衰减全反射测试装置的制作方法

文档序号:5822013阅读:182来源:国知局
专利名称:衰减全反射测试装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种用于傅立叶变换红外光谱仪,专门对软质固 态样品进行测试的衰减全反射测试装置。
背景技术
目前,国内使用的衰减全反射测试装置一般都是通用装置,即对 各种形态的样品都采用同种测试装置检测。用一种装置测量各种形态 样品,测量精度难以一致。实用新型内容本实用新型提供一种结构简单、灵活、方便的新型衰减全反射测 试装置,专门用于检测软质固态样品。为实现上述目的,本实用新型的解决方案是 一种衰减全反射测 试装置,其结构为 一底座通过一支撑柱固定有一用于放置待测样品 的样品承载板,支撑柱下部形成一梯形台,梯形台上固定有反射镜; 在承载板上一侧固定有一支撑臂,支撑臂枢接一旋转臂一端,而旋转 臂的另 一端固定有一压力定位装置对准样品承载板中央的玻璃板。所述的压力定位装置包括一金属套筒、 一弹簧及一压头;弹簧是 设于金属套筒中,弹簧上下端分别连接微调旋钮及压头。所述的样品承载板中央设有一安置圆形玻璃板的圓孔。所述的旋转臂通过一松紧旋钮与支撑臂相连。采用上述方案后,本实用新型具有如下的优点其一,本实用新型的衰减全反射测试装置,结构简单、使用方便;其二,具有压力定位功能,保证样品与玻璃板的紧密接触,也可 避免玻璃板受到过大的压力而破裂。


图1为本实用新型的外形结构示意图;图2为本实用新型的旋转示意图;图3为本实用新型的压力定位结构剖面图。
具体实施方式

本实用新型的基本原理光线入射到平面反射镜后发生反射,反射光线穿过位于样品承载板中央的玻璃板,在玻璃板与样品的分界面 发生全反射,全反射光线入射到另一侧的平面反射镜,经反射镜反射 后进入后续系统。配合图1至图3所示,本实用新型的衰减全反射测试装置,其包 括一圓形底座12,底座12上固定有一支撑柱9,支撑柱9的下部形 成一梯形台11,梯形台11上固定有反射镜10;在支撑柱9的上端固 定有一样品承载板7,样品承载板7的中央设有一圓孔71用于安置 玻璃板8,其上用于放置待测样品;在承载板7上一侧固定有一支撑 臂6,旋转臂4通过一松紧旋钮5与支撑臂6相连,支撑臂可6绕该 松紧旋钮5转动,便于不同尺寸样品的放置,支撑臂6旋转到位后可 旋紧松紧旋钮5将其固定;而旋转臂6的另 一端固定有一压力定位装 置A对准样品承载板7中央的玻璃板8;压力定位装置A包括一金 属套筒2、 一弹簧13及一压头3;弹簧13是设于金属套筒2中,金 属套筒2下端是一压头3,顶端是一微调旋钮l,压头与微调旋钮之 间有一弹簧13连接,旋转微调旋钮1即可压缩弹簧13,推动压头3 向下压进,当压头3接触样品表面后并对样品产生一定压力时,弹簧 13被压缩到一定程度,这时再旋转微调旋钮1就无法继续推进压头3, 这样就既保证了样品与玻璃板8的紧密接触,又避免了压头3推进距 离过大,致使玻璃板8承受过大的压力而破裂。以上所述,仅为本实用新型较佳实施例而已,故不能以此限定本 实用新型实施的范围,即依本实用新型申请专利范围及il明书内容所 作的等效变化与修饰,皆应仍属本实用新型专利涵盖的范围内。
权利要求1、一种衰减全反射测试装置,其特征在于一底座通过一支撑柱固定有一用于放置待测样品的样品承载板,支撑柱下部形成一梯形台,梯形台上固定有反射镜;在承载板上一侧固定有一支撑臂,支撑臂枢接一旋转臂一端,而旋转臂的另一端固定有一压力定位装置对准样品承载板中央的玻璃板。
2、 如权利要求1所述的衰减全反射测试装置,其特征在于压 力定位装置包括一金属套筒、 一弹簧及一压头;弹簧是设于金属套筒 中,弹簧上下端分别连接微调旋钮及压头。
3、 如权利要求1所述的衰减全反射测试装置,其特征在于样 品承载板中央设有一安置圆形玻璃板的圆孔。
4、 如权利要求1所述的衰减全反射测试装置,其特征在于旋 转臂通过一松紧旋钮与支撑臂相连。
专利摘要本实用新型公开了一种衰减全反射测试装置,其特征在于一底座通过一支撑柱固定有一用于放置待测样品的样品承载板,支撑柱下部形成一梯形台,梯形台上固定有反射镜;在承载板上一侧固定有一支撑臂,支撑臂枢接一旋转臂一端,而旋转臂的另一端固定有一压力定位装置对准样品承载板中央的玻璃板。本实用新型的装置结构简单、体积小巧,具有一定的使用灵活性;且保证样品与玻璃板的紧密接触,也可避免玻璃板受到过大的压力而破裂,以确保测量精度。
文档编号G01N21/17GK201041545SQ20072000715
公开日2008年3月26日 申请日期2007年5月22日 优先权日2007年5月22日
发明者陈晓汀 申请人:陈晓汀
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