一种金属层厚度测量设备的制作方法

本申请涉及金属镀层厚度测量领域，尤其是一种金属层厚度测量设备。

背景技术：

1、金属镀层测厚仪是一种对材料表面保护、装饰形成的覆盖层进行厚度测量的仪器，测量的对象包括涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等。

2、进行测量的过程中，金属镀层测厚仪通常会放置在桌面上，由于金属镀层测厚仪上没有固定结构，在受到碰撞时，易发生掉落，造成金属镀层测厚仪损坏。因此，针对上述问题提出一种金属层厚度测量设备。

技术实现思路

1、在本实施例中提供一种金属层厚度测量设备用于解决现有技术中金属镀层测厚仪放在桌面上时，由于没有固定结构，易发生掉落的问题。

2、根据本申请的一个方面，提供了一种金属层厚度测量设备，包括支撑架、支撑板、升降结构、金属镀层测厚仪、卡接结构和固定结构，所述支撑架的底部设置有固定结构，所述支撑架的顶部外侧壁上固定连接支撑板，所述支撑板通过升降结构连接固定板一，所述固定板一的底部外侧壁上固定连接固定板二，所述固定板一的顶部固定连接金属镀层测厚仪，所述固定板二上设置有卡接结构。

3、进一步地，所述固定结构包括固定架、螺纹杆、转动板和卡接板，所述固定架固定连接在支撑架的底部外侧壁上，所述固定架上螺纹连接螺纹杆，所述螺纹杆的顶部固定连接卡接板，所述螺纹杆的底部固定连接转动板。

4、进一步地，所述升降结构包括电动推杆、连接板和滑动架，所述电动推杆的底部固定连接在支撑板的底部，所述电动推杆的顶部固定连接连接板，所述连接板的外侧壁上固定连接滑动架，所述滑动架滑动连接在支撑架上。

5、进一步地，所述固定板二上开设有两个滑动槽。

6、进一步地，所述卡接结构包括螺栓、卡接架和卡接垫，所述卡接架滑动连接在滑动槽内，所述卡接架的右侧内侧壁上固定连接卡接垫，所述卡接架的左侧侧壁上螺纹连接螺栓，所述螺栓的底部转动连接在两个滑动槽之间的支撑架的侧壁上。

7、进一步地，所述卡接垫采用橡胶进行制作。

8、通过本申请上述实施例，采用了升降结构、金属镀层测厚仪和固定结构，解决了金属镀层测厚仪放在桌面上时，由于没有固定结构，易发生掉落的问题，取得了便于将整个金属层厚度测量设备固定在桌面上和便于对物体上的金属镀层厚度进行测量的效果。

技术特征：

1.一种金属层厚度测量设备，其特征在于：包括支撑架(1)、支撑板(2)、升降结构(3)、金属镀层测厚仪(6)、卡接结构(7)和固定结构(8)，所述支撑架(1)的底部设置有固定结构(8)，所述支撑架(1)的顶部外侧壁上固定连接支撑板(2)，所述支撑板(2)通过升降结构(3)连接固定板一(4)，所述固定板一(4)的底部外侧壁上固定连接固定板二(5)，所述固定板一(4)的顶部固定连接金属镀层测厚仪(6)，所述固定板二(5)上设置有卡接结构(7)。

2.根据权利要求1所述的一种金属层厚度测量设备，其特征在于：所述固定结构(8)包括固定架(801)、螺纹杆(802)、转动板(803)和卡接板(804)，所述固定架(801)固定连接在支撑架(1)的底部外侧壁上，所述固定架(801)上螺纹连接螺纹杆(802)，所述螺纹杆(802)的顶部固定连接卡接板(804)，所述螺纹杆(802)的底部固定连接转动板(803)。

3.根据权利要求1所述的一种金属层厚度测量设备，其特征在于：所述升降结构(3)包括电动推杆(301)、连接板(302)和滑动架(303)，所述电动推杆(301)的底部固定连接在支撑板(2)的底部，所述电动推杆(301)的顶部固定连接连接板(302)，所述连接板(302)的外侧壁上固定连接滑动架(303)，所述滑动架(303)滑动连接在支撑架(1)上。

4.根据权利要求1所述的一种金属层厚度测量设备，其特征在于：所述固定板二(5)上开设有两个滑动槽(10)。

5.根据权利要求1所述的一种金属层厚度测量设备，其特征在于：所述卡接结构(7)包括螺栓(701)、卡接架(702)和卡接垫(703)，所述卡接架(702)滑动连接在滑动槽(10)内，所述卡接架(702)的右侧内侧壁上固定连接卡接垫(703)，所述卡接架(702)的左侧侧壁上螺纹连接螺栓(701)，所述螺栓(701)的底部转动连接在两个滑动槽(10)之间的支撑架(1)的侧壁上。

6.根据权利要求5所述的一种金属层厚度测量设备，其特征在于：所述卡接垫(703)采用橡胶进行制作。

技术总结
本申请公开了一种金属层厚度测量设备，包括支撑架、支撑板、升降结构、金属镀层测厚仪、卡接结构和固定结构，所述支撑架的底部设置有固定结构，所述支撑架的顶部外侧壁上固定连接支撑板，所述支撑板通过升降结构连接固定板一，所述固定板一的底部外侧壁上固定连接固定板二。本申请手动拧动转动板，转动板转动带动螺纹杆转动，螺纹杆转动带动卡接板向上移动，直至卡接板紧紧抵住桌面，便于将整个金属层厚度测量设备固定在桌面上，避免金属镀层测厚仪易掉落，本申请电动推杆伸长推动滑动架下降，滑动架带动金属镀层测厚仪下降，直至探头抵在物体的顶部，便于对物体上的金属镀层厚度进行测量。

技术研发人员：彭海
受保护的技术使用者：无锡元核芯微电子有限责任公司
技术研发日：20221027
技术公布日：2024/1/12