专利名称：确定米的光泽度的方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于确定米的光泽度，尤其是抛光大米的光泽度的方法，以及用于确定这种米的光泽度的装置。
背景技术：
通过对米进行抛光来生产大米是众所周知的。此处，所获得的光滑表面或表面光泽度表示所获得的抛光质量。但是，由于光泽度是人工估计的，因此其取决于估计者的主观意见。
EP-A-296956公开了一种光泽度指示器，利用该指示器，通过与标准表面比较而提供一种比较标准。根据DE-A-3312948，通过研究其上被发射光脉冲的表面的光谱以及将其转换成电信号，可以快速确定任何表面的光泽度。例如在EP-A-183270，JP56197959，WO96/33401或WO01/20308中已经公开了通过研究反射光的强度等确定表面光泽度。这也可以通过NIR光谱仪(EP-A-240185)来完成。
由于可以通过光学仪器很好地确定大米的白色等级或颜色，颜色分析不再对米粒的光滑度和光泽度提供更多信息，因此对产品质量和购买兴趣也不再提供更多信息。
发明内容
因此，本发明的一个目的是提供一种用于确定米的光泽度，尤其是大米的光泽度的方法，其能够客观地和经济地估算抛光米粒的光泽度。该目的通过权利要求1所述的特征而实现。
非常容易估算米粒的爬行效应使得能够相对估算大米的光泽度或光滑度，其使得生产者和消费者能够通过米粒表面的光泽度或光滑度客观地估计加工质量。这通过在一定量的米粒中施加剪切应力并确定在该过程中的爬行效应，尤其是平均值来确定。
必须确定在受到剪切应力期间的爬行效应的时间间隔。它们随后被平均并显示。
本发明的目的还在于提供一种用于估算光泽度的可靠、经济、易于操作的装置。该装置通过权利要求6所述的特征来实现。
该装置包括缓慢旋转的旋转工作台，其支承一装满米的环形槽。还设置一电子计算器以获得力矩的变化、最大值和最小值、间隔时间以及有关光泽度的结果数据。该装置基于一环形剪切单元，通过该剪切单元，大批材料的剪切力在测量槽内被测量并随后显示。这种环形剪切单元用于确定剪切力的大小和精确变化，同时，根据本发明的装置只测量“剪切力下降(shearing force drops)”的时间间隔。然后，这些时间例如用作米粒光泽度的参数。
下面结合附图详细描述本发明的示例性实施例。
图1是传统的大米测量显示。
图2是本发明装置的两个示意性视图。
具体实施例方式
本发明的装置包括带有一环形容器2的旋转工作台1。容器2的底部安装有同步板3。容器2中装满米4。
旋转工作台1由一(同步的)带传动机构5驱动，带传动机构5由具有高传动比的齿轮传动电机6供能，因此，在每次测量过程中，带容器2的旋转工作台1的外周只旋转很小的几毫米。
在与旋转工作台1相反位置处有一铰接的可打开的相反板，其底部安装有支承件。
可以利用弹簧8、压板10以及带把手的芯轴11将相反板7压靠在米的表面上。定位器12用于将盖组件19定位。
在盖组件19闭合后，可以利用芯轴11使压板10运动，从而预拉伸弹簧8直到压板10对米的表面施加所期望的压力。在弹簧螺栓13上有记号14，记号14与压板10的表面齐平时表示预设置的预拉伸程度，因此每次测量可以设置相等的压力。可以通过窗口15观察记号14。
齿轮传动电机6在壳体16中绕传动轴枢转，并经杠杆臂17支承在测力计18上。螺栓20用作容器2的支承件。
也可以在所述盖和相反工作台7之间安装风能元件并利用控制阀设置一容许压力，从而利用压缩空气产生预拉伸。在所确定的空气压力下总能获得恒定的预拉伸。
在测量过程中，首先，将容器2中充满米并将其放在旋转工作台1上。然后，盖19闭合，通过芯轴11在米的表面施加容许压力。在启动齿轮传动电机6之后，旋转工作台1缓慢地旋转，并对传动轴施加反力矩。测量转换器得到齿轮传动电机6的作用力，并且估计作用时间。
如果在一段时间后产生爬行间隙(stick-slip interval)，则测得振动过程的周期，并通过控制系统显示平均值。
在测量完成后，电机关闭。预拉伸必须被再次去除，或者在风力变化例中，压力的减小速度必须是递增的。还可以在相反工作台7和/或者使用力传感器或力矩传感器的压板10处得到反作用力矩。
电子计算器随着时间和间隔进程确定最小值和最大值。
旋转工作台1以低速旋转，在几分钟的作用时间T2后出现米层内部的爬行效应，导致力矩的变化。整个测量循环时间T1是可调节的。
速度的增大使得能够缩短作用时间，从而缩短测量过程。
在作用时间T2后，每次没有达到预定最小力矩的情况都被记下来，甚至包括所测得的最大力矩的部分。在预设定的测量周期后，测量持续时间被确定的次数分开，产生爬行效应的平均时间，其被显示。这只需要计数器和预设置作用以及测量周期。
我们发现，该效应根据抛光的程度具有变化的间隔。米越光亮和光滑，力矩变化的时间越短。对于高抛光度和光泽度的米，单个间隔的时间间隙只需测量几秒钟，而抛光度差的米则要相对长的时间。
确定测量时间间隔T3为爬行效应产生一时间间隙值，其表示米粒的平均光泽度。在该实例中，T3越小，米越光亮和光滑。
本发明不限于所述实施例。
附图标记说明1 旋转工作台2 容器3 同步板4 米5 带传动机构
6 齿轮传动电机7 相反板8 弹簧9 铰链10 压板11 芯轴12 定位器13 弹簧螺栓14 标记15 窗口16 壳体17 杠杆臂18 测力计19 盖20 螺栓T1 测量循环时间T2 作用时间T3 间隔
权利要求
1.确定米的光泽度，尤其是大米的光泽度的方法，步骤如下a)使一定量的米粒在预设的作用时间(T2)受到剪切应力；b)记录爬行效应和它们的时间间隔(T3)；c)根据这些间隔确定出预定的光泽度值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所记录的时间间隔(T3)被取平均值。
3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述剪切应力通过旋转动作施加。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，记录下力矩变化和/或电流变化。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述剪切应力由线性运动和垂直施加在其上的反作用力产生。
6.确定米的光泽度的装置，包括运动装置，其上安置一装有米(4)的空间或容器(2)，其中，所述运动装置包含与电子计算器相连的传感器装置。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述运动装置是旋转工作台(1)，并且所述容器(2)是环形的。
8.根据权利要求6或7所述的装置，其特征在于，所述传感器装置适合于记录力和/或力矩。
全文摘要
本发明涉及确定米的光泽度，尤其是大米的光泽度的方法和装置，其能够客观地估算抛光米粒表面的光泽度。为此，对一定量的米施加剪切应力，确定爬行效应的时间间隔(T3)，所述间隔表示米的抛光程度或光亮程度。
文档编号G01N19/02GK1705879SQ200380101624
公开日2005年12月7日 申请日期2003年10月14日 优先权日2002年10月17日
发明者范克-奥托·格利茨, 马库斯·布罗克费尔德 申请人:布勒公司