获得周期的数量中是有用的。该方法可进一步包括从所述信号质谱数据减去多个段的噪声质谱数据，以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。这可以以下述方式实现组合多个段的噪声质谱数据以形成合成噪声质谱数据(代表在整个质量/电荷比率范围上质谱仪中的噪声)，然后从信号质谱数据减去合成的噪声质谱数据。替代地，多个段的噪声质谱数据可以分别地从信号质谱数据被减去以不组合各个段而产生修改的信号质谱数据。优选地，在质谱仪的连续的周期中执行多个信号获得周期和多个噪声获得周期，优选地连续的周期之间具有小的时间差，例如I秒或更小的连续的周期之间的时间差，更优选地为100毫秒或更小，更优选地为10毫秒或更小，更优选地为I毫秒或更小，更优选地为100微秒或更小。这样，噪声质谱数据能够具有非常类似于信号质谱数据中的噪声的特征，并且因此能够从信号质谱数据被减去以产生具有改进的信噪比的修改的信号质谱数据，例如供电电压、温度以及质谱仪内的其它物理和电子参数能够随时间漂移。然而，虽然已经发现小的时间差一般能够实现更好的信噪比，但也发现，更大的时间差，例如若干小时或者甚至若干天的时间差，能够实现可接受的信噪比。多个信号获得周期以及噪声获得周期可以任意的顺序执行。然而，优选地，多个信号获得周期与多个噪声获得周期交错，即，使得信号获得周期在噪声获得周期之间执行，反之亦然。这样，噪音质谱数据能够具有非常类似于信号质谱数据中的噪声的特征，因此能够被从信号质谱数据中减去以产生修改的具有改进的信噪比的信号质谱数据。然而，多个信号获得周期可与多个噪声获得周期分离地执行，即不交错。不考虑信号获得周期和噪声获得周期是否交错，多个信号和噪声获得周期被在质谱仪的连续周期内执行，优选地如上所述在连续周期之间具有小的时间差。为简单起见，信号获得周期的数目可等于噪声获得周期的数目。然而，在一些实施方式中，信号获得周期和噪声获得周期的数目可以不相等。例如，如果在段中来获得噪声质谱数据(例如，如上所述)，不相等的信号获得周期和噪声获得周期的数目可以是有用的。如果信号获得周期的数目不等于噪声获得周期的数目(或“有效”数目)，则信号质谱数据和/或噪声质谱数据可根据用以获得数据的获得周期的数目来缩放(scale)。以这种方法，从信号质谱数据减法的噪声的量能够对应于信号质谱数据中存在的实际噪声。
优选地，该方法包括在与用于分析信号质谱数据的处理单元连接的预处理单元中，从信号质谱数据减去噪声质谱数据。处理单元可以例如是计算机，其可以被用软件编程以分析来自TOF质谱仪的质谱数据。优选地，该方法包括将修改的信号质谱数据从预处理单元传递到处理单元，例如用于以后的处理单元分析。该方法可以包括在预处理单元中获得信号质谱数据和/或噪声质谱数据。该方法可以包括将信号质谱数据(例如通过累积)存储在预处理单元中的第一存储器中和/或将噪声质谱数据(例如通过累积)存储在预处理单元中的第二存储器中。通过使用这种预处理单元，可以在处理单元分析信号质谱数据之前产生修改的信号质谱数据。这能够提供花费在产生和分析修改的信号质谱数据上的明显减少的时间，因为处理单元不必既产生且分析修改的信号质谱数据。另外，通过使用预处理单元，需要传送到处理单元的数据明显更少，因为仅修改的质谱数据，而不是信号质谱数据和噪声质谱数据，需要被传送。另外，通过使用预处理单元，不必将处理单元构造为执行减法。虽然如上所述使用预处理单元是优选的，在一些实施方式中，可以在用于分析质谱数据的处理单元中从信号质谱数据减去噪声质谱数据以产生修改的信号质谱数据。本发明的第二方面涉及用于实施根据本发明的第一方面的方法的质谱仪。因此，本发明的第二方面可以提供一种质谱仪，其具有
用于生成样品材料的离子的离子源；用于检测由所述离子源产生的样品材料的离子的离子检测器；第一数据获得装置，所述第一数据获得装置用于在至少一个信号获得周期中，基于所述离子检测器的输出获得代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据，在所述至少一个信号获得周期中，通过所述离子检测器检测由所述离子源产生的样品材料的离子；以及减法装置，所述减法装置用于从由所述第一数据获得装置产生的信号质谱数据减去代表所述质谱仪中的噪声的噪声质谱数据，以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。该质谱仪可以构造成实施任何与第一方面有关的方法步骤，或者具有用于实施该方法步骤的装置。例如，质谱仪优选地具有第二数据获得装置，该第二数据获得装置用于在至少一个噪声获得周期期间基于离子检测器的输出获得代表质谱仪中的噪声的噪声质谱数据，例如，在该噪声获得周期中，离子检测器不检测任何来自离子源的离子。然而，第二数据获得装置在一些实施方式中可被省略， 例如减法装置被构造成从第一数据获得装置产生的信号质谱数据中减去预存储的噪声质谱数据。质谱仪可以包括用于存储该预存储噪声质谱数据的存储器。作为另一示例，质谱仪优选地构造成使得所述噪声获得周期或每个噪声获得周期以及所述信号获得周期或每个信号获得周期包括以下中的一个或更多个产生一个或更多个高压脉冲将一个或更多个高压脉冲供给到质谱仪的一个或更多个部件；以及操作质谱仪的一个或更多个马达。作为另一示例，质谱仪优选地构造成使得所述噪声获得周期或每个噪声获得周期以及所述信号获得周期或每个信号获得周期包括基于离子检测器的输出操作用于产生质谱数据的电子设备(所述电子设备优选地被包括在质谱仪中)。作为另一示例，为简单起见，质谱仪可被构造成使得所述噪声获得周期或每个噪声获得周期与所述信号获得周期或每个信号获得周期大致相同，不同之处在于在所述噪声获得周期或每个噪声获得周期中，离子源不用以产生任何的样品材料的离子或者离子源用以产生样品材料的离子但离子源产生的离子不被离子检测器检测。作为另一示例，质谱仪可以包括用于将信号、噪声或修改的信号质谱数据绘制为示出幅度针对飞行时间或质量/电荷比率的质谱，其中幅度代表规定飞行时间或质量/电荷比率下检测器检测的离子的数目。作为另一示例，质谱仪可被构造成使得在多个信号获得周期期间基于离子检测器的输出获得信号质谱数据和/或使得在多个噪声获得周期期间基于离子检测器的输出获得噪声质谱数据。作为另一示例，第二数据获得装置可用于在多个段中获得噪声质谱数据，每个段的噪声质谱数据优选地代表在各自的质量/电荷比率范围上的质谱仪中的噪声，并且优选地在至少一个各自的噪声获得周期期间基于离子检测器的输出获得。质谱仪可进一步包括如下装置该装置用于从信号质谱数据减去多个段的噪声质谱数据，以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。
作为另一示例，质谱仪可构造成使得在质谱仪的连续的周期中执行多个信号获得周期和多个噪声获得周期，优选地连续的周期之间具有小的时间差，例如I秒或更小的连续的周期之间的时间差，更优选地为100毫秒或更小，更优选地为10毫秒或更小，更优选地为I毫秒或更小，更优选地为100微秒或更小。作为另一示例，质谱仪可构造成使得多个信号获得周期与多个噪声获得周期交错。作为另一示例，质谱仪可构造成使得信号获得周期的数目等于噪声获得周期的数目。作为另一示例，质谱仪可以包括用于依照用以获得数据的获得周期的数目缩放信号质谱数据和/或噪声质谱数据的装置。作为另一示例，优选地，减所述法装置包括在预处理单元中，该预处理单元与用于分析信号质谱数据的处理单元连接。优选地，预处理单元包括数据传送装置，该数据传送装置用于将修改的质谱信号质谱数据传送到处理单元，例如用于以后的处理单元分折。优选地，预处理单元包括用于存储信号质谱数据的第一存储器和/或用于存储噪声质谱数据的第二存储器。作为另一示例，所述预处理单元可以包括所述第一数据获得装置和/或所述第二数据获得装置。在任意上述方面中，离子源可以包括用于通过将光发射到样品材料上而离子化样品材料的激光器。优选地，激光器用于通过将光脉冲发射到样品材料上而离子化样品材料。激光器优选地 产生紫外(UV)光。因此，上述的信号获得周期可以包括激光器将光脉冲发射在样品材料上以产生样品材料的离子。
在任意上述方面中，离子源可以是MALDI离子源。对于MALDI离子源，样品材料可以包括生物分子(例如，蛋白质)、有机分子和/或聚合物。样品材料可以被包括在样品材料和吸收光线的基质的(优选地结晶的)混合物中。吸收光线的基质可以例如包括DCTB (T-2- (3- (4-T- 丁基-苯基)~2~甲基一2-亚丙稀基)丙_■臆)、DHB (2，5- _■轻基苯甲酸)、SA(芥子酸)、DTL(1,8,9_ 二轻基蒽酌·(地蒽酌·)) (anthrecenetriol (dithranol))或 CHCA ( α -氰基-4-对轻基桂皮酸(hydroxycinnamic acid))。在任何上述方面中，离子源可以包括用于将离子源产生的离子加速到预定动能的加速装置。加速装置可以包括至少一个加速电极，用于产生电场以将离子源产生的离子加速到预定动能。上述方法可包括使用加速装置将(例如通过用于离子化样品材料的激光器产生的)离子加速到预定动能，例如对离子源产生的离子脉冲进行加速。在任何上述方面中离子源可以包括用于保持要被离子源离子化的样品材料的样品保持装置。样品保持装置可以包括试样板，用于以一个或更多个“试样斑(spot)”的形式保持样品材料。样品保持装置可以包括用于承载试样板的试样板载架。试样板优选地构造成从离子源去除而试样板载架可以不可移除地安装在离子源中。在任何上述方面中，离子源优选地包括外壳，例如用于容纳加速装置和/或样品保持装置。该外壳优选地构造成被排空，即构造成包含真空。在任何上述方面中，质谱仪可以包括用于选取要检测的离子的一个或更多个离子栅。
在任何上述方面中，质谱仪可以包括反射器。反射器是离子镜，其在使用中将离子脉冲中的离子在离子源的方向上反射回到离子检测器，离子检测器在离子已被反射后检测离子。使用反射器的一个优点在于，与使用线性离子检测器相比，反射器通常产生更高的质量分辨率(且因此产生更好的质量精度)，虽然通常会具有低的最大质量范围。在任何上述方面中，质谱仪可以包括其中布置有离子源和离子检测器的飞行管(flight tube)。其他部件，例如反射器，也可以布置在该飞行管中。飞行管优选地在质谱仪使用时被抽成真空。在任何上述方面中，质谱仪可以是TOF质谱仪。由此，例如，在每个获得周期中，离子源可以产生样品材料的离子脉冲(例如通过激光器将光脉冲发射到样品材料上)，以使离子检测器检测到样品材料的离子。TOF质谱仪可以是MALDI TOF质谱仪。本发明还包括所述方面和优选特征的任意组合，但这种组合明显不被允许或者明确要避免之处除外。附图简述这些提议的实施方式在以下参考附图论述，在图中
图1是示出在本发明的开发之前本发明人使用的TOF质谱仪构造的示意图。图2是示出“模拟电子噪声”的示例的质谱。图3是示出“数字电子噪声”的示例的质谱。图4是示出在本发明的开发之后本发明人使用的TOF质谱仪构造的示意图。图5-7图示了将多个“信号”获得周期与多个“噪声”获得周期交错的不同方式。图8图示了如何在段中获得噪声质谱数据。图9-11是图示了从质谱数据消除了 “模拟电子噪声”的质谱。图12-14是图示了从质谱数据消除了 “数字电子噪声”的质谱。
具体实施例方式图1是示出在本发明的开发之前本发明人使用的包括有质谱仪100的TOF质谱仪构造的示意图。图1所示的质 谱仪100具有用于产生样品材料的离子脉冲的离子源110和用于检测离子源110产生的样品材料的离子的离子检测器120。离子源110和离子检测器120位于抽成真空的飞行管130中。离子源110包括激光器112，激光器112用于通过将(优选地UV)光的脉冲发射到样品材料上以尚子化样品材料。在MALDI TOF质谱仅中，样品材料可以被包括在样品材料和吸收光线的基质的结晶混合物。激光器112在被从与其相关联的高压电源114供给高压脉冲(典型地为±lkV或更大)时发射光脉冲。在现代质谱仪中，激光器112可以是固态激光器，能够实现高的重复率，例如为IkHz或更大。因为TOF质谱测定法是一种脉冲技术，该技术中产生的是单个的脉冲的离子而不是连续流的离子，在使用中被供给高压脉冲的其他部件可位于飞行管130中。例如，用于选取要由离子检测器120检测的离子的离子栅140可以位于飞行管130中。离子栅140在被从与其相关联的高压电源144供给高压脉冲(典型地±500V，虽然能够用更大的电压)时，通过产生电场以使不希望的离子偏转背离离子检测器120的方向而选取要由离子检测器120检测的离子。离子栅可以例如包括交错的导线。当离子栅140打开或闭合时，高压电源144通常以非常高的速度切换，优选地以约IOns或更小的时间间隔。质谱仪100也可以反射器150。反射器150是离子镜，该离子镜将离子脉冲中的离子在离子源Iio的方向上反射回以由离子检测器120检测。质谱仪100还具有用于基于离子检测器120的输出产生质谱数据的电子设备，该电子设备优选地位于预处理单元160(或者“瞬态记录器”)中。用于产生质谱数据的电子设备包括模拟输入段162，用于调节离子检测器120的输出；模数转换器164，用于以高速率(典型地数字转换点之间小于I纳秒(ns))将离子检测器120的(如模拟输入段162调节的)输出数字化；和存储器166，用于在将·代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据被传送到诸如计算机的外部处理单元(未示出)之前存储信号质谱数据。预处理单元160还包括定时电子设备168，用于使质谱仪100的一个或更多个部件按照触发信号操作和/或用于使质谱仪(的例如模数转换器)产生的数据与触发信号同步。触发信号可以表明质谱仪内触发事件的发生，例如用于离子化样品材料的激光器的发射。使用中，质谱仪100执行一个或更多个信号获得周期，在该信号获得周期中，离子源Iio用以产生样品材料的离子脉冲以便使样品材料的离子随后由离子检测器120检测至IJ。优选地，在每个信号获得周期期间，离子脉冲由激光器112将光脉冲发射到样品材料上产生，其中离子化的样品材料被加速电极(未示出)加速到预定动能。离子检测器120的输出被输送到预处理单元160中的用于产生质谱数据的电子设备，预处理单元160调节并数字化所述输出，然后在一个或更多个信号获得周期期间基于被调节和数字化的输出信号将代表样品材料离子的质量/电荷比率的质谱数据存储在存储器166中。在一个或更多个获得周期中收集的质谱数据可以被绘制为质谱，该质谱示出幅度针对飞行时间或质量/电荷比率，其中幅度代表对于规定飞行时间或质量/电荷比率，由检测器检测的离子的数目。对于大体上所有质谱仪，例如图1中所示的质谱仪100，产生的质谱数据将通常包含除离子化的样品材料的信号之外的不需要的噪声。该噪声能够将其表现为质谱中的额外的峰和/或作为背景信号。理想地，在质谱数据中消除全部的噪声，从而使得信噪比最大化，并且甚至能够测量样品材料的最弱的信号。质谱仪产生的质谱数据中的噪声在本质上可以是随机的或系统的。根据定义，随机噪声在每次获得质谱数据时是不同的，因此，信噪比水平能够仅通过在多个获得周期上获得质谱数据而得以提高。在许多个获得周期上获得的质谱数据可例如被一起平均化。对于质谱仪，这是常规做法，并且质谱数据通常被获得或累积直到信噪比达到可接受的值或不再进一步提高为止。然而，仅通过获得更多的质谱数据或通过执行更多的获得周期，系统噪声不能降低为可接受的水平以获得期望的信噪比。TOF质谱仪产生的质谱数据中的系统噪声的两个主要来源可被称为“离子噪声”和“电子噪声”，并且将参考图1中所示的质谱仪100说明。“离子噪声”在质谱仪100内以被检测的额外的离子信号的形式产生。这种噪声可以是化学噪声或背景噪声，并且仅在激光器112发射时以及当样品材料离子化时产生，因而难以将该噪声从源自样品材料离子的真实信号区分开。“电子噪声”通常在电子电路中产生在离子检测器120和预处理单元160之间及在其内产生。电子噪声能够通过该电子噪声是在信号进入预处理单元160之前还是之后产生而被广泛地分类。在预处理单元160外部产生的噪声可称为“模拟电子噪声”，而在预处理单元160内部产生的噪声可称为“数字电子噪声”。“模拟电子噪声”可由模似电子电路引起，并且通常在检测器120的输出信号进入预处理单元160之前被添加到质谱数据。图2是示出“模拟电子噪声”的示例，该“模拟电子噪声”能够例如通过提供给离子栅140的高压脉冲产生，离子栅140被用以阻挡或取消不需要的离子到达离子检测器120。例如来自离子栅140的导线的电子噪声可在抽成真空的飞行管130内部被辐射，并且能够在离子栅140布置为过于接近离子检测器120或未被非常良好地遮挡时被拾取到离子检测器120的输出信号中。模拟电子噪声还可以经过用于高压电源的电源和引线被拾取，在使用中该高压电源供给高压脉冲，例如与离子栅140关联的高压电源144。模拟电子噪声在本质上为系统性的，但从一个获得周期到另一获得周期 将略微变化。由于通常不涉及预处理单元160的时钟，因此一般模拟电子噪声与获得周期之间的时间差之间无任何关系。模拟电子噪声还可以由操作质谱仪的一个或更多个马达引起。“数字电子噪声”可以由用于产生质谱数据的电子设备引起，该电子设备优选地位于预处理单元160中。该噪声可源于位于输入侧上的在模数转换器164之前的模似电子设备。数字电子噪声也可在预处理单元160的数字电子设备中产生。因此，与模拟电子噪声相比，数字噪声是更为系统性的，例如是规则的或周期性的。数字电子噪声通常具有与预处理单元160的时钟的二进制倍数(binary multiples)相关的特性。特别地，数字电子噪声的形状总是在预处理单元160的8、16、32和64个时间间隔后重复。图3是示出“数字电子噪声”的示例的质谱，其中能够清楚地看到与预处理单元160的时间间隔(“箱”)的二进制倍数相对应的重复(或周期性)结构。本发明人已经指出，与随机噪声不同，系统噪声不管其是在预处理单元外产生(模拟电子噪声)或是在预处理单元内产生(数字电子噪声)并不随因获得更多的质谱数据而平均化为零。因此，系统噪声可能表现为质谱中的额外峰，其能够与离子化的样品材料的峰混淆，或甚至遮蔽来自离子化样品材料的峰。最佳情况下，系统噪声降低信噪比。最坏情况下，系统噪声能够完全中断来自离子化的样品材料的信号的检测。在这两者中的每一个例子中，效果在于降低质谱仪的灵敏度。图4是示出在本发明的开发之后本发明人使用的包括有质谱仪200的TOF质谱仪构造的示意图。图4中所示的质谱仪200的多数特征与图1中所示的质谱仪100的特征相同。这些特征已被赋予相应的附图标记并且不必进一步详细论述。图4所示的质谱仪200和图1所示的质谱仪100之间的差异在于图4所示的质谱仪200的预处理单元260具有第二存储器267和减法单元270。使用中，质谱仪200执行一个或更多个信号获得周期，其中离子源210用以产生样品材料的离子的脉冲，以使来自该脉冲的离子随后由离子检测器220检测到。来自离子检测器220的输出被输送到预处理单元260，预处理单元260调节并数字化所述输出，然后在一个或更多个信号获得周期期间基于调节的且数字化的输出信号将代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据存储到第一存储器266中。这与图1中所示的质谱仪100的操作非常类似。使用中，质谱仪200还执行一个或更多个噪声获得周期，在该噪声获得周期中，离子检测器220不检测离子源210的任何离子。优选地，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期与所述信号获得周期或每个信号获得周期大致相同，不同之处在于在所述噪声获得周期或每个噪声获得周期中，激光器212不发射以离子化样品材料或离子源210产生的样品材料的离子被阻止到达离子检测器220，例如使用离子栅240。离子检测器220的输出信号被输送到预处理单元210，预处理单元210调节并数字化该输出信号，然后在一个或更多个噪声获得周期期间基于调节的且数字化的输出信号将代表质谱仪中的噪声的噪声质谱数据存储在第二存储器267中。接着，减法单元270从信号质谱数据减去噪声质谱数据以产生代表样品材料的离子的质量/电荷比率的、修改的信号质谱数据。以这种方法，与最初获得的信号质谱数据相t匕，修改的信号质谱数据能够具有下降的系统噪声。在每个获得周期中收集的修改的信号质谱数据可以被绘制为质谱，该质谱示出幅度针对飞行时间或幅度针对质量/电荷比率，其中幅度代表对于规定飞行时间或质量/电荷比率由检测器检测的离子的数目。随着获得更多的信号质谱数据和噪声质谱数据，系统噪声一般将被平均化为相同的值。因此，如果使用足够数量的噪声获得周期获得噪声质谱数据，噪声质谱数据将具有非常类似于信号质谱数据中的噪声的特性，因此能够被从信号质谱数据减去以产生具有改进的信噪比的修改的信`号质谱数据。噪声质谱数据的获得能够在相对于信号质谱数据的不同时间进行，或者其能够同时进行，例如通过使噪声获得周期与信号获得周期交错来进行，如以下将参考图5-7说明的。优选地，从信号质谱数据减去噪声质谱数据在预处理单元中执行，诸如图4中的质谱仪中所示的预处理单元260。然而，在其它实施方式中，该减法可以在用于分析质谱数据的处理单元诸如计算机中执行。例如，在一些实施方式中，图1所示的质谱仪可以构造成独立地获得信号质谱数据以及存储器166中的噪声质谱数据并且将所述数据传送到单独的处理单元，其也可以是用于分析质谱数据的处理单元，单独的处理单元构造成从信号质谱数据减去噪声质谱数据。虽然与现有质谱仪相比，独立地且在不同时间获得噪声质谱数据和信号质谱数据以及在单独的处理单元中从信号质谱数据中减去噪声质谱数据能够提供明显的性能提高，这样做存在一些缺陷。在还用于分析质谱数据的处理单元中对信号质谱数据和噪声质谱数据积累和做减法的第一个缺陷在于收集噪声质谱数据和信号质谱数据之间的时间越长，则信号质谱数据中的噪声与噪声质谱数据中的噪声特性相差越远。这是因为，例如供电电压、温度及其他物理和电子参数能够随时间漂移。另外，质谱仪中的设置能够在样品之间或在不同的工作模式之间变化，并且即使设置回用于原来光谱的值，噪声能够以略不同于收集信号质谱数据时的噪声的方式变化。理想地，噪声波谱和信号波谱将被同时获得。在实行中，这能够在质谱仪构造成在连续的获得周期执行信号获得周期和噪声获得周期完成，信号获得周期与噪声获得周期交错，所获得的信号质谱数据和噪声质谱数据被独立地存储，例如存储在图4中所示的分开的存储器266和270中。图5-7图示了将多个信号获得周期与多个噪声获得周期交错的不同方式。例如，信号获得周期和噪声获得周期能够如图5所示交替地执行。作为另一示例，如图6所示，多个噪声获得周期能够在信号获得周期之间执行，其中对于每个信号获得周期执行两个噪声获得周期。作为再一示例，信号获得周期和噪声获得周期能够如图7所示以小组执行，其中四个信号获得周期后执行四个噪声获得周期等等。在从信号质谱数据减去噪声质谱数据前，噪声质谱数据和/或信号质谱数据的幅度优选地根据各个获得周期的数目而缩放。在同样用于分析质谱数据的处理单元中对信号质谱数据和噪声质谱数据累积和做减法的第二缺陷在于执行噪声质谱数据的获得和减法花费的时间会明显地增加到执行实验的总时间。例如，当在计算机中执行时，对于合理的质量范围，传送和处理信号质谱数据以及噪声质谱数据能够花费若干秒。例如，数千个道尔顿(Daltons)的质量范围可以相当于多于lOOus，即100微秒，甚高分辩率的预处理单元以若干GHz的采样速率运行，这能够需要在计算机中的上百万的各个计算。另外，如果由预处理单元进行减法，仅存在一组质谱数据(修改的信号质 谱数据)要被传送到计算机并在计算机中处理。图8图示了如何在段中获得噪声质谱数据。在图8图示的示例中,在四个段(图8中标示为1、2、3和4)中来获得噪声质谱数据。在至少一个各自的噪声获得周期(在图8中标示为lb、2b、3b和4b)期间，每个段的噪声质谱数据基于离子检测器的输出在多个时间段(在图8中标示为la、2a、3a和4a)中的各自的一个上获得。多个时间段中的每一个对应于质谱仪中的离子的各自的飞行时间范围，因此所获得的每个段的噪声质谱数据代表质谱仪中在各自的质量/电荷比率范围上的噪声。在图8所示的示例中，通过在存储器(例如，诸如图4中所示的第二存储器267)中累积在每个噪声获得周期期间产生的成段的噪声质谱数据，成段的噪声质谱数据被组合以形成代表在整个质量/电荷比率范围上质谱仪中的噪声的复合噪声质谱数据。“有效”的噪声获得周期数目等于噪声获得周期的总数除以段数。在图8所示的示例中，通过在每个噪声获得周期期间不使激光器发射(并因此不产生任何的样品材料的离子)来实施噪声获得周期，但如上所说明的，噪声获得周期能够以其它方式实施，例如通过产生样品的材料离子但阻止那些离子被离子检测器检测到。在多个段中获得噪声质谱数据的优点在于能够降低(噪声)获得周期之间的时间，因为本发明人已经发现，在实践中，将代表在整个质量/电荷比率范围上的质谱仪中的噪声的噪声质谱数据(例如通过累积)存储到存储器中花费的时间要比早先产生噪声质谱数据花费的时间长，例如因为存储噪声质谱数据花费的时间比质谱仪中的离子的飞行时间长。在多个段中获得噪声质谱数据能够起作用，因为系统噪声总体上并不会在获得周期之间明显变化。
示例数据图9-11是图示了从质谱数据消除“模拟电子噪声”的质谱。该数据使用图1所示类型的质谱仪产生，其中计算机(图1未示出)构造成从信号质谱数据减去噪声质谱数据。图9是示出使用TOF质谱仪产生的信号质谱数据的质谱，该TOF质谱仪的激光器在100个信号采集周期中每一个中发射，以产生样品材料的离子的脉冲。在图9中所示的质谱中，能够看到主要的两组的峰A和B，其中已知峰A是由样品材料的离子产生的“离子”峰，峰B是由位于质谱仪的离子检测器附近的拾取高压脉冲(在数10纳秒的上升时间内具有若干千伏(Kv)的幅度)的电子装置产生的“噪声”峰。噪声峰B的幅度要高于离子峰A的幅度，并且还宽得多。这种峰可易于遮蔽具有相同飞行时间的真实离子峰。图10是示出用相同TOF质谱仪产生的噪声质谱数据的质谱，该TOF质谱仪的激光器并不在100个噪声获得周期中的每一个中发射。除激光器在100个噪声获得周期中的每一个中不发射使得不产生样品材料的离子之外，噪声获得周期与信号获得周期相同。在图10所示的质谱中,仅能够观察到噪声峰B。 图11是示出通过从信号质谱数据(图9中所示)减去噪声质谱数据(图10中所示)产生的修改的信号质谱数据的质谱。该减法通过将噪声质谱数据的每个飞行时间“箱”的为毫伏(mV)的幅度从信号质谱数据的相应的飞行时间“箱”中减去而实现。在图11中所示的质谱中，噪声峰B的幅度被减小约50的因子。任何具有与噪声峰B相同的飞行时间的离子信号现在将被清楚地看到。在总计100个获得中，噪声被平均化为非常近似相同的水平，以使在减去噪声后，在修改的信号质谱中仅余留低水平的残留噪声。图12-14是图示了从质谱数据消除了 “数字电子噪声”的质谱。图12示出了图示以与图9中相同的方法产生的信号质谱数据的质谱。然而，在图12中所示的信号质谱数据中，基准线(预处理单元的模数转换器的输入端处的DC水平)已被人为地升高，使得数字结构比通常情况更为明显。在图12所示的质谱中，存在峰X和峰Y两组强度不同的“离子”峰。组Y非常弱，并且在背影数字噪声之上仅仅是可见的。图13是示出以与图10相同的方法产生的噪声质谱数据的质谱。执行相同数目的信号获得周期和噪声获得周期以产生图12和13中的质谱。在图13所示的噪声质谱中，仅数字噪声可见。图14是示出通过从信号质谱数据(图12中所示)减去噪声质谱数据(图13中所示)产生的修改的信号质谱数据的质谱。在图14所示的质谱中，信噪比的改进是非常明显的。与图12所示的信号质谱相t匕，数字噪声背影被减小近似10倍，使得离子峰的各个同位素(isotope)比信号质谱中的更为明显。对于弱的离子峰Y，先前被噪声遮蔽的等同性是明显的。在图14所示的质谱中，减去数字电子噪声较之于现有的仪器的优点是非常明显的。在现有仪器中，预处理单元通常被调节，使得数字噪声在信号谱中不明显。这通过在预处理单元的输入端之前将小的负偏移施加到离子检测器的输出信号来实现，预处理单元进而仅测量正的信号水平。在上面给出的示例中，由噪声遮蔽的峰不能够被记录到并且将从数据中丢失。由此，基于上述示例，本发明能够提供近似10倍的灵敏度的改进。
当在本说明书和权利要求书中使用时，术语“包括”及其变形意味着指定的特征、步骤或者整体被包括。所述术语并不被阐释为排除其它特征、步骤或整体的存在。在上文说明书中、或在以下权利要求书中、或在附图中公开的特征被以它们的具体形式或者依据执行所公开的功能的装置、或用于实现所公开的结果的方法或过程，并且适当地可以独立地或以这种特征的任意组合被用以通过其多种形式实现本发明。虽然已经结合上述的示例性实施方式说明了本发明，但在给定本公开时，在不偏离所公开的宽泛构思的情况下，许多等同修改和变形对于本领域技术人员将是明显的。因此，许可专利的范围意图仅由所附权利要求，如参考说明书和附图所说明的，而不受本文描述的实施方式的局限性限制。例如，一些附图示出通过在每个噪声获得周期期间不触发激光器的发射(且因此不产生任何的样品材料离子)来执行噪声获得周期，但如上所述，噪声获得周期能够以其它方式执行，例如通过产 生样品材料的离子但阻止那些离子被离子检测器检测到。
权利要求
1.使用具有离子源和离子检测器的质谱仪生成质谱数据的方法，其中，所述方法包括: 在至少一个信号获得周期中，基于所述离子检测器的输出获得代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据，在所述至少一个信号获得周期中，通过所述离子检测器检测由所述离子源产生的样品材料的离子；以及 从所述信号质谱数据减去代表所述质谱仪中的噪声的噪声质谱数据以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括在至少一个噪声获得周期期间，基于所述离子检测器的输出获得代表所述质谱仪中的噪声的所述噪声质谱数据。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，在所述至少一个噪声获得周期中，所述离子检测器不检测来自所述离子源的任何离子。
4.根据权利要求2或者3所述的方法，其中，在所述至少一个噪声获得周期中，所述离子源不产生任何样品材料的离子，或者所述离子源产生样品材料的离子但是所述离子源产生的离子被阻止由所述离子检测器检测到。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其中，所述噪声获得周期或每个噪声获得周期和所述信号获得周期或每个信号获得周期包括以下中的一个或多个产生一个或更多个高压脉冲；将一个或更多个高压脉冲供给到所述质谱仪的一个或更多个部件；以及操作所述质谱仪的一个或更多个马达。
6.根据权利要求2至5中任一项所述的方法，其中所述噪声获得周期或每个噪声获得周期和所述信号获得周期或每个信号获得周期优选地包括基于所述离子检测器的输出操作用于生成质谱数据的电子设备。
7.根据权利要求2至6中任一项所述的方法，其中所述噪声获得周期或每个噪声获得周期与所述信号获得周期或每个信号获得周期大致相同，不同之处在于，在所述噪声获得周期或每个噪声获得周期中，所述离子源不用于产生任何样品材料的离子，或者所述离子源用来产生样品材料的离子但是由所述离子源产生的离子不被所述离子检测器检测。
8.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中从所述信号质谱数据减去的所述噪声质谱数据是预存储的噪声质谱数据或者是基于预存储的噪声质谱数据，所述预存储的噪声质谱数据在获得所述信号质谱数据之前被储存。
9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在多个所述信号获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得所述信号质谱数据，和/或在多个所述噪声获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得所述噪声质谱数据。
10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述方法包括在多个段中获得所述噪声质谱数据，每个段的噪声质谱数据代表在各自的质量/电荷比率范围上的所述质谱仪中的噪声并且在至少一个各自的噪声获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得。
11.根据权利要求9所述的方法，进一步包括从所述信号质谱数据减去所述多个段的噪声质谱数据，以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。
12.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中在所述质谱仪的连续的周期中执行多个信号获得周期和多个噪声获得周期，其中所述连续的周期之间的时间差为I秒或更小，更优选地为100毫秒或更小，更优选地为10毫秒或更小，更优选地为I毫秒或更小，更优选地为100微秒或更小。
13.根据前述权利要求中任一项所述的方法，多个信号获得周期与多个噪声获得周期交错。
14.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中，所述方法包括根据用以获得所述数据的获得周期的数量缩放所述信号质谱数据和/或所述噪声质谱数据。
15.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述方法包括在与用于分析信号质谱数据的处理单元连接的预处理单元中从所述信号质谱数据减去所述噪声质谱数据。
16.根据权利要求15所述的方法，其中所述方法包括在所述预处理单元中获得所述信号质谱数据和/或所述噪声质谱数据。
17.根据权利要求15或者16所述的方法，其中所述方法包括将所述信号质谱数据存储在所述预处理单元中的第一存储器中，以及将所述噪声质谱数据存储在所述预处理单元中的第二存储器中。
18.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述离子源包括激光器，所述激光器用于将光发射到样品材料以离子化所述样品材料。
19.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述离子源是MALDI离子源。
20.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其中所述质谱仪是TOF质谱仪。
21.一种质谱仪，具有 离子源，所述离子源用于生成样品材料的离子； 离子检测器，所述离子检测器用于检测由所述离子源产生的样品材料的离子； 第一数据获得装置，所述第一数据获得装置用于在至少一个信号获得周期中，基于所述离子检测器的输出获得代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据，在所述至少一个信号获得周期中，通过所述离子检测器检测由所述离子源产生的样品材料的离子；以及 减法装置，所述减法装置用于从由所述第一数据获得装置产生的信号质谱数据减去代表所述质谱仪中的噪声的噪声质谱数据，以产生修改的代表所述样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。
22.根据权利要求21所述的质谱仪，其中所述质谱仪具有第二数据获得装置，所述第二数据获得装置用于在至少一个噪声获得周期期间基于所述离子检测器的输出获得代表所述质谱仪中的噪声的所述噪声质谱数据。
全文摘要
本发明涉及通过从代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据减去代表质谱仪中的噪声的噪声质谱数据而用质谱仪生成质谱数据的方法和设备。这产生了修改的代表样品材料的离子的质量/电荷比率的信号质谱数据。该方法包括获得以及减去代表质谱仪中的噪声的噪声质谱数据或替代地减去来自预获得或者预存储的噪声质谱数据的噪声质谱数据。实施方式表明与原获得的信号质谱数据相比较降低的噪声以及特别地降低的系统噪声。
文档编号H01J49/40GK103053005SQ201180037793
公开日2013年4月17日 申请日期2011年7月28日 优先权日2010年8月2日
发明者安德鲁·鲍德勒 申请人:奎托斯分析有限公司