专利名称：将特征值储存区转换为撷取数据扩充区的系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种内存的系统与内存转换的方法，尤指一种适用于将测 试机台内部的特征值储存区转换为撷取数据扩充区的系统及方法。
背景技术：
请参阅图1，图1是本发明撷取数据存储器重新配置前的系统架构图。
此图亦为传统测试设备的系统架构图。首先，由数字电路20自特征值储 存区11读取特征值，再通过驱动器30将特征值输入至待测芯片4的输入 脚41中。
随后，待测芯片4的输出脚42相应地输出测试数据，并通过比较器3， 将待测芯片回授信号运算后储存于系统撷取数据存储器21中，以作为测 试纪录，以利后续分析使用。
于现有技术中，其特征值储存区11远大于撷取数据存储器21的储存 容量。就一般消费性芯片而言，其输出数据所需储存容量并不大。因此， 将输出数据储存于现有的撷取数据存储器21做为除错己是足够。
但对于特殊的芯片测试而言，其输出脚位的输出值所需储存容量很 大，而且需将芯片输出数据做分析。因此，现有的撷取数据存储器21其 容量配置远不敷使用。需再另外增购内存，以扩充撷取数据存储器容21 的容量。不但提高测试成本、更占用测试机台的空间。
发明内容
本发明目的是提供一种将测试机台内部的特征值储存区转换为撷取 数据扩充区的系统，其包括一可配置内存、 一待测芯片、及一控制器。
可配置内存包括有一特征值储存区。待测芯片包括至少一输入脚、及 至少一输出脚。控制器其分别与可配置内存、待测芯片电性连接。
待测芯片的至少一输入脚透过控制器对应至特征值储存区、及待测芯 片的至少一输出脚透过控制器对应至控制器的撷取数据存储器。
其中，于测试期间控制器检测待测芯片，其输出值所需储存容量，大 于控制器的撷取数据存储器所能储存最大容量，控制器指定可配置内存的 特征值储存区的部分内存区块为撷取数据存储器，用以扩充系统的撷取数 据存储器的容量。
再者，上述的控制器包括一数字电路、 一比较器、及一驱动器。比较 器可与数字电路接受待测芯片输出值的高低电位基准。驱动器可与数字电 路电性连接，用以将可配置内存的特征值储存区的数据，驱动输出至待测 芯片。除前述的系统架构外，本发明的另一特色是在下列执行方法，包括 下列步骤
(A) 提供一控制器、 一可配置内存、及一待测芯片，可配置内存包括 一特征值储存区，特征值储存区所储存的数据透过控制器输入至该待测芯 片的至少一输入脚，待测芯片的透过至少一输出脚将测试结果输出并储存 于控制器的一撷取数据存储器内；
(B) 控制器检测该待测芯片，待测芯片的输出值所需储存容量，大于 撷取数据存储器所能储存最大容量；
(C) 控制器指定至少一特征值储存区的部分内存区块为一扩充储存
区；(D) 令扩充储存区加上撷取数据存储器，总容量大于待测芯片于测试 期间，输出值所需储存容量；以及
(E) 将扩充储存区配置为一撷取数据扩充区，用以扩充撷取数据存储 器的容量。
上述方法可由软件程序写成以逐步执行的。因此，本发明的方法可以 以计算机语言撰写后再加载一控制器中，以利执行。
图1是本发明撷取数据存储器重新配置前的系统架构图； 图2是本发明撷取数据存储器重新配置后的系统架构图； 图3是本发明一较佳实施例的流程图4是本发明待测芯片输/出入脚对应至重新配置后的可配置内存内
对应的储存区块示意图。
主要组件符号说明
可配置内存l
扩充储存区12 控制器2
撷取数据存储器21 驱动器30 输入脚41
特征值储存区11 撷取数据扩充区120 数字电路20 比较器3 待测芯片4 输出脚4具体实施例方式
请一并参阅图1及图2，图1为本发明撷取数据存储器重新配置前的 系统架构图，图2是本发明撷取数据存储器重新配置后的系统架构图。如图所示，本发明为一种将测试机台内部的特征值储存区转换为撷取数据扩
充区的系统，主要包括-一可配置内存l、 一待测芯片4、及一控制器2。而 且，控制器2包括一数字电路20、 一比较器3、及一驱动器30。
于本例中，可配置内存l包括一特征值储存区]丄待测芯片4，包括 至少一输入脚41、及至少一输出脚42。控制器2，其分别与可配置内存1、 待测芯片4电性连接。控制器2包括一撷取数据存储器21。待测芯片4 的输入脚41透过控制器2将可配置内存1的特征值储存区11的数据送出； 待测芯片4的输出脚42透过控制器2，将回授信号运算后储存于的撷取数 据存储器21。
请一并参阅图3。其是本发明一较佳实施例的流程图。数字电路 如图3所示，测试机台记忆体重新整合、规化开始(步骤801)，此后， 于测试期间，数字电路20检测待测芯片4其输出值所能储存最大容量， 是否大于数字电路20内部的撷取数据存储器21，所能储存最大容量(歩骤 802)。
如果待测芯片4输出值大于数字电路20内部的撷取数据存储器21所 能储存最大容量。接着，数字电路20指定可配置内存1的特征值储存区 11，其部分内存区块作为一扩充储存区12(步骤804)。并令扩充储存区12 加上数字电路20的撷取数据存储器21的总容量，大于待测芯片4于测试 期间输出值所需储存容量(步骤805)。
当扩充储存区12加上撷取数据存储器21的总容量大于待测芯片4， 则数字电路20将可配置内存1的扩充储存区12，配置为另一撷取数据扩 充区120(步骤807)，用以扩充控制器2的撷取数据存储器21的容量。
请同时参阅图4。图4是本发明待测芯片输/出入脚对应至重新配置后 的可配置内存内对应的储存区块示意图。如图4所示，可配置内存l内的 储存区块已重新配置为特征值储存区ll、及撷取数据扩充区120。待测芯
7片4的输入脚41透过数字电路20，自可配置内存1的特征值储存区11， 读取特征值后自待测芯片4的输入脚41输入至待测芯片4以供测试用； 随后，待测芯片4的输出脚42透过数字电路20，将待测芯片4的测试结 果数据输入至至控制器2的撷取数据存储器21、及撷取数据扩充区120， 并储存的，以利后续分析使用。
综合上述，以本发明的一种将测试机台内部的特征值储存区转换为撷 取数据扩充区的系统及方法，即使在现有的测试机台的系统架构，也不需 另外添加内存的情况下，可以撷取数据扩充区120来增加撷取数据存储器 21的容量。因此，可以改善现有而达到结省成本及系统空间的目的。
上述实施例仅为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自 应以申请专利范围所述为准，而非仅限于上述实施例。
权利要求
1、一种将特征值储存区转换为撷取数据扩充区的系统，其特征在于包括一可配置内存，包括至少一特征值储存区；一待测芯片，包括至少一输入脚、及至少一输出脚；以及一控制器，其分别与该可配置内存、及该待测芯片电性连接，该控制器包括一撷取数据存储器，该待测芯片的该至少一输入脚透过该控制器对应至该可配置内存的该至少一特征值储存区，该待测芯片的该至少一输出脚对应至该撷取数据存储器；其中，当该控制器检测该待测芯片输出值所需储存容量，大于该撷取数据存储器所能储存最大容量时，该控制器指定该至少一特征值储存区的部分内存区块为一扩充储存区，并令该扩充储存区加上该撷取数据存储器其总容量，大于该待测芯片输出值所需储存容量，进而将该扩充储存区转换为一撷取数据扩充区，用以扩充该撷取数据存储器的容量。
2. 如权利要求1所述的系统，其特征在于，该控制器包括一数字电路、 一比较器、及一驱动器。
3. 如权利要求2所述的系统，其特征在于，该比较器与该数字电路电 性连接，以将该待测芯片输出的信号运算后，并储存至撷取数据存储器。
4. 如权利要求2所述的系统，其特征在于，该驱动器与该数字电路电 性连接，用以将该至少一特征值储存区其特征值，驱动输出至该待测芯片。
5. —种将特征值储存区转换为撷取数据扩充区的方法，其特征在于包 括下列步骤(A)提供一控制器、 一可配置内存、及一待测芯片，该可配置内存包 括一特征值储存区，该特征值储存区所储存的数据透过该控制器输入至该待测芯片的至少一输入脚，该待测芯片的透过至少一输出脚将测试结果输出并储存于该控制器的一撷取数据存储器内；(B) 该控制器检测该待测芯片，该待测芯片的输出值所需储存容量， 大于该撷取数据存储器所能储存最大容量；(C) 该控制器指定该至少一特征值储存区的部分内存区块为一扩充储存区；(D) 令该扩充储存区加上该撷取数据存储器，总容量大于该待测芯片 于测试期间，输出值所需储存容量；以及(E) 将该扩充储存区配置为一撷取数据扩充区，用以扩充该撷取数据 存储器的容量。
6. 如权利要求5所述的方法，其特征在于，该控制器包括一数字电路、 一比较器、及一驱动器。
7. 如权利要求6所述的方法，其特征在于，该比较器与该数字电路电 性连接，以作为比较该待测芯片输出信号于运算后储存至撷取数据存储 器°
8. 如权利要求6所述的方法，其特征在于，该驱动器与该数字电路电 性连接，用以将该可配置内存的数据驱动输出至该待测芯片。
全文摘要
本发明一种将特征值储存区转换为撷取数据扩充区的系统及方法，包括一可配置内存、一待测芯片、及一控制器。其中，于测试期间控制器检测待测芯片，其输出值所需储存容量，大于系统撷取数据存储器所能储存最大容量时，则控制器指定特征值储存区的部分内存区块转换为撷取数据存储器，使其容量大于待测芯片于测试期间输出值所需储存容量。控制器将特征值储存区转换为一撷取数据扩充区，用以扩充系统的撷取数据存储器的容量。
文档编号G01R31/28GK101477171SQ20081000190
公开日2009年7月8日 申请日期2008年1月3日 优先权日2008年1月3日
发明者梁文山, 蔡佳宏 申请人:京元电子股份有限公司