一种薄膜电阻自动检测系统的制作方法

本发明涉及薄膜电阻检测，具体为一种薄膜电阻自动检测系统。

背景技术：

1、目前贴片式薄膜电阻物料在经过镭切机精准调阻后，需要人工对镭切刀口及镭切区域进行检测,并将有缺陷物料准确剔除。此方法需要人工成本较大、效率低；由于存在主观因素及目标尺寸较小仅有10μm左右，漏检误检风险较大，稳定性欠缺；人工检测和剔除缺陷物料的过程中存在直接接触，会造成二次破坏，影响良率。

技术实现思路

1、本发明要解决的技术问题是提供一种薄膜电阻自动检测系统，通过非接触式方式提高对调阻后薄膜电阻检测的效率、准确度及稳定性。

2、本发明是通过以下技术方案来实现的。

3、本发明的一种薄膜电阻自动检测系统，包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；

4、图像采集模块，用于对物料的有效区域进行拍摄；

5、激光剔除模块，将算法检测到不合格的物料剔除；

6、上位机控制模块，用于控制各个工位之间协同配合；

7、算法检测模块，用于产品各项指标进行检测；

8、算法检测模块的检测原理为：首先通过算法确定剥离线位置，只将能形成封闭区域的剥离线定义有效区域，再对剥离线内的单颗料进行排序，再遍历分割每颗料的电极区域、r区域、一次刀线区域、二次刀线区域，各区域分割完成后，再对各个区域内进行对应的缺陷检测，最后将每颗料的检测结果汇总，发送至上位机控制模块。

9、进一步地，所述运动控制模块包括上料组件、下料组件、平台移动组件。

10、进一步地，所述图像采集模块包括相机，镜头，光源，以及图像采集卡。

11、进一步地，所述光源对物料进行补光，相机与镜头配合对物料整体以及局部各检测部位进行拍摄，图像采集卡将拍摄到的图像进行整合并保存。

12、进一步地，所述算法检测模块以物料图像中物料的定位点为基础，对物料进行区域检测，并不进行尺寸测量和缺陷检测。

13、进一步地，所述算法检测模块会将检测结果反馈至所述上位机控制模块，并由上位机控制模块发根据结果控制所述激光剔除模块作出对应执行动作。

14、进一步地，所述激光剔除模块对不合格物料进行激光穿透。

15、进一步地，所述激光剔除模块仅会对不合格物料进行穿透，不会损伤不合格物料附近的合格物料。

16、进一步地，所述上位机控制模块控制各个模块工位的信号交互、图像坐标与激光坐标的转换、拍照逻辑、运行界面、激光参数设置与校准。

17、本发明的有益效果：本发明能够实现对薄膜电阻的精准检测，并根据检测结果，对不合格的薄膜电阻进行打穿并剔除，通过非接触式方式，对人工无法检测检测出的薄膜电阻的微小瑕疵进行精确监测，同时设备通过图像对每个物料进行检测，不会出现漏检情况，并且通过算法能够快速得出检测结果，设备会自动对不合格的薄膜电阻进行穿透标记，替代了人工检测时，识别并手动贴标记的步骤，效率远高于人工检测，准确率高，且用户可以调整检测参数，使用方便快捷。

技术特征：

1.一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；

2.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述运动控制模块包括上料组件、下料组件、平台移动组件。

3.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述图像采集模块包括相机，镜头，光源，以及图像采集卡。

4.根据权利要求3所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述光源对物料进行补光，相机与镜头配合对物料整体以及局部各检测部位进行拍摄，图像采集卡将拍摄到的图像进行整合并保存。

5.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述算法检测模块以物料图像中物料的定位点为基础，对物料进行区域检测，并不进行尺寸测量和缺陷检测。

6.根据权利要求5所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述算法检测模块会将检测结果反馈至所述上位机控制模块，并由上位机控制模块根据结果控制所述激光剔除模块作出对应执行动作。

7.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述激光剔除模块对不合格物料进行激光穿透。

8.根据权利要求7所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述激光剔除模块仅会对不合格物料进行穿透，不会损伤不合格物料附近的合格物料。

9.根据权利要求1所述的一种薄膜电阻自动检测系统，其特征在于：所述上位机控制模块控制各个模块工位的信号交互、图像坐标与激光坐标的转权利要求书换、拍照逻辑、运行界面、激光参数设置与校准。

技术总结
本发明公开了一种薄膜电阻自动检测系统，包括运动控制模块，用于将物料运输至其他执行模块；图像采集模块，用于对物料的有效区域进行拍摄；激光剔除模块，将算法检测到不合格的物料剔除；上位机控制模块，用于控制各个工位之间协同配合；对人工无法检测检测出的薄膜电阻的微小瑕疵进行精确监测，同时设备通过图像对每个物料进行检测，不会出现漏检情况，并且通过算法能够快速得出检测结果，设备会自动对不合格的薄膜电阻进行穿透标记，替代了人工检测时，识别并手动贴标记的步骤，效率远高于人工检测，准确率高，且用户可以调整检测参数，使用方便快捷。

技术研发人员：杨万鹏,桂杰,张贺生,汪松炯
受保护的技术使用者：杭州思元智能科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15