专利名称：多用电子数显千分卡尺的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测量仪器，具体地说是一种新型多用电子数显千分卡尺。
背景技术：
在精确测量时，一般都需要用到卡尺，但现有的卡尺，无论是游标卡尺，还是电子数显卡尺，其测量准确度都只能达到百分之几毫米，也即是说，现有的电子数显卡尺均为电子数显百分卡尺。但随着科技的发展和进步，制造业对测量仪器精确度要求越来越高，所以测量精度仅达到百分之几毫米的卡尺已不能瞒足高端市场的需求，市场需要测量精度达到千分之几毫米的卡尺，为此市场上出现了瑞士SYLVAC公司的单用精度可以达到千分之七毫米的电子数显千分卡尺(仅用于测量工件外径，相当于外径千分尺).目前国内外尚没有出现三项或四项测量功能集于一身的同时测量精度均能达到千分之几毫米的多用电子数显千分卡尺。
(三)实用新型内容本实用新型将公开一种集三项或四项测试功能于一身的测量准确度均能达到千分之几毫米的多用电子数显千分卡尺。
本新型多用电子数显千分卡尺是由尺身、尺框和电子数显单元构成，与现有测量精度仅能达到百分位的电子数显卡尺不同，本实用新型的电子数显单元为千分级数显组件，该千分级数显组件固装于尺框上，测量时可以与尺框同步移动，千分级数显组件可以使本多用电子数显千分卡尺的读数精度达到千分之一毫米。千分级数显组件是由液晶显示器、IC芯片、电子元件和精密刻划的PCB板制成，测量时得出的数值可直接显示在液晶显示器上。尺身与尺框间的配合间隙小于0.01mm且有消隙结构；尺身基面的直线度为0.002mm；尺身侧面平行度为0.003mm且有消隙结构。这样在测量时才能达到要求的精确度。
本新型多用电子数显千分卡尺结构简单、使用方便、测量直观，且测量误差极小(采用微差测量时，最小误差可达千分之一毫米)，既可用于精密测量工件外部尺寸(如外径)、内腔尺寸(如内径)，还可精密测量深度尺寸和(或)台阶尺寸。本发明不仅能对多种工件或物体进行测量，且最小测量误差能达到0.001毫米，实现了一尺多用，使多项测量功能达到一体化。
图1为本实用新型多用电子数显千分卡尺结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。
在图1所示的实施方式中，本新型“多用电子数显千分卡尺”由尺身2、尺框3和电子数显单元构成，其中电子数显单元为千分级数显组件1，该千分级数显组件固装于尺框3上，尺身2上装有精密刻划的栅条(一般用玻璃、敷铜板或陶瓷基材制作)，尺框3上方设有调节螺钉，尺身2与尺框3之间接近零间隙滑动配合，尺身2右端正面开有通孔，通孔上设有压板。尺框3的前后有若干通孔，通孔内有螺钉使数显单元固定于尺框3上。尺框3上侧垂直于尺槽方向设有调节螺钉用以紧密调节尺身2与尺框3的侧向间隙。尺身2与尺框尺框3间的配合间隙小于0.01mm且有消隙结构；尺身2基面的直线度为0.002mm；尺身2侧面平行度为0.003mm且有消隙结构。
权利要求1.多用电子数显千分卡尺，它是由尺身(2)、尺框(3)和电子数显装置构成，其特征在于电子数显装置为电子为千分级数显组件(1)，该千分级数显组件固装于尺框(3)上，与尺框(3)同步移动，可以使测量精度达到千分位。
2.根据权利要求1所述的多用电子数显千分卡尺，其特征在于尺身(2)与尺框(3)间的配合间隙小于0.01mm且有消隙结构；尺身基面的直线度为0.002mm；尺身侧面平行度为0.003mm且有消隙结构。
3.根据权利要求1所述的多用电子数显千分卡尺，其特征在于尺身(2)与尺框(3)间设有消隙结构。
专利摘要本实用新型提供了一种新型多用电子数显千分卡尺，它主要是由尺身、尺框和电子数显装置构成，电子数显装置为电子为千分级数显组件，该千分级数显组件固装于尺框上，可以使测量精度达到千分位。本实用新型不仅能对多种工件或物体进行测量，且三项或四项测试功能的测量精度均能达到0.001毫米，实现了一尺多用，使多项高测试精确度的测试功能达到一体化。是一种集三项或四项测量功能于一身且最小测量误差可达到0.001毫米的多用电子数显千分卡尺。
文档编号G01B3/22GK2826358SQ20052003536
公开日2006年10月11日 申请日期2005年8月31日 优先权日2005年8月31日
发明者吴峰山 申请人:吴峰山