一种用于芯片测试装置的负压式取片机构的制作方法

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体是一种用于芯片测试装置的负压式取片机构。

背景技术：

芯片的固有可靠性取决于产品的可靠性设计，因此，在芯片在生产出厂或者装上pcb板之前，就要通过相应的检测工序对芯片进行检测，以尽可能排除掉存在问题的芯片，防止产品失效，因此，芯片制造完成后的检测筛选是芯片使用前至关重要部分，通常的芯片的筛选项目可以包括高温存储、功率电老炼、温度循环、离心加速度、监控振动和冲击等检测。

而在芯片测试过程中需要用到取片设备以便于对芯片的移位和检测，现有的取片设备在使用时通常机械抓取，容易损伤芯片，影响后续测试，且机械抓取设备复杂、耗能大，因此，本领域技术人员提供了一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，包括底座，所述底座的上表面安装有顶板，且底座的上表面等间距均匀开设有安装槽，所述安装槽的底部安装有支持垫，且安装槽内固定安装有套管，所述套管内活动安装有贯穿顶板的吸嘴，所述吸嘴的中段位置处固定安装有限位板，所述套管上位于限位板与支持垫之间固定套设有弹簧，所述底座的上表面对称开设有活动孔，两个所述活动孔内部活动安装有活动杆，所述活动杆的上端贯穿顶板并安装有脱芯座，所述脱芯座与顶板之间通过紧固螺栓紧密连接。

作为本实用新型更进一步的方案：所述顶板的上表面四角位置处均安装有与底座螺纹连接的固定螺栓，所述底座的两侧均安装有安装螺栓。

作为本实用新型更进一步的方案：所述脱芯座的中部位置处开设有与活动杆适配的通槽,所述通槽的内径为4.03mm。

作为本实用新型更进一步的方案：所述底座的上表面位于安装槽的位置处开设有限位孔，所述限位孔内安装有滑杆，所述限位板的一侧开设有与滑杆适配的滑槽。

作为本实用新型更进一步的方案：所述吸嘴共四个，相邻的两个吸嘴之间的距离为32.00mm。

作为本实用新型更进一步的方案：所述支持垫固定套设在套管的外侧并与安装槽紧密连接，且支持垫的表面涂有一层防静电涂料。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型结构简单、设计新颖，通过吸嘴吸取芯片取缔传统的机械抓取，可以有效的避免对芯片造成机械损伤，此外通过弹簧、套管有利于缓冲吸嘴的压力，进一步防止芯片损伤，且通过活动杆、活动孔可以有效的卸下吸嘴上的芯片，提高设备的效率。

附图说明

图1为一种用于芯片测试装置的负压式取片机构的结构示意图；

图2为一种用于芯片测试装置的负压式取片机构的俯视图；

图3为一种用于芯片测试装置的负压式取片机构的侧视图。

图中：1、底座；2、顶板；3、安装槽；4、套管；5、弹簧；6、安装螺栓；7、吸嘴；8、限位板；9、固定螺栓；10、脱芯座；11、紧固螺栓；12、支持垫；13、通槽；14、活动杆；15、活动孔。

具体实施方式

请参阅图1～3，本实用新型实施例中，一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，包括底座1，底座1的上表面安装有顶板2，且底座1的上表面等间距均匀开设有安装槽3，安装槽3的底部安装有支持垫12，且安装槽3内固定安装有套管4，套管4内活动安装有贯穿顶板2的吸嘴7，吸嘴7的中段位置处固定安装有限位板8，套管4上位于限位板8与支持垫12之间固定套设有弹簧5，底座1的上表面对称开设有活动孔15，两个活动孔15内部活动安装有活动杆14，活动杆14的上端贯穿顶板2并安装有脱芯座10，脱芯座10与顶板2之间通过紧固螺栓11紧密连接，通过吸嘴7吸取芯片取缔传统的机械抓取，可以有效的避免对芯片造成机械损伤，此外通过弹簧5、套管4有利于缓冲吸嘴7的压力，进一步防止芯片损伤，且通过活动杆14在活动孔15内移动可以有效的卸下吸嘴7上的芯片，提高设备的效率。

在图1中，顶板2的上表面四角位置处均安装有与底座1螺纹连接的固定螺栓9，主要使得顶板2固定在底座1上表面，同样便于日后维护检修，底座1的两侧均安装有安装螺栓6，通过两个安装螺栓6将本实用新型固定在测试机上。

在图2中，脱芯座10的中部位置处开设有与活动杆14适配的通槽13,通槽13的内径为4.03mm，通槽13便于活动杆14活动，从而可以卸下吸嘴7上的芯片。

在图1中，底座1的上表面位于安装槽3的位置处开设有限位孔，限位孔内安装有滑杆，限位板8的一侧开设有与滑杆适配的滑槽，主要起到引导限位作用。

在图2中，吸嘴7共四个，相邻的两个吸嘴7之间的距离为32.00mm，四个吸嘴7配合可以抓取芯片，便于后续的测试。

在图1中，支持垫12固定套设在套管4的外侧并与安装槽3紧密连接，支持垫12主要起到支撑作用，且支持垫12的表面涂有一层防静电涂料，主要起到防静电作用。

本实用新型的工作原理是：通过两个安装螺栓6将本实用新型固定在测试机上，通过吸嘴7吸取芯片取缔传统的机械抓取，可以有效的避免对芯片造成机械损伤，此外通过弹簧5、套管4有利于缓冲吸嘴7的压力，进一步防止芯片损伤，且通过活动杆14在活动孔15内移动可以有效的卸下吸嘴7上的芯片，提高设备的效率。

以上所述的，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

技术特征：

1.一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，包括底座（1），其特征在于，所述底座（1）的上表面安装有顶板（2），且底座（1）的上表面等间距均匀开设有安装槽（3），所述安装槽（3）的底部安装有支持垫（12），且安装槽（3）内固定安装有套管（4），所述套管（4）内活动安装有贯穿顶板（2）的吸嘴（7），所述吸嘴（7）的中段位置处固定安装有限位板（8），所述套管（4）上位于限位板（8）与支持垫（12）之间固定套设有弹簧（5），所述底座（1）的上表面对称开设有活动孔（15），两个所述活动孔（15）内部活动安装有活动杆（14），所述活动杆（14）的上端贯穿顶板（2）并安装有脱芯座（10），所述脱芯座（10）与顶板（2）之间通过紧固螺栓（11）紧密连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，其特征在于，所述顶板（2）的上表面四角位置处均安装有与底座（1）螺纹连接的固定螺栓（9），所述底座（1）的两侧均安装有安装螺栓（6）。

3.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，其特征在于，所述脱芯座（10）的中部位置处开设有与活动杆（14）适配的通槽（13）,所述通槽（13）的内径为4.03mm。

4.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，其特征在于，所述底座（1）的上表面位于安装槽（3）的位置处开设有限位孔，所述限位孔内安装有滑杆，所述限位板（8）的一侧开设有与滑杆适配的滑槽。

5.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，其特征在于，所述吸嘴（7）共四个，相邻的两个吸嘴（7）之间的距离为32.00mm。

6.根据权利要求1所述的一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，其特征在于，所述支持垫（12）固定套设在套管（4）的外侧并与安装槽（3）紧密连接，且支持垫（12）的表面涂有一层防静电涂料。

技术总结
本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体是一种用于芯片测试装置的负压式取片机构，所述底座的上表面安装有顶板，且底座的上表面等间距均匀开设有安装槽，所述安装槽的底部安装有支持垫，且安装槽内固定安装有套管，所述套管内活动安装有贯穿顶板的吸嘴，所述吸嘴的中段位置处固定安装有限位板，所述套管上位于限位板与支持垫之间固定套设有弹簧，所述底座的上表面对称开设有活动孔。本实用新型结构简单、设计新颖，通过吸嘴吸取芯片取缔传统的机械抓取，可以有效的避免对芯片造成机械损伤，此外通过弹簧、套管有利于缓冲吸嘴的压力，进一步防止芯片损伤，且通过活动杆、活动孔可以有效的卸下吸嘴上的芯片，提高设备的效率。

技术研发人员：王战朋
受保护的技术使用者：苏州武乐川精密电子有限公司
技术研发日：2020.10.07
技术公布日：2021.05.25