专利名称：冷轧带材x射线测厚仪的测量头下盖结构的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种冷轧及箔轧X射线测厚仪，是一种用于单热轧机和热连轧机上使用的X射线测厚仪的保护装置，特别是涉及一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构。
背景技术：
当今世界在单热轧机和热连轧机上已广泛使用X射线测厚仪，但由于生产现场环境恶劣，油污水雾众多，常常吸附于测量头窗口之上，如果不解决这种问题，测厚仪的测量精度就无法达到要求，面对如此恶劣的外部条件，必须有一个专用的装置来保证测量头窗口的干净，以保证测厚仪的正常工作和测量。有鉴于上述现有的X射线测厚仪存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，能够改进一般现有的X射线测厚仪，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的主要目的在于，克服现有的X射线测厚仪存在的缺陷，而提供一种新型结构的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，所要解决的技术问题是在C型架上臂测量头中增加了一套空气吹扫系统，将空气吹过测量头，通过测量头下盖的孔，将窗口膜表面的油污和水雾吹扫干净，保证窗口膜表面干净，从而保证测厚仪测量的精度，从而更加适于实用。本发明的另一目的在于，避免了人工擦拭，节约人力和时间。经过长期的考核运行证明整套系统是可靠的、可行的。本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其中该下盖主要包括出气孔、气路腔体、下盖固定孔、进气孔，出气孔均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室，测量头下盖设有一个进气孔，下盖固定孔将下盖固定在测量头的窗口上。本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。前述的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其中所述的下盖外周缘处设有八个出气孔。前述的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其中所述的进气孔(5)与下盖的中心轴线为45°本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。借由上述技术方案，本发明冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构可达到相当的技术进步性及实用性，并具有产业上的广泛利用价值，其至少具有下列优点:本发明装置产生的有益效果是:在C型架上臂测量头中增加了一套空气吹扫系统，通过这套系统，将空气吹过测量头，通过测量头下盖的八个孔，将窗口膜表面的油污和水雾吹扫干净，保证窗口膜表面干净，从而保证测厚仪测量的精度。本发明在生产过程中，用空气吹扫窗口表面，保证窗口的干净清洁，从而保证测厚仪测量的准确性和连续性，避免了人工擦拭，节约人力和时间。经过长期的考核运行，证明整套系统是可靠的、可行的。上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
图1为本发明冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构的外观示意图。图2为本发明冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构的内部结构示意图。图3为本发明冷 轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构的剖面侧视图。1:出气孔2:气路腔室3:窗口保护膜4:下盖固定孔 5:进气孔。
具体实施例方式为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其具体实施方式
、结构、特征及其功效，详细说明如后。本发明冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其设置于冷轧带材X射线测厚仪的上臂盖前侧的测量头窗口上。所述的测量头下盖将窗口保护膜3压盖于测量头的窗口上。该下盖主要包括出气孔1、气路腔体2、下盖固定孔4、进气孔5。出气孔2均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室2，所述的下盖设有八个出气孔1，测量头下盖设有一个进气孔5，下盖固定孔4将下盖固定在测量头的窗口上。进气孔5与外部的送风气管相连接。在C型架上臂引入一条气管到测量头下盖，外部接通气源，将气管插入测量头下盖的进气孔5中，并将窗口膜3固定好。外部气源接通之后，空气通过气管，从进气孔5中进入测量头，并吹过窗口保护膜表面，这样，窗口膜表面附着的油污和水雾都会被空气从测量头下盖的八个出气孔I中吹出，保证了窗口膜表面的干净清洁。只要外部气源不断，则源源不断的空气将会吹过窗口保护膜3的表面，一直保证窗口膜3表面的干净清洁。通过这样一个完整的系统，就可以在生产过程中，用空气吹扫窗口表面，保证窗口的干净清洁，从而保证测厚仪测量的准确性和连续性，避免了人工擦拭，节约人力和时间。经过长期的考核运行，证明整套系统是可靠的、可行的。所述的进气孔(5)与下盖的中心轴线以45为最佳。该测量头的下盖，主要是将窗口保护膜压盖在测量头的窗口上。在生产过程中，由于现场温度高，环境恶劣，轧机在生产时会产生大量的油污和水雾，而测厚仪由于紧靠着轧机，这种情况下，有很多的油污和水汽进入到测量头里面，附着于测量头窗口上，影响测厚仪的测量精度。要保证测量的准确性和连续性，就必须使测厚仪的测量头窗口保持干净清洁，若是仅仅依靠人工擦拭窗口是不现实的，也无法满足生产的要求，这就需要用更好更完善的方法来解决窗口附着油污和水雾的问题。而在此过程中，使用所述的测量头下盖结构，则可完美解决这个问题。本发明的测量头下盖装置所需的吹扫剂是空气。以上所述，是本发明的较佳实施例而已，非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
权利要求
1.一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其特征在于:该下盖主要包括出气孔(I)、气路腔体(2)、下盖固定孔(4)、进气孔(5)，出气孔(I)均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室(2)，测量头下盖设有一个进气孔(5)，下盖固定孔(4)将下盖固定在测量头的窗口上。
2.根据权利要求1所述的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其特征在于所述的下盖外周缘处设有八个出气孔(I)。
3.根据权利要求1所述的冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其特征在于所述的进气孔(5)与下盖的中心轴线为45°
全文摘要
本发明是有关于一种冷轧带材X射线测厚仪的测量头下盖结构，其下盖主要包括出气孔、气路腔体、下盖固定孔、进气孔，出气孔均匀地设置在下盖的外周缘处，该下盖为中空结构，形成气路腔室，测量头下盖设有一个进气孔，下盖固定孔将下盖固定在测量头的窗口上。该下盖外周缘处设有八个出气孔。在C型架上臂测量头中增加了一套空气吹扫系统，通过这套系统，将空气吹过测量头，通过测量头下盖的八个孔，将窗口膜表面的油污和水雾吹扫干净，保证窗口膜表面干净，从而保证测厚仪测量的精度。
文档编号B21B38/04GK103157673SQ20111040554
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月8日 优先权日2011年12月8日
发明者吉爱国 申请人:洛阳瑞清科技有限公司