专利名称:千分比较仪的制作方法
本发明涉及一种千分比较仪的改进，属测量仪表类。
现有千分比较仪主要是由测头、放大机构(杠杆式、齿轮式、扭簧式等)、指针、刻度盘、外壳等组成，用来测量零件的尺寸。在零件加工过程中，需反复停机测量零件的尺寸，看是否加工到标准尺寸，这样的反复，即浪费工时，又容易报废零件，特别是零件尺寸的一致性难于保证。在用于轴承滚柱的分选检测中，其工作效率也是较低的。
本发明的目的是提供一种改进的千分比较仪，在测量时能发出控制信号，当零件加工到标准尺寸时，即发出控制信号，使机床自动停机。对轴承滚柱分选检测时可实现自动分选检测，从而提高工作效率。
本发明的要点在于，在现有千分比较仪的刻度盘上，对准刻度的下方开有狭缝，从刻度盘正面有穿过狭缝光线的光源，在刻度盘的背面对准狭缝装有光电管控制电路，指针位于光源与刻度盘之间。当指针指到某一刻度时，遮闭该处下方的狭缝，光线不能穿过该狭缝，此狭缝后面的光电管将发出一个信号，并通过控制电路，使被控制的机床自动停机，当然，该刻度就是零件加工所要达到的标准尺寸，如车削加工、磨加工等均能取得满意的效果。在轴承滚柱分选检测时，按各不同尺寸轴承的需要，把各相同尺寸的滚柱，分别送入各料箱中去，实现自动分选检测。
千分比较仪的精度为1／1000mm。本发明可使零件加到标准尺寸后自动停机，即节约工时，又可保证零件的一致性。在进行轴承滚柱分选检测时，可实现自动分选检测，从而提高工作效率。本发明结构简单，造价低，可靠性高，使用方便。
以下将结合附图对本发明作进一步详细的描述图1是本发明具体结构的正视图。
图2是本发明具体结构的剖视图。
图3是本发明具体结构的控制电路原理图。
参照图1，在千分比较仪的刻度盘(6)上，对准每个刻度的下方开宽1mm，长2mm的狭缝(8)，并沿刻度成弧形分布。参照图2，在刻度盘(6)的正面及指针(5)的前面，装有弧形白炽灯管的光源(3)，其形状与弧形分布的狭缝一致，并装有同样弧形的聚光罩(2)，使其形成弧状光带，直射各狭缝。聚光罩固定在表壳(1)上，指针(5)的上端有遮闭狭缝部份(4)，此处的宽度和长度应分别略大于1mm和2mm，以能全部遮闭住狭缝为宜，并在对着光照射的表面上贴有红外反射纸，指针(5)位于刻度盘(6)和光源(3)之间，在所需要刻度对应的狭缝后面装有光电管(9)用导线(7)与其控制电路相联接。参照图3，控制电路由光电管BG1，三极管BG2，电阻R1，二极管D1，D2，D3，继电器J和指示灯组成。并由直流12伏电源供电。继电器J控制机床的起动装置和轴承滚柱分选时料箱的闸门。有光线照射光电管BG1时，产生光电流，使BG1导通，A点处于低电位，则BG2截止，继电器处于释放状态，机床起动后正常工作。当狭缝被指针遮闭后，无光线穿过，其背后的光电管无光流而截止，A点处于高电位，则BG2导通，其基极电流使继电器J吸合，其常闭触点断开，机床电源断开，自动停机。轴承滚柱分选检测时，料箱闸门打开，把各不同尺寸的轴承滚柱分别送到各料箱中去，当然，此刻度即是零件加工或轴承滚柱分选时的标准尺寸，指示灯(10)亮。BG1选3Du3，BG2选3DK4，D1、D2、D3选2CP10，R1选10KΩ普通电阻，J选JRX－13F。
权利要求
1.一种由测头、放大机构、指针、刻度盘、外壳组成的千分比较仪，其特征在于，在刻度盘(6)上对准刻度的下方开有数个长2mm宽1mm的狭缝(8)，在刻刻度盘(6)和指针(5)的前面装有能穿过狭缝光线的光源(3)和聚光罩(2)，在指针(5)的上端有能遮闭狭缝部分(4)，其长度和宽度略大于2mm和1mm并装有带光电管(9)的控制电路。
2.根据权利要求
1所述的千分比较仪，其特征在于，指针(5)上端遮闭狭缝部分(4)迎着光照射的表面贴有红外反射纸。
3.根据权利要求
1所述的千分比较仪，其特征在于，控制电路中的光电管(9)应对准狭缝(8)且在其背后安装。
专利摘要
一种改进的千分比较仪，在普通千分比较仪的刻度盘上开有狭缝，指针的上端有遮闭狭缝的部分，在狭缝后面对准狭缝安装光电管控制电路，并装有光源。当零件加工到标准尺寸后，指针指到该刻度，控制电路发出信号，使机床自动停机。既节约工时，又能保证零件的精度和一致性，对车削加工和磨加工均能获得满意的效果。还可实现轴承滚柱的自动分选检测，提高工效。结构简单，造价低，可靠性高，使用方便。
文档编号G01B11/00GK87202730SQ87202730
公开日1988年1月13日 申请日期1987年2月28日
发明者张中坚 申请人:张中坚导出引文BiBTeX, EndNote, RefMan