专利名称：一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置。
(2)背景技术在表面贴装工艺控制过程中，需要对高速贴片机的工程能力参数CP(Capability of Process)进行定期测量以保证贴片机在标准使用条件下的综合制造能力。测量CP参数的关键是测量标准元件在标准基板上的中心坐标偏差X、Y和角度偏差Q。
在表面贴装行业，现有测量元器件中心坐标和角度偏差的设备主要是自动光学检查机(AOI)，此设备内部结构包括XY伺服轴以及CCD(电荷耦合器)相机。一般CCD相机视场较小，若要对标准基板上多达几百上千个标准元件进行测量，必须以伺服电机驱动CCD相机或载物平台往复移动，逐次照相，由于坐标基准唯一，必须要有很高的机械传动精度才能获得准确的测量结果。
(3)实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置，利用标准基板上自带的定位校验基准修正透射扫描仪的基准定位误差。
本实用新型所提供的一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置，其特点是，它包括托架、标准基板、计算机、以及计算机相连的透射扫描仪，其中标准基板放置在托架上；托架通过滑轨与透射扫描仪作可平移连接，且当托架和其上的标准基板平移至透射扫描仪内时，透射扫描仪的照明光源和图像接收器分列在托架和标准基板两侧。
上述的高速贴片机工程能力参数自动测量装置，其中，标准基板采用光学平板玻璃，且在平板玻璃的四角各设有作为放置标准元件的基准的标记，中间纵横排布着作为标准元件的位置测量基准的透明规则图案，且在每个规则图案，即位置测量基准的中心设有作为其定位精度的校验基准的标记。
采用了上述的技术解决方案，即利用透射成像系统获取标准元件在标准基板上的位置图像、自动测量中心坐标和角度偏移、计算工程能力参数，使得本实用新型与现有的测量设备相比，具有1)图像获取装置采用透射扫描仪，故成本较低；2)借助高精度标准基板，就近获得测量基准，测量精度主要取决于基板标尺精度，降低了仪器本身的机械精度和传动系统累积误差对测量结果的影响；3)采用透射光成像方式，提高图像清晰度和对比度。
(4)
图1是本实用新型结构示意图；图2是本实用新型中的透射扫描仪结构示意图；图3是本实用新型标准元的中心坐标和角度偏移示意图；图4是本实用新型中标准基板的示意图。
(5)具体实施方式
如图1所示，本实用新型是一种专门用于高速贴片机的工程能力参数自动测量装置，它包括托架1、标准基板2、计算机4、以及计算机相连的透射扫描仪3。标准基板2放置在托架1上，并且可以从托架1上分离。托架1通过滑轨与透射扫描仪3作可平移连接，推动托架1可以把标准基板2送入透射扫描仪3，此时，如附图2所示，透射扫描仪的照明光源6和图像接收器7分列在托架1和标准基板2两侧，步进电机8驱动照明光源6和图像接收器7扫描获取标准元件5在标准基板2的位置图像，图像数据通过传输线9输入个人电脑4，如附图3所示，测量标准元件中心坐标偏移X、Y和角度偏移Q，计算工程能力参数CP。
本实用新型实施例采用的标准基板2，如附图4所示，标准基板2材质为线膨胀系数很小的光学平板玻璃，金属镀膜(黑色不透明部分)形成几何图形，平板玻璃四角各有一圆形标记作为标准元件5的放置基准10，中间纵横排布的透明矩形图案相对放置基准10有很高的位置精度，此透明矩形图案作为标准元件5的位置测量基准11，每个位置测量基准11中心的圆形标记有很高的位置精度，作为位置测量基准11的定位精度校验基准12。
本实用新型实施例采用的透射扫描仪3是MICROTEK公司出品的SCANMAKER8700，最高分辨率9600dpi，冷阴极灯管，线性CCD，SCSI-II数据接口。本实用新型实施例采用的个人电脑4为IBM PC，CPU为Pentium III450MHZ，128M内存，40G硬盘。
权利要求1.一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置，其特征在于，它包括托架(1)、标准基板(2)、计算机(4)、以及计算机相连的透射扫描仪(3)，其中标准基板(2)放置在托架(1)上；托架(1)通过滑轨与透射扫描仪(3)作可平移连接，且当托架(1)和其上的标准基板(2)平移至透射扫描仪(3)内时，透射射扫描仪的照明光源(6)和图像接收器(7)分列在托架(1)和标准基板(2)两侧。
2.根据权利要求1所述的一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置，其特征在于，所述的标准基板(2)采用光学平板玻璃，且在平板玻璃的四角各设有作为放置标准元件(5)的基准(10)的标记，中间纵横排布着作为标准元件(5)的位置测量基准(11)的透明规则图案，且在每个规则图案，即位置测量基准(11)的中心设有作为其定位精度的校验基准(12)的标记。
专利摘要一种高速贴片机工程能力参数自动测量装置，包括托架、标准基板、计算机、以及计算机相连的透射扫描仪，其中标准基板放置在托架上；托架通过滑轨与透射扫描仪作可平移连接，且当托架和其上的标准基板平移至透射扫描仪内时，透射扫描仪的照明光源和图像接收器分列在托架和标准基板两侧。本实用新型利用透射成像系统获取标准元件在标准基板上的位置图像、自动测量中心坐标和角度偏移、计算工程能力参数，具有1)图像获取装置采用透射扫描仪，故成本较低；2)借助高精度标准基板，就近获得测量基准，测量精度主要取决于基板标尺精度，降低了仪器本身的机械精度和传动系统累积误差对测量结果的影响；3)采用透射光成像方式，提高图像清晰度和对比度。
文档编号G01D21/00GK2577250SQ02261448
公开日2003年10月1日 申请日期2002年11月11日 优先权日2002年11月11日
发明者曾秉斌 申请人:曾秉斌