一种光电半导体设备精密零部件的检测装置的制作方法

本技术涉及光电器件检测，尤其涉及一种光电半导体设备精密零部件的检测装置。

背景技术：

1、光敏电阻是一种常见的光电器件，光敏电阻具有无光环境阻值较高，随着光照强度增强阻值降低的特性，其中双针式光敏电阻是光敏电阻中的一个最常见的分支，在双针式光敏电阻出厂前需要对光敏电阻进行检测。

2、现有的双针式光敏电阻检测装置通常是人工进行检测，检测效率低，人工投入高，产品生产成本无法进一步降低。

技术实现思路

1、本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的双针式光敏电阻检测装置检测效率低的问题，而提出的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置。

2、为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

3、一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，包括依次平行设置的上料带、升降板、下料带和废料带，升降板下方设有一侧抵接上料带设置的传送带，所述传送带顶部靠近上料带的边缘处固定有等距设置的围板，围板俯视图呈门字形结构，升降板的下方设有与围板抵接的遮光板，围板的内部设有位于传送带顶部的透光孔，透光孔的下方设有光源；上料带顶部设有平行设置的进料板一和进料板二，进料板一和进料板二之间设有双针光敏电阻，进料板二的上方设有拨片；升降板的顶部设有检测盒。

4、优选的，所述进料板二包括均与进料板一平行设置的首端和末端，首端和末端之间设有弧形的过渡段，无序的双针光敏电阻经过过渡段后排列整齐。

5、优选的，所述上料带的上方设有竖直设置且安装于进料板二侧壁上的驱动电机，驱动电机的输出端固定有转筒，拨片竖直设置且固定于转筒侧壁上，转筒工作使拨片拨动双针光敏电阻。

6、优选的，所述升降板的两端底部均设有支柱，支柱的顶部嵌装有液压缸，液压缸的输出端固定于升降板的底部。

7、优选的，所述支柱的侧壁固定有横板，横板顶部固定有围框，光源位于围框内且固定于透光孔下方的横板顶部，围框顶部与上料带滑动连接，光源发出光亮经过透光孔照射在双针光敏电阻上。

8、优选的，所述检测盒底部设有贯穿升降板设置的固定柱，固定柱的两侧外弧壁均固定有碗状的导向管，双针光敏电阻顶部穿过导向管并延伸至检测盒内部，检测盒内部检测组件对双针光敏电阻进行检测。

9、优选的，所述传送带为板式金属传送带，上料带和传送带均由步进电机驱动，下料带和废料带靠近传送带的一侧均设有机械手，检测后合格产品由机械手转移至下料带上，不合格产品由机械手转移至废料带上。

10、本实用新型的有益效果为：

11、本装置结构设计合理，双针光敏电阻在上料带上朝向传送带移动，经过上料板一和上料板二后，驱动电机带动转筒和拨片转动，对双针光敏电阻姿态调整使其进入围板内，光源照射的光经过透光孔照射在双针光敏电阻上，液压缸带动升降板下移，检测盒对双针光敏电阻进行检测，减少人工投入，自动化程度高，提高了检测效率。

技术特征：

1.一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，包括依次平行设置的上料带(10)、升降板(40)、下料带和废料带，升降板(40)下方设有一侧抵接上料带(10)设置的传送带(20)，其特征在于：所述传送带(20)顶部靠近上料带(10)的边缘处固定有等距设置的围板(22)，围板(22)俯视图呈门字形结构，升降板(40)的下方设有与围板(22)抵接的遮光板(23)，围板(22)的内部设有位于传送带(20)顶部的透光孔(21)，透光孔(21)的下方设有光源(51)；

2.根据权利要求1所述的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，其特征在于：所述进料板二(11)包括均与进料板一平行设置的首端和末端，首端和末端之间设有弧形的过渡段。

3.根据权利要求2所述的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，其特征在于：所述上料带(10)的上方设有竖直设置且安装于进料板二(11)侧壁上的驱动电机，驱动电机的输出端固定有转筒(12)，拨片(13)竖直设置且固定于转筒(12)侧壁上。

4.根据权利要求1所述的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，其特征在于：所述升降板(40)的两端底部均设有支柱(41)，支柱(41)的顶部嵌装有液压缸(42)，液压缸(42)的输出端固定于升降板(40)的底部。

5.根据权利要求4所述的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，其特征在于：所述支柱(41)的侧壁固定有横板，横板顶部固定有围框(50)，光源(51)位于围框(50)内且固定于透光孔(21)下方的横板顶部，围框(50)顶部与上料带(10)滑动连接。

6.根据权利要求1所述的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，其特征在于：所述检测盒(60)底部设有贯穿升降板(40)设置的固定柱(61)，固定柱(61)的两侧外弧壁均固定有碗状的导向管(62)，双针光敏电阻(30)顶部穿过导向管(62)并延伸至检测盒(60)内部。

7.根据权利要求1所述的一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，其特征在于：所述传送带(20)为板式金属传送带，上料带(10)和传送带(20)均由步进电机驱动，下料带和废料带靠近传送带(20)的一侧均设有机械手。

技术总结
本技术属于光电器件检测领域，公开了一种光电半导体设备精密零部件的检测装置，用于解决现有双针式光敏电阻检测装置检测效率低的问题。其包括依次平行设置的上料带、升降板、下料带和废料带，升降板下方设有一侧抵接上料带设置的传送带，所述传送带顶部靠近上料带的边缘处固定有等距设置的围板，升降板的下方设有与围板抵接的遮光板，围板的内部设有位于传送带顶部的透光孔，透光孔的下方设有光源；上料带顶部设有平行设置的进料板一和进料板二，进料板一和进料板二之间设有双针光敏电阻，进料板二的上方设有拨片；升降板的顶部设有检测盒。本技术结构简单，设计合理，减少人工投入，提高了检测效率。

技术研发人员：沈呈科,范丹丹,沈爱菊
受保护的技术使用者：深圳市润成精密机械科技有限公司
技术研发日：20230704
技术公布日：2024/1/15