专利名称：自动测试系统的制作方法
技术领域：
本发明是有关于一种测试系统，特别是提出一种能完成自动化测试电源供应器的测试系统。
背景技术：
在现行的测试过程中，要测试一台电源供应器时，要先将该待测的电源供应器与测试电源线连接好后，再输入交流电，并用目视法判断输出电压以判断测试结果，每组待测的电源供应器的输出电压都要检查过电压保护功能、过电流保护功能及短路保护功能，因其测试方法为人工测试，所以在做某一项测试时需一个一个按键进行测试，并同时观察待测的电源供应器所有的输出电压，以判断测试结果，而在进行每一项测试时，需重新启动该待测的电源供应器，这样反复循环按某些按键进行测试，直到所有的测试项目测试完毕。此种以人工进行测试的方式，有一定的误测率存在，因而影响了测试的精确度，且使用这种测试方式所需的测试时间也较长，并且测试方法也较繁琐，需要反复循环按某些按键。
发明内容
有鉴于此，本发明的主要目的在于提出一种测试系统，其使用自动化的方式完成电源供应器的测试，以灭少误测率，进而提高测试精确度，且因其不需要繁琐的按键工作，因此能灭少测试时间，进而提高生产效率。
本发明提供一种自动测试系统，其包括取样转换装置、微处理器、可程序化输入装置控制电路、解析驱动电路以及可程序化显示装置控制电路。取样转换装置用以撷取待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号，其包括取样装置以及数字模拟转换器，取样装置用以撷取待测装置的复数电性参数，数字模拟转换器用以将该取样装置所撷取的电性参数转换成复数数字信号。微处理器用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试、复数不同的过电流保护测试及复数不同的过电压保护测试。可程序化输入装置控制电路由输入装置接收复数不同的控制讯号，每个控制讯号经由该微处理器改变该待测装置，以使该取样转换装置撷取到不同的电性参数。解析驱动电路用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为该待测装置可辨识的讯号，以改变该待测装置输出的电性参数，其包括译码电路及驱动电路，译码电路用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为该待测装置可辨识的讯号，驱动电路用以放大该译码电路解析后的控制讯号，以改变该待测装置输出的电性参数。可程序化显示装置控制电路耦接至该微处理器以将上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试的测试结果显示于显示装置中。其中该微处理器依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。
此外，该微处理器至少包括一可消除程序化只读存储器(ErasableProgrammable Read-Only Memory，EPROM)，用以储存一程序以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试。
图1表示本发明实施例的测试系统的系统架构图；图2表示本发明实施例的微处理器的方块图；
图3表示本发明实施例的数字模拟转换器的方块图；图4表示本发明实施例的可程序化输入装置控制电路及可程序化显示装置控制电路的方块图；图5表示本发明实施例的驱动电路的电路图；图6表示本发明实施例的测试系统测试待测装置的流程图。
图号说明100-自动测试系统； 101-取样转换装置；102-取样装置； 104-数字模拟转换器；106-微处理器；108-可程序化显示装置控制电路；110-可程序化输入装置控制电路；111-解析驱动电路； 112-驱动电路；114-译码电路； 107-微控制器；200-电源供应器；210-4k字符的可消除程序化只读存储器；212-128字符随机存取存储器；214-32根I/O线；216-2个16位元定时器/计数器；218-中断系统；220-外中断结构； 222-全双工串行埠；224-时钟电路； 226-中央处理器；310-8信道多路开关；312-比较器；314-开关网络； 316-控制逻辑；318-8位逐次逼近数字寄存器；320-8位三态输出锁存器；410-键盘； 420-显示器；
SL0-SL4-扫描信号； RL0-RL7-信号线；0-9-数字键； ST-开始键；TN-换信道键； +/--辅助键；OK-确定键；ESC-取消键；502-光耦合器； R1、R2-电阻器；D1、D2-二极管；Q1-晶体管；504-继电器； S1-开关。
具体实施例方式
图1表示本发明实施例的测试系统的系统架构图。如图所示，自动测试系统100包括取样转换装置101、微处理器106、可程序化输入装置控制电路110、解析驱动电路111以及可程序化显示装置控制电路108。取样转换装置101用以撷取待测装置在此为电源供应器200的复数电压或电流值等电性参数，并且将上述电性参数转换成复数数字信号，取样转换装置101包括取样装置102以及数字模拟转换器104，取样装置102用以撷取电源供应器200的电性参数，数字模拟转换器104用以将取样装置102所撷取的电性参数转换成复数数字信号。微处理器106用以接收上述数字信号以进行复数不同的短路保护测试(Short)、复数不同的过电流保护测试(Over CurrentProtect)及复数不同的过电压保护(Over Voltage Protect)测试。可程序化输入装置控制电路110由键盘等输入装置(参考图4)接收复数不同的控制讯号，每个控制讯号经由微处理器106改变电源供应器200输出的电性参数，以使取样转换装置102撷取到不同的电性参数。解析驱动电路111用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为电源供应器200可辨识的讯号，以改变电源供应器200输出的电性参数，解析驱动电路111包括译码电路112及驱动电路114，译码电路112用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为待测装置200可辨识的讯号，驱动电路114用以放大译码电路112解析后的控制讯号，以改变电源供应器200输出的电性参数，由于微处理器106所发出的信号微弱，因此其和电源供应器200相接时，需经过此驱动电路114。可程序化显示装置控制电路108耦接至微处理器106以将上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试的测试结果显示于显示装置(参考图4)中。微处理器106依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试，在此实施例中微处理器106依短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试的特定顺序为例进行说明，即微处理器106于完成上述短路保护测试后，再开始上述过电流保护测试，并于完成上述过电流保护测试后，再开始上述过电压保护测试。
此外，本发明的测试系统可包括电子可移除式可程序化只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)(未显示在图2中)，用以储存一程序以供微处理器106存取以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试，测试人员可根据不同的待测装置的测试内容，编写储存于电子可移除式可程序化只读存储器内的程序的内容以控制各个不同的待测装置的测试项目。
另外，可程序化显示装置控制电路108及可程序化输入装置控制电路110可实施于同一装置或者利用微控制器(例如IC8279)107来实施，参考图4的详细说明。
图2表示本发明实施例的微处理器的方块图。在本发明实施例中的微处理器106为一种至少包括可消除程序化只读存储器(Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EPROM)的习知的微处理器，该可消除程序化只读存储器用以储存一程序以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试，测试人员可根据不同的待测装置的测试内容，编写储存于可消除程序化只读存储器内的程序的内容以控制各个不同的待测装置的测试项目，在本实施例中的微处理器106以Intel公司所生产的MCS-51系列的AT89C51芯片为例，其具有4k字符的可消除程序化只读存储器210、128字符随机存取存储器212、32根I/O线214、2个16位定时器/计数器216、中断系统218、外中断结构220、全双工串行端口222、时钟电路224以及中央处理器226，其不具有静态逻辑，因此可以在低至零频率的条件下工作，此内部结构的详细动作说明请参考Intel公司所生产的MCS-51系列的AT89C51芯片的产品说明书。
图3表示本发明实施例的数字模拟转换器的方块图。如图所示，在本实施例中的数字模拟转换器104以逐次逼近比较型转换器的ADC0809芯片为例进行说明，数字模拟转换器104用以将输入的电性参数(模拟信号)转换成数字信号，其利用8信道多路开关310接收输入的模拟信号，每个信道能转换成8位数字并将转换后的数字信号送入高阻抗的截波比较器312，比较器312同时接收由256个电阻分压器组成的树状开关网络314输出的信号，比较器312将输出的信号经由控制逻辑316后送入8位逐次逼近数字寄存器318中，8位逐次逼近数字寄存器318输出的信号会回授回树状开关网络314，8位逐次逼近数字寄存器318输出的信号再经由8位三态输出锁存器320后输出。
在此实施例中的数字模拟转换器104以逐次逼近比较型转换器的ADC0809芯片为例，但本发明并不限于此类型的数字模拟转换器。
图4表示本发明实施例的可程序化输入装置控制电路、可程序化显示装置控制电路及外接键盘的方块图。可程序化显示装置控制电路108及可程序化输入装置控制电路110利用IC8279这颗微控制器107来实施，微控制器107本身可提供扫描信号SL0-SL4，因此可代替微处理器106完成输入装置和显示装置的控制，微控制器107外接2×8键盘410做为输入装置以及5位显示器420做为显示装置，微处理器106由扫描信号SL0及SL1控制键盘410。键盘410包括9个数字键(0-9)、1个开始键(ST)、1个换信道键(TN)、2个辅助键(+/-)、1个确定键(OK)及1个取消键(ESC)，使用者输入的按键信号经由信号线RL0-RL7送入微处理器106，配合本发明的测试系统，使用者只需按单键即开始键就可完成所有的测试项目，因此可结省测试时间。显示器420包括1位的显示信道及4位的显示电压值并可分别显示每项测试的测试结果，以利使用者判断。
图5表示本发明实施例的驱动电路的电路图。驱动电路114用以放大译码电路112解析后的控制讯号，以改变电源供应器200输出的电性参数，由于微处理器106所发出的信号微弱，因此其和电源供应器200相接时，需经过此驱动电路114。如图所示，在本实施例中的驱动电路114采用光耦合器502进行隔离，驱动电路114还包括电阻器R1及R2、二极管D1及D2、晶体管Q1及继电器504，来自译码电路112的信号经由电阻器R1进入光耦合器502，当光耦合器502导通后，电流会经由电压供应源Vcc经由电阻器R2、光耦合器502、二极管D1及晶体管Q1后流到地，因为晶体管Q1导通，所以继电器504开始动作，继电器504内的开关S1就会被导通，反之，当光耦合器502未导通时，继电器504内的开关S1也不会被导通。
图6表示本发明实施例的测试系统测试待测装置的流程图。首先，检测待测装置(即电源供应器)是否已备妥待接受测试(步骤S601)。当电源供应器未备妥时，则结束此测试流程(步骤S602)。当电源供应器备妥后，利用测试系统撷取电源供应器的一组电性参数以进行一项短路保护测试(步骤S603)。判断是否通过此项短路保护测试(步骤S604)。于测试系统判断不能通过此项测试时结束此测试流程(步骤S602)。接着，测试系统会再判断是否需撷取另一组电性参数以进行另一项短路保护测试(步骤S605)，如欲进行另一项短路保护测试，则重复步骤S603-S605。
于完成所有的短路保护测试后，则开始过电流保护测试，利用测试系统撷取电源供应器的一组电性参数以进行一项过电流保护测试(步骤S606)。判断是否通过此项过电流保护测试(步骤S607)。于测试系统判断不能通过此项测试时结束此测试流程(步骤S602)。接着，测试系统会再判断是否需撷取另一组电性参数以进行另一项过电流保护测试(步骤S608)，如欲进行另一项过电流保护测试，则重复步骤S606-S608。
于完成所有的过电流保护测试后，则开始过电压保护测试，利用测试系统撷取电源供应器的一组电性参数以进行一项过电压保护测试(步骤S609)。判断是否通过此项过电压保护测试(步骤S410)。于测试系统判断不能通过此项测试时结束此测试流程(步骤S602)。接着，测试系统会再判断是否需撷取另一组电性参数以进行另一项过电压保护测试(步骤S411)，如欲进行另一项过电压保护测试，则重复步骤S609-S411。
最后，于完成所有的过电压保护测试后，完成了所有的测试流程(步骤S412)。
根本以上所述，本发明的种测试系统，其使用自动化的方式完成电源供应器的测试，因此能达到灭少误测率以及提高测试精确度的目的，且因其不需要繁琐的按键工作，因此能达到灭少测试时间以及提高生产效率的目的。
权利要求
1.一种自动测试系统，其包括一取样转换装置，用以撷取一待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号；以及一微处理器，用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试(Short)、复数不同的过电流保护测试(Over Current Protect)及复数不同的过电压保护(Over Voltage Protect)测试；其中该微处理器依一特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。
2.根据权利要求1所述的自动测试系统，更包括一可程序化输入装置控制电路，其由一输入装置接收复数不同的控制讯号，每个控制讯号经由该微处理器改变该待测装置，以使该取样转换装置撷取到不同的电性参数；一解析驱动电路，用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为该待测装置可辨识的讯号，以改变该待测装置输出的电性参数；以及一可程序化显示装置控制电路，耦接至该微处理器以将上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试的测试结果显示于一显示装置中。
3.根据权利要求2所述的自动测试系统，其中该解析驱动电路包括一译码电路，用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为该待测装置可辨识的讯号；一驱动电路，用以放大该译码电路解析后的控制讯号，以该待测装置输出的电性参数。
4.根据权利要求2所述的自动测试系统，其中该取样转换装置包括一取样装置，用以撷取该待测装置的电性参数；以及一数字模拟转换器，用以将该取样装置所撷取的电性参数转换成复数数字信号。
5.根据权利要求2所述的自动测试系统，其中该微处理器至少包括一可消除程序化只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory，EPROM)，用以储存一程序以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试。
6.根据权利要求2所述的自动测试系统，其中该可程序化输入装置控制电路以及该可程序化显示装置控制电路利用同一装置实施。
7.根据权利要求6所述的自动测试系统，其中该装置为一微控制器。
8.根据权利要求1所述的自动测试系统，更包括一电子可移除式可程序化只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)，用以储存一程序以供该微处理器存取以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试。
9.根据权利要求1所述的自动测试系统，其中该待测装置为一电压供应器。
10.根据权利要求1所述的自动测试系统，其中该微处理器依该特定顺序于完成上述短路保护测试后，再开始上述过电流保护测试，并于完成上述过电流保护测试后，再开始上述过电压保护测试。
11.一种自动测试系统，其包括一取样装置，用以撷取一待测装置的复数电性参数；一数字模拟转换器，用以将该取样装置所撷取的电性参数转换成复数数字信号一微处理器，用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试、复数不同的过电流保护测试及复数不同的过电压保护测试；一可程序化输入装置控制电路，其由一输入装置接收复数不同的控制讯号，每个控制讯号经由该微处理器改变该待测装置，以使该取样转换装置撷取到不同的电性参数；一译码电路，用以解析上述控制讯号以转变上述控制讯号成为该待测装置可辨识的讯号；一驱动电路，用以放大该译码电路解析后的控制讯号，以该待测装置输出的电性参数；以及一可程序化显示装置控制电路，耦接至该微处理器以将上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试的测试结果显示于一显示装置中；其中该微处理器依一特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。
12.根据权利要求11所述的自动测试系统，其中该微处理器至少包括一可消除程序化只读存储器(Erasable Programmabl eRead-Only Memory，EPROM)，用以储存一程序以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试。
13.根据权利要求11所述的自动测试系统，更包括一电子可移除式可程序化只读存储器(Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory，E2PROM)，用以储存一程序以供该微处理器存取以完成上述短路保护测试、过电流保护测试及过电压保护测试。
14.根据权利要求11所述的自动测试系统，其中该待测装置为一电压供应器。
15.根据权利要求11所述的自动测试系统，其中该微处理器依该特定顺序于完成上述短路保护测试后，再开始上述过电流保护测试，并于完成上述过电流保护测试后，再开始上述过电压保护测试。
16.根据权利要求11所述的自动测试系统，其中该可程序化输入装置控制电路以及该可程序化显示装置控制电路利用同一装置实施。
17.根据权利要求16所述的自动测试系统，其中该装置为一微控制器。
全文摘要
一种自动测试系统，其包括取样转换装置及微处理器。取样转换装置用以撷取待测装置的复数电性参数并且将上述电性参数转换成复数数字信号。微处理器用以接收上述数字信号以分别完成复数不同的短路保护测试、复数不同的过电流保护测试及复数不同的过电压保护测试。微处理器依特定顺序完成上述短路保护测试、上述过电流保护测试以及上述过电压保护测试。
文档编号G01R31/00GK1519567SQ0310075
公开日2004年8月11日 申请日期2003年1月21日 优先权日2003年1月21日
发明者刘肯和, 王利平, 毛长根, 张华良 申请人:台达电子工业股份有限公司