一种二极管检测设备上的分选装置的制作方法

技术领域：

本发明涉及二极管的技术领域，更具体地说涉及一种二极管检测设备上的分选装置。

背景技术：
：

一般公知，二极管作为结构最简单的半导体器件在电子领域有着广泛的应用。二极管在生产完成出厂之前均需要通过性能检测；其检测在相应的检测设备上进行测试，现有的一些方形封装的二极管，其芯片封装在矩形的封装件内，引脚均分布在封装件的一侧，检测时通过探针之类的检测件对引脚进行接触实现测试；而在输送的槽轨中，其槽轨的二极管的引脚处于进行整理，其二极管有两种方向安置在槽轨内，这检测时需要对二极管分选，分成同一方向。

技术实现要素：
：

本发明的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种二极管检测设备上的分选装置，其能方便快捷的对二极管进行分选，实现二极管同一方向出料，从而为后续的测试作业带来便利。

为实现上述目的，本发明采用的技术方案如下：

一种二极管检测设备上的分选装置，包括分选槽道，分选槽道的中部固定连接有与分选槽道相垂直的进料槽道，进料槽道出口处的分选槽道上成型第一分选槽，第一分选槽分布在进料槽道出口的一侧，分选槽道上背离第一分选槽的一端成型有第二分选槽，第二分选槽和第一分选槽临近分选槽道中心的棱边上均成型有倾斜导向，分选槽道上临近第一分选槽的一端固定有气缸安装座，气缸安装座上固定有推料气缸，推料气缸的活塞杆穿过气缸安装座固定有推料板，推料板插接在分选槽道内。

所述分选槽道上临近第一分选槽的一端固定有挡块。

所述分选槽道的下端面上分别固定有与第一分选槽和第二分选槽相连通的左出料槽道和右出料槽道。

所述分选槽道上的进料槽道呈倾斜设置。

所述推料板临近进料槽道的一侧成型有限位挡板，限位挡板抵靠在进料槽道的内壁上。

所述的推料板上挡板的长度大于进料槽道的宽度。

本发明的有益效果在于：其能方便快捷的对二极管进行分选，实现二极管同一方向出料，从而为后续的测试作业带来便利。

附图说明：

图1为本发明立体的结构示意图；

图2为本发明俯视的结构示意图；

图3为图2中a-a处的剖视结构示意图。

图中：1、分选槽道；11、第一分选槽；12、第二分选槽；2、进料槽道；3、走出料槽道；4、右出料槽道；5、气缸安装座；6、推料气缸；7、推料板；71、限位挡板；8、挡块；a、倾斜导向。

具体实施方式：

实施例：见图1、2、3所示，一种二极管检测设备上的分选装置，包括分选槽道1，分选槽道1的中部固定连接有与分选槽道1相垂直的进料槽道2，进料槽道2出口处的分选槽道1上成型第一分选槽11，第一分选槽11分布在进料槽道2出口的一侧，分选槽道1上背离第一分选槽11的一端成型有第二分选槽12，第二分选槽12和第一分选槽11临近分选槽道1中心的棱边上均成型有倾斜导向a，分选槽道1上临近第一分选槽11的一端固定有气缸安装座5，气缸安装座5上固定有推料气缸6，推料气缸6的活塞杆穿过气缸安装座5固定有推料板7，推料板7插接在分选槽道1内。

所述分选槽道1上临近第一分选槽11的一端固定有挡块8。

所述分选槽道1的下端面上分别固定有与第一分选槽11和第二分选槽12相连通的左出料槽道3和右出料槽道4。

所述分选槽道1上的进料槽道2呈倾斜设置。

所述推料板7临近进料槽道2的一侧成型有限位挡板71，限位挡板71抵靠在进料槽道2的内壁上。

所述的推料板7上挡板71的长度大于进料槽道2的宽度。

工作原理：本发明为二极管检测设备上的分选装置，方形的二极管在进料槽道2内存在两种方形，即其引脚错落分布在进料槽道2的两侧，当进料槽道2内的二极管落到分选槽道1时；

当二极管的引脚分布在图3中分选槽道1的左侧，则其二极管封装部分位于第一分选槽11的上方，因为二极管封装部分的重量大于引脚的重量，从而在重力的影响下，二极管落到第一分选槽11内，通过右出料槽道4输出；

当二极管的引脚分布在图3中分选槽道1的右侧，则二极管的引脚位于第一分选槽11的上方，不会落入第一分选槽11，再通过相应的传感器(图中未画)检测到二极管的封装部分，驱使推料气缸6启动，通过推料板7将二极管推送至第二分选槽12，二极管落入第二分选槽12通过左出料槽道3输出；

从而分选了二极管的方向，实现二极管的输出方向一致。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种二极管检测设备上的分选装置，包括分选槽道，分选槽道的中部固定连接有与分选槽道相垂直的进料槽道，进料槽道出口处的分选槽道上成型第一分选槽，第一分选槽分布在进料槽道出口的一侧，分选槽道上背离第一分选槽的一端成型有第二分选槽，第二分选槽和第一分选槽临近分选槽道中心的棱边上均成型有倾斜导向a，分选槽道上临近第一分选槽的一端固定有气缸安装座，气缸安装座上固定有推料气缸，推料气缸的活塞杆穿过气缸安装座固定有推料板，推料板插接在分选槽道内。本发明能方便快捷的对二极管进行分选，实现二极管同一方向出料，从而为后续的测试作业带来便利。

技术研发人员：崔华生
受保护的技术使用者：东莞市柏尔电子科技有限公司
技术研发日：2017.04.26
技术公布日：2017.12.01