专利名称：用于提高互感器准确度的设备及方法
技术领域：
本发明涉及一种用于提高测量电导体的至少一个电^故，即电压和/ 或电流的准确度的设备及方法。"电导体"的定义在这里应该被理解为包 含任何电力流过的电子装置，诸如但不限于电力线、电子装备内部或外部 的线缆、电子装备本身，例如断路器、隔离器、转换器，以及相似的装置 或设备。
背景技术：
电子装置必须具有安全装置，电压或电流一旦与给定值不同，该 安全装置就切断该装备。当电压或电流与临界值相差太多时，立刻切断该设备是重要的，但是同时当该电压或电流值仅仅是接近临^IHi时，避免 过于频繁切断是有好处的。为了达到上述要求，所使用的如电子式互感器 的检测装置必须在便利的前提下尽可能精确地测量与该检测装置相关联 的装置相关的电^lt。测量受不同因素或干扰(当我们认为这些因素有害时)的影响。 例如，这些因素包括测量单元或其周围的环境的温度，在两相或三相 配置情况下的串扰效应，其它外部磁场和/或电场的影响，电压和电流传 感器之间的相互影响，导致在不同的频率上的不同的频率响应的瞬变现象 等。现有的电子式互感器受低准确度的困扰，在最恶劣的条件下其准确度几乎不大于0.5%，因此这种电子式互感器对于需要高准确度的应用来说并不是最佳合适的。对于其电压和/或电流输出远#<于例如电感式互感器的电子式互感器 的情况，上述问题尤其重要。在电子式互感器情况下的干扰比在电感式互 感器情况下的干扰影响大，在电感式互感器中，由于电感式互感器的输出 信号与干扰信号之差大，因而干扰信号的影响实际上可以忽略。当测量单元测量电压或电流并且其温度接近周围温度时，该测量单元 的输出值与同一测量单元在其温度不同于其周围环境温度时测量同样的 电压或电流时的输出值不同。相似地，在两相或三相配置的情况下，在两相之间可能存在相互因素 (串扰)并且叠加在一个相上的串扰信号可能带来该测量单元的测量误 差。在由于附近存在其它电子装置而导致的外部磁场和/或电场的情况 下，可观察到相似的干扰，该干扰也会带来该测量单元的测量误差。这还适用于由于测量部件的不同组件之间的干扰所导致的该测量i殳备内部的 磁场和/或电场的情况，尤其是当使用电流和电压传感器装置二者时。发明内容本发明的设备及方法至少部分地纠正了现有技术的上述缺点。特别 地，本发明提供用于测量电导体至少第一相的至少一个电^t的设备，其 特征在于该设备包括—电子单元；-检测装置，用于向所述电子单元提供表示所述至少一个电参数的值的信 号以及表示至少一个干扰因素的值的信号，其中至少一个干扰因素影响表 示所述至少一个电^的值的所述信号，所述电子单元基于所提供的信号 计算所述至少一个电M的值以及所述至少一个干扰因素的值;以及-校正单元，该校正单元可操作地耦合到所述电子单元，并且具有与所述 至少一个干扰因素的值相对应的多个预先存储的校正系数，其中基于所述 至少一个干扰因素的计算值，将所述校正系数应用于所述至少一个电参数 的计算值。本发明还包括用于测量电导体至少第一相的至少一个电M的方法， 其特征在于该方法包括如下步骤-提供表示所述至少一个电参数的值的信号和表示至少一个干扰因素的 值的信号，其中所述至少一个干扰因素影响表示所述至少一个电参数的值 的所述信号；-基于所提供的信号，计算所述至少一个电^lt的值及所述至少一个干扰 因素的值；以及-通过应用与对所述至少一个干扰因素计算的值相对应的预先存储的校 正系数，校正对所述至少一个电参数计算的值。根据本发明的设备优选地包括至少一个电子式互感器，该电子式互感器与期望准确测量其一个或多个电M， 一般为电压和/或电流的电导体 的相相关联。这些^lt一般为指示电导体的工作状态的M。在第一示例性实施例中，根据本发明的设备包括分压器，该分压器优 选地设置有与其关联的温度计。将该分压器的电压输出提供给电子单元，一般为如基于微处理器的继电器的智能电子装置(LED)。温度计的输出也 被提供到电子单元。校正单元可操作地耦合到电子单元，用于校正该电子 单元的的输出信号。优选地，该校正单元是所述电子单元本身的一部分或 组件，并且包括一个或多个软件模块。特别地，该校正单元包括多个校正 系数，所述校正系数方便地预先存储在该校正单元本身的存储器中或电子 单元其它部分的存储器中。这些校正系数对应于存储在存储器中的不同的 温度值，并被应用到导体相的测量电压值。在本发明的另 一个示例性实施例中，所述设备包括放置在要被测量的 电导体的相的周围的环形线圏。在这种情况下，该环形线圏优选地也^:置有温度计，并且环形线團和温度计的输出都被提供到电子单元。同样地， 通过与基于温度计的检测所计算的温度值相对应的校正温度系数来校正 流过该相的电流的计算值。在其它实施例中，校正单元包括预先存储的校正系数组，用于校正由 其它影响因素如串扰效应所造成的误差，用于将分配给该串扰的测量值的 校正偏移加到所测量的相导体的电压和/或电流的测量值上。此外，校正 单元还包括与其它干扰因素，即外部和/或内部磁场和/或电场的值，与该 电子式互感器额定频率不同的谐波的值相对应的预先存储的校正系数组。特别地，在根据本发明的设备和方法中，可将与不同干扰因素相对应 的校正系数同时应用于电流和/或电压的计算值。
结合本发明的优选实施例来进一步描述本发明，并参考附图，在附图中图l是具有内部误差的测量系统的结构的示意图；图2是校正由温度波动引起的电压误差的电子测量设备的第一实施 例的示意图；图3是校正由温度波动引起的电流误差的电子测量设备的第二实施例的示意图；图4是校正由温度波动引起的电压和电流误差的电子测量设备的第 三实施例的示意图；图5是包含温度计的电子式电流互感器的示例图；图6是包含温度计的电子式电压互感器的示例图；图7是具有温度计的组合电流电压互感器的示例图；图8~10分别是与图5~7相对应的示意图；图ll是表示才艮据本发明的方法的示例流程图；具体实施方式
应当注意为了清楚简洁地公开本发明，附图不一定按比例并且可以以 稍微示意性方式示出本发明的某些特征。另夕卜，相似的部分具有相似的附 图标记。一般地，可根据图l描述测量设备的原理。电子式或电感式的电流互 感器1连接到电子继电器2的电流测量输入，而电子式或电感式的电压互 感器3连接到同一电子继电器2的电压测量输入。电流和/或电压值是电 M，其信号携带着被测量的电子组件的工作状态的信息。电压和电流测 量输入都连接到电子继电器2的A/D转换器，所述A/D转换器为电子继电 器2的输入电路4。将所述输入电路4的输出连接到计量仪器，该计量仪 器的输出即是测量值。当仅将温度T视为干扰时，电流互感器1的误差可表示为Si = ￡'i + ￡i(T)其中si为电流互感器l的总误差，s、为电流互感器l的固有误差，而 s!(T)为由温度变化引起的误差。相似地，电压互感器3的误差可表示为￡2 = ￡'2 + ￡2(T)其中si为电压互感器3的总误差，s、为电压互感器3的固有误差，而s2(T)为由温度变化引起的误差。如果将该计量仪器的误差视为S3:，那么整个系统的总误差S4为￡4 = ￡l + ￡2 +电子测量设备的主要目标是消除干扰因素的影响，即温度的影 响，并且4吏整个系统的总误差"达到￡，4 = & + ￡2 + (￡3 - S"T) - ￡2(T))当考虑其它影响测量准确度的干扰因素或干扰时，也适用同样的 考虑。可以通过根据本发明的电子测量设备及方法的不同实施例来实 现该目的。同样地，为提供消除了由其它不同因素引起的误差的电子测量设 备，需要直接或间接地测量单个因素对测量误差的影响。因此，为了 消除串扰误差，必须测量在一个相上的、由相邻相上的不同的电流和 /或电压引起的干扰电流和/或电压，必须将结果以系数的形式输入校正单元7的存储器中，应通过该系数校正测量结果以消除串扰误差。 因而具有关于相邻相上的电流和电压的瞬时值的信息的校正单元7 可通过消除串扰引起的误差校正测量线6的电流和电压的测量结果。相似地，为了消除由电子测量设备的布置而引起的外部磁场和/ 或电场，必须测量与各单独相上的电流和/或电压有关的磁场和/或电 场的测量结果，并确定所逸磁场和/或电场对测量误差的影响。必须 将结果以系数的形式输入校正单元7的存储器中，应通过该系数校正 测量结果以消除外部磁场和/或电场误差。因而具有关于外部磁场和/ 或电场的瞬时值的信息的校正单元7可通过消除所述外部磁场和/或 电场引起的误差校正测量线6的电流和/或电压的测量结果。内部磁场和/或电场出现在组合电子式互感器中，其中电流和电 压的测量彼此影响。另外，必须对相互影响进行测量，将结果输入校 正单元7的存储器中，使得具有关于相互影响的信息的校正单元7可 通过消除由所述内部磁场和/或电场引起的误差校正测量线6的电流 和电压的测量结果。在电力网中出现或由于电子式互感器的频率响应而出现谐波的 情况下，在与额定频率不同的频率范围内的测量准确度恶化。该问题 可通过测量所述it波对测量线6的电流和电压测量结果的影响而得 到解决。所述谐波影响的测量结果必须输入校正单元7的存储器中， 使得具有关于所述谐波对测量线6的电流和电压测量结果的影响的信息的校正单元7可通过消除由所述谐波引起的误差校正测量线6的 电流和电压的测量结果。图2 4示出根据本发明的设备的一些实施例，这些设备用于测量 由附图标记6示意性示出的电导体，例如电力线的至少一个相的一个 或多个电参数。所述设备包括电子单元2， 一般为如基于微处理器的 继电器的智能电子装置(LED);还包括检测装置，在图2~4中由总 的附图标记50示出并优选地包括至少一个电子式互感器。如图11所 示，在根据本发明的方法的第一步骤100中，检测装置50向电子单 元2提供表示至少一个电Wt，即所测量的线相6的电流和/或电压 的值的信号。另外，检测装置还向电子单元2提供表示影响表示电参 数的信号的至少一个干扰因素的值的信号。基于所提供的信号，在步 骤101，所述电子单元2计算至少一个电^t的值及至少一个所考虑 的干扰因素的值。有利地，所述设备包括校正单元或元件7,其可操作地耦合到电 子单元2并具有与所考虑的至少一个干扰因素的值相对应的多个预 先存储的校正系数。优选地，校正单元7是电子单元2的一部分或组 件并且包括一个或多个软件模块。在步骤102，基于至少一个干扰因 素的计算值，将校正系数应用于至少一个电W:的计算值。在优选实施例中，所述校正单元7包括与存储在其存储器中(或 在电子单元2的任何其它存储单元部分中)的温度值有关的预先存储 的校正系数。将这些系数应用于所述导体相6的电压和/或电流的测 量值。在其它实施例中，所述校正单元7包括预先存储的校正系数组， 用于校正由其它干扰因素如串扰效应引起的误差，用于将分配给该串 扰的测量值的校正偏移加到所测量的相导体6的电压和/或电流的测 量值上。此外，校正单元还包括与其它干扰因素，即外部和/或内部 磁场，/或电场的值，与额定，率例如所使用的电子式互感器的额定系数组。可将各组系数作为与特定干扰因素值相对应的离散值，或以 曲线的形式进行存储。如图2所示，在为校正由温度波动引起的电压误差而构思的电子 测量设备的第一实施例中，存在电压互感器，优选为分压器5，其第 一端连接到测量线6，而另一端接地。在这个实施例中的分压器5包括两个电容，然而其可以包括作为电阻器或其它的任何阻抗。另夕卜，至少一个温度计10与分压器5相关联。对术语温度计应理解为包括 任何适于测量温度的装置，如一个或多个热电偶。分压器5的低电压 输出U耦合到输入电路4的测量信号输入，温度计10的温度输出T 耦合到输入电路4的温度信号输入。输入电路4 一般为A/D转换器。 然后输入电路4的测量信号输出耦合到校正单元7的测量信号输入。 接着输入电路4的温度信号输出耦合到校正单元7的温度信号输入。 然后校正单元7的输出耦合到控制单元8。在工作中，来自分压器5的低电压输出U的信号与测量线6的测 量电压成比例，并且来自温度计10的温度输出T的温度信号包含关 于所检测的温度的信息。优选地，温度计10提供关于分压器5或其 周围的温度的信息。可使用更多的温度计10来4C供关于所述设备内， 优选地在分压器5处或其附近的温度的更多信息。输入电路4修改所 述测量和温度信号使得它们匹配校正单元7的电路。 一般输入电路4 是对来自分压器5的低电压输出U的模拟信号以及携带关于来自温 度计10的温度输出T的温度的信息的模拟信号二者进行数字化的 A/D转换器。接着将来自输入电路4的调整信号输入到校正单元7的 输入。校正单元7存储与不同温度值相对应的一系列偏移值，从而能 够将分配到温度的测量值的校正偏移加到测量相6的电压的测量值 上。因而获得更加准确和精确的测量相6的电压值。在图3所示的第二实施例中，检测装置50包括电流互感器，优 选为环形线圏，测量线相6穿过该环形线圏。同样在这种情况下，至 少一个温度计10与环形线圏9耦合。环形线圏9的测量信号输出耦 合到输入电路4的测量信号输入，并且置于环形线圏9上或其附近的 温度计10的温度信号输出T耦合到输入电路4的温度信号输入。所 述输入电路4 一般为A/D转换器。接着，输入电路4的测量信号输 出耦合到校正单元7的测量信号输入。输入电路4的温度信号输出耦 合到校正单元7的温度信号输入。然后校正单元7的输出耦合到控制 单元8。在工作中，来自环形线圏9的测量信号输出的信号与测量线6的 测量电流成比例，并且来自温度计10的温度输出T的温度信号包含 关于环形线圏9的温度的信息。输入电路4修改所述测量和温度信号 使得它们匹配校正单元7的电路。 一般地，输入电路4是对来自环形线圏9的输出的模拟信号以及携带关于来自温度输出T的温度的信 息的模拟信号二者进行数字化的A/D转换器。然后将来自输入电路4 的调整信号输入到校正单元7的输入。校正单元7存储与不同温度值 相对应的一 系列偏移值，因而能够将分配到温度的测量值的校正偏移 加到测量线6的电流的测量值上。因此，在这种情况下，也可获得更 加准确的测量线6的电流值。在如图4所示的第三实施例中，检测装置50包括电流和电压传 感器二者，例如，测量线相6穿过的环形线團9和分压器5。环形线 圏9的测量信号输出耦合到输入电路4的电流测量信号输入，分压器 5的低电压输出U与输入电路4的电压测量信号输入耦合，并且置于 环形线圏9上或附近的温度计10的温度信号输出T与输入电路4的 温度信号输入耦合。输入电路4的电流测量信号输出与校正单元7的 电流测量信号输入耦合，且输入电路4的电压测量信号输出与校正单 元7的电压测量信号输入耦合。接着，输入电路4的温度信号输出与 校正单元7的温度信号输入耦合。然后校正单元7的电流及电压输出 耦合到控制单元8。这样相6的两个电M同时被校正。校正电压和电流波动的电子测量设备的电流和电压分支的操作 如第 一 实施例及第二实施例所述并行工作。在所有上述实施例中，除了用于温度的校正系数，校正单元7还 可存储多个校正系数的组。各组对应于不同的干扰因素的值，并作为 考虑温度值的校正系数的替选或附加可应用在步骤102。特别地，对 于这些其它的干扰因素的直接信息或测量该干扰因素可存在合适的 部件，或该信息可作为例如通过用于频率校正的电流/电压的傅立叶 变换的电参数信号分析的结果而获得。例如，校正单元7存储一系列 与所述设备本身内部或外部，特别是在检测装置50附近的电场或磁 场的不同测量值相对应的偏移值。特别地， 一个典型的干扰因素是由 所谓的串扰效应引起的。这些影响实际上是三相装备的不同相之间的 电场或磁场的特定的例子，并取决于流过测量线6的电流值，测量线 6的电压值，以及流过测量线6的其它相的电流值和测量线6的其它 相的电压值。在这种情况，根据本发明的设备(如图2简明所示)优 选地包括可操作地与电导体6的第二相60相关联的至少第二互感器 20，例如，电流传感器。第二互感器20既可以是电流互感器也可以 是电压互感器，向电子单元2提供表示所述第二相60的至少一个电M的值的信号。而校正单元7包括与由所述第二相60在第一相上引起的串扰干扰的不同值对应的多个预先存储的校正系数。同样的方 法适用于其它存在的相。如果期望考虑本发明的设备内部的其它电场和/或磁场所引起的干扰，校正单元7具有与这种内部磁场和/或电场 的不同值对应的多个校正系数。特别地，当使用电流和电压传感器的 组合时，可能存在电压场对电流传感器的影响。在这种情况下，可得 到电压测量的信息且可相应地校正电流测量。反之，对于磁场影响这 种方法同样有效。同样地，为了考虑本发明设备外部的、由例如存在如开关装置的 装置(图中未示出)而引起的其它可能存在的磁和/或电干扰场，电 子单元2与另一电子单元200有效通信并从其接收信息。该电子单元 200,例如继电器，可操作地与置于本发明设备附近的装置相关联并 向电子单元2传送关于临近装置的电流和/或电压的信息。根据该信 息，计算该干扰场的值。而校正单元7包括与附近电子装置引起的本 发明设备本身外部的磁场和/或电场的不同值相对应的多个校正系 数。因此，如果需要，可将分配到电场或磁场的测量值的校正系数加 到测量线相6的电压和/或电流的测量值，并输出更精确的值。相似 地，在替代实施例中，校正单元7另外可包括与不同于互感器的额定 频率的电流和/或电压谐波的不同值相对应的多个预先存储的校正系 数。在图5中更详细示出分压器5。在测量线6周围，存在两个同心 屏蔽12和13,并且在其附近还存在温度计10。在工作中，根据测量线6和第一同心屏蔽12之间的电容与接地 的第二同心屏蔽13和第一同心屏蔽12之间的电容的比来划分测量线 相6的高电压Up。在恒定温度下的电容不会波动，因而第一同心屏 蔽12和第二同心屏蔽13之间的电压与测量线6的高电压up成比例， 而测量线6的高电压Up可能具有由分压器5的温度波动或其它因素 引起的偏移。分压器5的瞬时温度信息由温度计10在输出端子Tl 和T2上提供。然后该信息可用来校正所述测量线6的高电压up的值。在优选实施例中如图6所示构造环形线團9。测量线6穿过所述 环形线圏9。环形线圏9 ^L置有温度计10和绕组11，温度计10具有 输出端子T1和T2，绕组11具有输出端子S1和S2。在工作中，流过测量线6的电流ip在绕组ll感应电压，该电压 在输出端子Sl和S2可测得。在输出端子Sl和S2上测量的电压的 幅度与流过测量线6的电流ip成比例，而该电流具有由环形线團9 的瞬时温度或其它因素引起的可能的偏移。关于环形线團9的瞬时温 度的信息由温度计10在输出端子T1和T2上提供。然后，该信息可 用来校正流过测量线6的电流ip的值。图7示出用于测量测量线6的高电压Up和流过测量线6的电流 ip的组合互感器。将环形线圏9置于邻近分压器5的位置。将温度计 10置于第一同心屏蔽12和测量线6之间。在工作中，如结合图6所述对流过测量线6的电流ip进行测量， 如结合图5所iiXt测量线6的高电压Up进行测量。温度计10的输出 信号用于校正高电压up和电流ip的测量结果。图8示意性示出使用分压器5的电子式电压互感器，分压器5包 括两个串联连接的阻抗Zl和Z2,其中Zl的值》Z2的值。分压器5 的阻抗Zl的另 一端子连接到测量线6并且阻抗Z2的另 一端子接地。 然后在a端子和n端子之间测量阻抗Z2上的电压，该电压与测量线 6的高电压Up成比例。图9示意性示出4吏用环形线圏9的电子式电流互感器。然后在 Sl端子和S2端子之间测量由流过测量线6的电流ip在环形线團9中 感应的信号。图10示出包括分压器5和环形线圏9的组合电子互感器。如结 合图8和图9所述该互感器既测量测量线6的高电压Up又测量流过 测量线6的电流ip。应当理解对以上示例性实施例的说明只是为了描述而不是穷尽 本发明。本领域技术人员在不脱离本发明的精神及其所附权利要求定义 的本发明的范围的情况下能够对所公开主题的实施例作出某些添加、删除 和/或^f务改。
权利要求
1.一种设备，用于测量电导体的至少第一相(6)的至少一个电参数，其特征在于该设备包括-电子单元(2)；-检测装置(50)，用于向所述电子单元(2)提供表示所述至少一个电参数的值的信号以及表示至少一个干扰因素的值的信号，其中所述至少一个干扰因素影响表示所述至少一个电参数的值的所述信号，所述电子单元(2)基于所提供的信号计算所述至少一个电参数的值以及所述至少一个干扰因素的值；以及-校正单元(7)，该校正单元(7)可操作地与所述电子单元(2)耦合，且具有与所述至少一个干扰因素的值相对应的多个预先存储的校正系数，其中基于所述至少一个干扰因素的计算值，将所述校正系数应用于所述至少一个电参数的计算值。
2. 根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述校正单元(7)具 有预先存储的多个校正系数的组，各组与不同的千扰因素的值相对应。
3. 根据权利要求1所述的设备，其特征在于，所述检测装置(50) 包括至少一个电子式互感器，该电子式互感器可操作地与该电导体的所述 第一相(6)相关联。
4. 根据一个或多个上述权利要求所述的设备，其特征在于，所述检 测装置(50)包括第一分压器(5),该分压器(5)向所述电子单元(2) 提供表示该电导体的所述第一相(6)的电压的信号。
5. 根据权利要求3所述的设备，其特征在于，所述检测装置(50) 包括至少第一环形线圏(9)，该环形线圏(9)向所述电子单元(2)提供 表示流过所述电导体的所述第一相(6)的电流值的信号。
6. 才艮据一个或多个上述权利要求所述的i殳备，其特征在于，所述检 测装置(50)包括至少一个温度计(10)，该温度计(10)向所述电子单 元(2)提供表示检测的温度的信号。
7. 根据一个或多个上述权利要求所述的设备，其特征在于，所述校 正单元(7)具有与不同温度值相对应的多个预先存储的校正系数。
8. 根据一个或多个上述权利要求所述的设备，其特征在于，该设备 包括至少第二互感器(20)，该第二互感器(20)可操作地与电导体的第二相(60)相关联，该第二互感器(20)向所述电子单元(2)提供表示 所述第二相(60)的至少一个电M的值的信号，并且所述校正单元(7) 包括与由所述第二相(60)在第一相(6)上引起的串扰干扰的不同值相 对应的多个预先存储的校正系数。
9. 根据一个或多个上i^利要求所述的设备，其特征在于，所述电 子单元(2)与另一电子单元(200)有效通信并从其接收信息，所述另一 电子单元(200)可操作地与该设备本身附近的电子装置相关联，并且所 述校正单元(7)包括与由所述电子装置引起的所述设备外部的磁场和/ 或电场的不同值相对应的多个校正系数。
10. 根据一个或多个上述权利要求所述的设备，其特征在于，所述校 正单元(7)包括与该设备本身内部的磁场和/或电场的不同值相对应的多 个校正系数。
11. 才艮据一个或多个上述权利要求所述的i殳备，其特征在于，所述校 正单元(7)包括与不同于额定频率的电流和/或电压谐波的不同值相对应 的多个校正系数。
12. —种方法，用于测量电导体的至少第一相的至少一个电参数，其 特征在于，该方法包括如下步骤-提供表示所述至少 一个电参数的值的信号以及表示至少 一个干扰 因素的值的信号，其中所述至少一个干扰因素影响表示所述至少一个电参 数的值的所述zff号；-基于所提供的信号，计算所述至少一个电^lt的值及所述至少一个 干扰因素的值；以及-通过应用与对所述至少一个干扰因素计算的值相对应的预先存储 的校正系数，校正对所述至少一个电参数计算的值。
13. 根据权利要求12所述的方法，其特征在于，该方法包括-通过应用预先存储的校正系数的组校正对所述至少 一个电参数所 计算的值，各组与不同干扰因素的值相对应。
全文摘要
用于提高互感器准确度的设备及方法，其中计算与电导体的相关的一个或多个电参数。另外，计算与影响所述电参数的测量的一个或多个干扰因素如温度、串扰效应相关的信号。校正单元存储与所计算的干扰因素的不同的值相对应的多个校正系数。将这些系数应用到电参数的计算值以提高测量的准确度。
文档编号G01R21/14GK101231312SQ20071030221
公开日2008年7月30日 申请日期2007年12月17日 优先权日2006年12月19日
发明者彼得·克拉尔, 拉德克·亚沃拉 申请人:Abb技术有限公司