专利名称：具有检测器透镜的光学编码器的制作方法
技术领域：
本发明涉及具有检测器透镜的光学编码器。
技术背景光学编码器例如被用来监控诸如曲轴的轴的运动。光学编码器能够就 轴的位置以及/或回转圈数对轴的运动进行监控。光学编码器通常利用安装 至轴的编码盘来在轴及编码盘转动时对光进行调制。在透射式编码盘中， 当光穿过编码盘上透射区域的轨迹时对光进行调制。透射区域被非透射区 域分隔开。在反射式编码盘中，当光从编码盘上的反射区域的轨迹反射开 时对光进行调制。反射区域被非反射区域分隔开。当响应于编码盘的转动 来调制光时，从接收调制光的光电传感器阵列产生电流信号。该电流信号 例如被用于确定轴的位置以及/或回转圈数。图1示出了常规透射式光学编码器系统10。光学编码器系统10包括 编码器12以及透射式编码盘14。编码器12包括光源16、准直透镜20以 及扁平封装检测器18。光源16及准直透镜20也可被统称为发射器。光源 16发射光，光被准直透镜20准直并在其穿过编码盘14的透射区域时被调 制。检测器18包括诸如对调制光进行检测的光电二极管阵列的光电传感 器阵列，例如光电二极管阵列。通常，光电传感器具有与编码器件的分辨 率相同的分辨率。应当注意，常规透射式光学编码器在检测器18的位置 不具有透镜。当光学编码器被暴露至诸如打印机环境中的悬浮微粒污染环境时，一 些悬浮微粒会沉积在准直透镜、编码器件以及检测器模组的表示上。类似 的，取决于对光学编码器的具体应用环境，其他诸如泥土、尘埃、涂料等 环境污染物也会沉积在光学检测器的表面上。这些沉积的悬浮微粒以及其 他污染物会散射并/或吸收一部分准直光，由此导致较少的光到达检测器。这降低了所传输的功率以及编码标尺(code scale)图案在检测器芯片上的 对比度水平。由此导致编码器性能劣化。发明内容本发明描述了设备的多种实施例。在一个实施例中，该系统是一种透 射式光学编码系统的光学编码器。该光学编码器包括发射器、检测器以及 检测器透镜。发射器包括光源及准直透镜。检测器包括多个光电传感器以 检测来自发射器的光。检测器透镜与多个光电传感器对准以将光导向多个 光电传感器。该光学编码器的实施例提供了更大的有效感应面积，到检测 器的更大功率传输，以及更长的编码器使用寿命。还描述了设备的另一实施例。在一个实施例中，设备包括用于发射光 信号的装置，用于调制光信号的装置，用于检测经调制光信号的装置，以 及用于提供比光电传感器阵列的感应面积更大的有效感应面积的装置。还 描述了该设备的其他实施例。还描述了方法的实施例。在一个实施例中，该方法是用于制造透射式光学编码系统的光学编码器的方法。所述方法包括提供发射器以产生光信号；相对于发射器连接编码器件，其中，编码器件被设置成对光信号进 行调制；邻近编码器件并与发射器相对地安装检测器，其中，检测器被设 置成对经调制的光信号进行检测；以及将检测器透镜安装在编码器件与检 测器之间，其中，检测器透镜被设置成提供比检测器的感应面积更大的有 效感应面积。还描述了该方法的其他实施例。结合附图(其以示例方式示出本发明的原理)，阅读以下详细描述， 可以了解本发明的实施例的其他方面及优点。
图1示出了常规透射式光学编码器系统。图2示出了透射式光学编码系统的一个实施例的示意性电路图。 图3示出了编码盘的一个实施例的部分示意图。图4示出了光电传感器阵列的一个实施例相对于编码盘轨迹的示意性布局。图5示出了线性编码条的一个实施例的示意图。图6示出了光学编码器的一个实施例的示意图，其中光源被封装在准 直透镜中且检测器被封装在检测器透镜中。图7示出了光学编码器的另一个实施例的示意图，其中光源通过气隙 与准直透镜分隔开，而检测器通过另一气隙与检测器透镜分隔开。图8A示出了圆柱检测器透镜的一个实施例的剖视图。 图8B示出了图8A的圆柱检测器透镜的立体图。图8C示出了相对于编码盘轨迹及光电传感器阵列定向的圆柱检测器 透镜的一个实施例的示意性布局。图9A示出了圆柱菲涅耳(Fresnel)检测器透镜的一个实施例的剖视图。图9B示出了图9A的圆柱菲涅耳检测器透镜的立体图。 图IOA示出了球检测器透镜的一个实施例的剖视图。 图IOB示出了图IOA的球检测器透镜的立体图。 图11A示出了球菲涅耳检测器透镜的一个实施例的剖视图。 图IIB示出了图IIA的球菲涅耳检测器透镜的立体图。 图12示出了制造用于透射式光学编码系统的光学编码器的方法的一 个实施例的示意性流程图。在以下描述中，使用类似的参考标号来表示类似的器件。
具体实施方式
图2示出了透射式光学编码系统100的一个实施例的示意性电路图。 示出的透射式光学编码系统100包括编码盘104、编码器106、译码器108 以及微处理器110。尽管将在以下参考图3对编码盘104进行更详细的描 述，但在这里做一简要描述，作为图2所示透射式光学编码系统100的工 作方式的大致情况。大体上，编码盘104包括具有透射区域142及非透射区域144的轨迹 (track) 140。编码器106中的发射器120产生入射在编码盘轨迹140上的光(即，光信号)。当例如通过电动机轴(未示出)使编码盘104旋转时，入射光通过轨迹140的透射区域142穿过编码盘104，但不能通过轨 迹140的非透射区域144穿过。因此，光以经调制的模式(即，接通-切 断-接通-切断...)穿过轨迹140。编码器106中的检测器130检测经调制的 光信号，并作为响应产生一个或更多周期性信道信号(例如，CHa及 CHb)。在一个实施例中，然后将这些信道信号传输至译码器108，其产 生计数信号并将该计数信号传输至微处理器110。微处理器IIO例如使用 计数信号来评估连接有编码盘104的电动机轴或其他运动部件的运动。其 他实施例可以应用其他类型的编码盘104，例如业内公知的多轨迹绝对位 置编码盘。在一个实施例中，编码器106包括发射器120及检测器130。发射器 120包括诸如发光二极管(LED)的光源122。尽管可以应用其他光源或多 个光源，但为方便起见，以下将光源122称为LED。在一个实施例中， LED 122被通过限流电阻器Rt的驱动器信号VujD驱动。上述驱动器电路 的细节是公知的。发射器120的一些实施例还可包括准直透镜124，该透 镜与LED 122对准以将投射光以特定路径或图案进行导向。例如，准直透 镜124可将适当的平行光束导向到编码盘轨迹140上。在一个实施例中，检测器130包括一个或更多诸如光电二极管的光电 传感器132。例如可以集成电路(IC)来实现光电传感器132。尽管可以 应用其他类型的光电传感器132，但方便起见，在这里将光电传感器132 称为光电二极管。在一个实施例中，特别地设置光电二极管132以检测透 射光的特定图案或波长。在一些实施例中，可以使用数个光电二极管132 以检测来自多个轨迹140 (包括位置轨迹及变址(index)轨迹，或位置及 变址轨迹的组合)的经调制光信号。此外，可以将光电二极管132布置为 与编码盘104的半径及设计对应的图案。这里将光电二极管132的各种不 同图案称为光电传感器阵列。由产生信道信号(CHa及CHb)的信号处理电路134来对由光电二极 管132产生的电信号进行处理。信号处理电路134还可产生其他信号，包 括其他信道信号、互补信道信号或变址信号，这些信号可用来确定编码盘104的旋转位置或旋转圈数。在一个实施例中，检测器130还包括一个或更多个比较器(未示出) 以便于信道信号的生成。例如，可通过比较器将来自光电二极管132的模 拟信号(及其互补信号)转换为与数字输出信号兼容的晶体管-晶体管逻辑 (TTL)。在一个实施例中，这此输出信道信号可表示经调制光信号的计 数及方向信息。此外，编码器106包括将经调制光信号导向光电二极管132的检测器 透镜136。在一个实施例中，检测器透镜136安装在检测器130前方以更 好地进行光提取并确保有足够的功率传输到检测器130上。如下所述，可 以采用检测器透镜136的各种不同的实施例。相较于不具有检测器透镜 136的常规编码器，检测器透镜136的一些实施例是有利的。例如，检测 器透镜136的一些实施例增大了检测器130处的功率传输。此外， 一些实 施例改进了检测器130处的编码标尺图案的影像的对比度水平。此外，因 为具有较大表面积的检测器透镜136的编码器106的性能不太会受到污染 微粒的影响，故一些实施例在涉及污染物的应用环境(例如打印机中的墨 水悬浮微粒)中延长了编码器106的使用寿命。换言之， 一些实施例可以 有较大的有效感应面积。该较大的有效感应面积增大了检测器130处的功 率传输，由此将延长编码器106的使用寿命，并改进对诸如悬浮微粒污染 环境的污染环境的抵抗性能。可以参考通过引用结合在本说明书中的美国专利4,451,731、 4,691,101 以及5,241,172来总地了解发射器、检测器以及光学编码器的其他细节。图3示出了编码盘104的一个实施例的部分示意图。具体而言，图3 示出了呈盘状的圆形编码盘104的一部分。在一些实施例中，编码盘104 可呈环状而非盘状。该示出的编码盘104包括轨迹140，其可以是与编码 盘104同心的圆形轨迹。在一个实施例中，轨迹140包括完全包围编码盘 104的连续重复图案。尽管也可采用其他图案，但示出的图案包括交替的 透射区域142及非透射区域144。在一个实施例中，透射区域142是编码 盘104的透明区域，或者是编码盘104中的缺口 (例如，孑L)。非透射区 域144例如是编码盘104中的非透明区域，或者是编码盘104中的反射区域。在一个实施例中，与非透射区域144对应的表面积上涂附吸收性材 此外，应当注意，在一些实施例中，可以用非圆形编码器件来替代圆形编码盘104。例如，可以使用诸如编码条170的线性编码器件(见图5 及相关描述)。在另一实施例中，如美国专利5,017,776中所揭示，可以 用螺旋形条状图案来实现圆形编码盘104。或者，可在各种不同形状的编 码器件上应用其他光调制图案。如上所述，编码盘104以及轨迹140的旋转引起检测器130处对透射 光信号的调制，以测量编码盘104的位置变化。编码盘104的其他实施例 可以包括其他轨迹，例如业内公知的附加位置轨迹或变址轨迹。在示出的实施例中，透射轨迹区域142及非透射轨迹区域144具有相 同的周向尺寸(也称为宽度尺寸)。换言之，中间的非透射轨迹区域144 具有与透射轨迹区域142相同的宽度尺寸。编码盘104的分辨率是轨迹区 域140及142的宽度尺寸的函数(由跨度"x"表示)。在一个实施例 中，非透射轨迹区域144的宽度尺寸是在连续的透射光脉冲之间产生可检 测到的缝隙所需的面积量的函数。透射及非透射轨迹区域140及142的径 向(即高度)尺寸(由跨度"y"表示)是产生足够的光电流量所需的面 积量的函数(例如，需要的光电流越大，需要的面积就越大，由此，因为 面积等于"x"乘以"y"，故需要更大的"y")。通常，使"y"尺寸比 光电二极管132的高度大很多。图4示出了光电传感器阵列150的一个实施例相对于编码盘轨迹140 的示意性布局。还将光电传感器阵列150称为光电二极管阵列。编码盘轨 迹140的示例上覆盖有光电二极管阵列150以示出各个光电二极管阵列器 件(即，光电二极管132)相对于编码盘轨迹140的区域的示意性尺寸。 尽管光电二极管阵列150与圆形编码盘轨迹140对应，但其他实施例也可 采用布置为与线性编码条170的线性轨迹176对准的光电二极管阵列 150。示出的光电二极管阵列150包括数个单独的光电二极管，包括产生A 信号的A信号光电二极管152、产生B信号的B信号光电二极管154、产生A/信号的A/信号光电二极管156以及产生B/信号的B/信号光电二极管 158。需要澄清的是，"A/"读作"A杠"而"A/"读作"B杠"。业内公 知上述对位置光电二极管152， 154， 156及158的设计以及由位置光电二 极管152， 154， 156及158产生的对应的电信号。位置光电二极管152， 154， 156及158的周向尺寸(也称为宽度尺寸，由跨度"w"表示)与对 应的编码盘轨迹140的位置轨迹区域142及144的宽度尺寸相关。在图4 的实施例中，每个位置光电二极管152， 154， 156及158均具有与轨迹 140的透射及非透射轨迹区域142及144的一半宽度对应的宽度(即， "w"等于"x/2")。光电二极管阵列150的其他实施例可包括业内公知 的其他光电二极管132。图5示出了线性编码条170的一个实施例的示意图。除了可以使用编 码条170来监控大致直线方向上的运动之外，编码条170的功能与上述编 码盘104的功能大致类似。编码条170包括作为位置区域的透射区域172 及非透射区域174。在一个实施例中，每个位置轨迹区域172及174均具 有大致相同的宽度尺寸(由"X"表示)。类似的，位置轨迹区域172及 174具有大致相同的高度尺寸(由"Y"表示)。线性编码条170的其他实 施例可包括业内公知的其他轨迹区域。图6示出了光学编码器180的一个实施例的示意图，其中，光源122 被封装在准直透镜124中且检测器130被封装在检测器透镜136中。尽管 可以使用其他类型的封装材料，但可用于形成透镜124及136的封装材料 的一个示例是环氧化合物。在一些实施例中，尽管可以使用不同的封装材 料，但也可以用相同的材料来制造准直透镜124及检测器透镜136。在示 出的实施例中，光源122产生光信号，所述光信号穿过准直透镜124的封 装传播并折射成准直光束。准直光束入射在编码盘104上，并在编码盘 104旋转时穿过编码盘轨迹140的一个或更多个透射区域142。穿过透射 区域142的光然后入射在检测器透镜136上，其将光导向检测器130的光 电传感器阵列150。如上所述，以此方式封装检测器130可有效地增大检 测器的感应面积，并有助于减小表示污染物的负面影响。图7示出了光学编码器190的另一实施例的示意图，其中光源122通过气隙192与准直透镜124分隔开并且检测器130通过另一气隙194与检 测器透镜136分隔开。尽管该示出的实施例在发射器120及检测器130两 者处均具有气隙192及194，但其他实施例也可仅在发射器120或者检测 器130处具有单一气隙。换言之， 一些实施例在光源122与准直透镜124 之间具有气隙192，同时检测器130被检测器透镜136封装。或者， 一些 实施例在检测器130与检测器透镜136之间具有气隙194，同时光源122 (或者整个发射器120)被准直透镜124封装。应当理解，对于光学编码器190在光源122与准直透镜124之间具有 气隙192的情况，光学编码器190的壳体(未示出)或其他安装结构可容 纳光源122及准直透镜124，由此有效地保护光源122而防止被污染。例 如，可将光源122安装在随后由准直透镜124覆盖的凹部内。或者，可以 设计准直透镜124并将其安装在光源122上，使得一空腔容纳光源122。 在其他实施例中，可将准直透镜124直接安装在光源122的顶部。类似的，虽然光学编码器190在检测器130与检测器透镜136之间具 有气隙194，但可将检测器透镜136安装在容纳检测器130的壳体(未示 出)的凹部的顶部上。或者，检测器透镜136可以在检测器透镜136的后 侧具有凹部以容纳检测器130。在其他实施例中，可将检测器透镜136直 接安装在扁平封装检测器130的顶部上。图8A示出了圆柱检测器透镜200的一个实施例的剖视图。图8B示出 了图8A的圆柱检测器透镜200的立体图。在一个实施例中，圆柱检测器 透镜200远大于为其设计的光电传感器阵列150的表面积。图8C示出了圆柱检测器透镜200的一个实施例相对于编码盘轨迹140 及光电传感器阵列150定位的示意性布局。在一个实施例中，使圆柱检测 器透镜200相对于光学编码器106的其他组件定位，使得如叠加在光电传 感器阵列150上的箭头所示，包含圆柱透镜表面轮廓的剖面(见图8A) 与编码器106的扫描方向垂直。换言之，使圆柱检测器透镜200定位使得 圆柱剖面与编码器件104运动的扫描方向大致垂直，以使圆柱检测器透镜 200保持检测器130自身的分辨率。虽然在光电传感器阵列150的高度方 向上存在放大因数，但在光电传感器阵列150的宽度方向上则不存在放大12因数。通过在光电传感器阵列150的高度方向上引入放大因数，圆柱检测器透镜200在包含透镜表面轮廓的方向上增大了有效感应面积。但是，该放大因数不会影响在箭头所示的编码器扫描方向上的准直光束质量。因此，在编码标尺分辨率与检测器130的光电传感器分辨率之间，在光电传感器 阵列150的宽度方向上不存在放大因数。此外，通过圆柱检测器透镜200提供的较大的有效感应面积增大了在 检测器130上的功率传输，由此延长了编码器106的使用寿命。编码器 106对抗诸如墨水悬浮微粒的污染物的性能更强。图9A示出了圆柱菲涅耳检测器透镜202的一个实施例的剖视图。图 9B示出了图9A的圆柱菲涅耳检测器透镜202的立体图。所示的圆柱菲涅 耳检测器透镜202起与上述圆柱检测器透镜200大致相同的作用。但是， 圆柱菲涅耳检测器透镜202的实施例可具有比图8A的圆柱检测器透镜200 更低的轮廓。该较低的轮廓可降低制造成本，或者可允许编码器106的实 施例比使用非圆柱菲涅耳检测器透镜的实施例更薄。尽管示出了圆柱菲涅 耳检测器透镜202的具体透镜图案，但其他实施例也可采用具有更多或更 少菲涅耳波带的其他透镜图案。此外，其他实施例还可包括非圆柱器件， 以改进圆柱菲涅耳检测器透镜202在一个或更多个方向上的方向性或放大 率。图10A示出了球检测器透镜204的一个实施例的剖视图。图IOB示出 了图10A的球检测器透镜204的立体图。虽然球检测器透镜204的一些实 施例提供了例如与圆柱检测器透镜200类似的功能，但在球检测器透镜 204与圆柱检测器透镜200之间还是存在一些差异。就球检测器透镜204 的全向形状而言，放大因数与球检测器透镜204的所有方向(而非单一方 向)均相关。因此，球检测器透镜204的特征在于，使检测器芯片130的 光电传感器阵列150上的编码标尺影像(包括在扫描运动的方向上)缩 倍。因此，可以使用较小的集成电路(IC)尺寸，由此允许降低成本并縮 小编码器封装设计。此外，球检测器透镜204的一些实施例可包括呈球形或具有至少部分非球形表面轮廓。类似于圆柱检测器透镜200，球检测器透镜204也可提 供较大的有效感应面积，由此增大检测器130处的功率传输。这延长了编 码器106的使用寿命，且使编码器106对抗悬浮微粒及其他污染物的性能 更强。图11A示出了球菲涅耳检测器透镜206的一个实施例的剖视图。图 IIB示出了图11A的球菲涅耳检测器透镜206的立体图。示出的球菲涅耳 检测器透镜206起与上述球检测器透镜204大致相同的作用。但是，球菲 涅耳检测器透镜206的实施例可具有比图10A的球检测器透镜204更低的 轮廓。该更低的轮廓可降低制造成本，或者可允许编码器106的实施例比 使用非菲涅耳球检测器透镜的实施例更薄。尽管示出了球菲涅耳检测器透 镜206的具体透镜图案，但其他实施例也可采用具有更多或更少菲涅耳波 带的其他透镜图案。此外，其他实施例还可包括非球器件，以改进球菲涅 耳检测器透镜206在一个或更多方向上的放向性或放大率。图12示出了用于制造透射式光学编码系统IOO的光学编码器106的方 法210的一个实施例的示意性流程图。尽管具体参考了图2的光学编码系 统100，但是可结合上述其他光编码器系统来应用方法210的一些实施在框212，提供发射器120。发射器120被构造以产生光信号。尽管 可以采用其他类型的光源122，但发射器120的一个示例是连接至准直透 镜124的LED。在框214，将诸如编码盘104或编码条170的编码器件连 接至发射器120。尽管将编码器件连接至发射器120，但上述连接也可是 间接的，其中发射器120与编码器件并不直接实体接触。编码器件相对于 发射器120所处的位置使得来自发射器120的光信号入射在编码器件的至少一部分上就已足够。在框216，邻近编码器件并与发射器120相对地安装检测器130。换 言之，将检测器130安装在编码器件一侧，并将发射器120安装在编码器 件另一侧。该设置便于使用诸如透射式编码盘104的透射式编码器件。在 框218，将检测器透镜136安装在编码器件与检测器130之间。检测器透 镜136取决于光学编码系统100的设置可具有不同的形状。例如， 一些实施例使用圆柱检测器透镜200。光学编码系统100的其他实施例使用球检测器透镜204。或者，其他实施例可以使用上述菲涅耳透镜、非球透镜或 其他类型的检测器透镜136。应当注意，例如可同时进行框216及框218 的操作，其中检测器透镜136封装检测器130使得两者同时被安装在光学 编码系统100中。然后示出的方法210结束。尽管在这里以具体顺序示出并描述了 (一种或多种)方法的操作步 骤，但可以改变每一种方法的操作顺序使得以相反顺序来进行某些操作， 或使得可以至少部分地与其他操作同时进行某些操作。在另一实施例中， 可以间隔及/或交替方法来实施不同操作的指令或子操作。尽管已经描述并示出了本发明的具体实施例，但本发明并不限于所述 及所示的具体形式或布置。本发明的范围由所附权利要求及其等同范围界 定。
权利要求
1.一种透射式光学编码系统的光学编码器，所述光学编码器包括发射器，其包括光源以及准直透镜；检测器，其包括多个光电传感器以对来自所述发射器的所述光源的光进行检测；以及检测器透镜，其与所述检测器的所述多个光电传感器对准，其中，所述检测器透镜被设置以将所述光导向所述多个光电传感器。
2. 根据权利要求1所述的光学编码器，还包括编码器件，其被布置在所述发射器与所述检测器之间，其中，所述编 码器件被设置以根据所述编码器件相对于所述发射器的运动来对所述光进 行调制。
3. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中 所述发射器还在所述光源与所述准直透镜之间具有气隙。
4. 根据权利要求1所述的光学编码器，还包括 在所述检测器与所述检测器透镜之间的气隙。
5. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中 所述检测器透镜封装所述检测器。
6. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述检测器透镜包括圆柱检测器透镜，其中，所述圆柱检测器透镜的 方向被确定为使得圆柱剖面与编码器件的运动扫描方向大致垂直，从而使 所述圆柱检测器透镜保持所述检测器的分辨率。
7. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中 所述检测器透镜包括球检测器透镜。
8. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中 所述检测器透镜包括菲涅耳透镜。
9. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中 所述检测器透镜包括非球检测器透镜。
10. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述检测器的所述多个光电传感器被布置为光电传感器阵列，其特征 在于阵列分辨率与编码器件的编码标尺分辨率不同，其中，通过所述检测 器透镜的放大因数使所述阵列分辨率与所述编码标尺分辨率相关联。
11. 根据权利要求1所述的光学编码器，其中所述检测器透镜被相对于所述检测器安装为防止污染物沉积在所述检 测器上。
12. —种透射式光学编码系统的光学编码器，所述光学编码器包括 用于发射光信号的装置； 用于对所述光信号进行调制的装置； 用于对经过所述调制的光信号进行检测的装置；以及用于提供比光电传感器阵列的感应面积更大的有效感应面积的装置。
13. 根据权利要求12所述的光学编码器，还包括用于使所述调制光信号到所述光电传感器阵列的功率传输增大的装置。
14. 根据权利要求12所述的光学编码器，还包括 用于对所述光信号进行准直的装置。
15. 根据权利要求12所述的光学编码器，还包括用于使所述调制光信号的影像在所述光电传感器阵列处的对比度水平 提高的装置。
16. 根据权利要求12所述的光学编码器，还包括 用于防止污染物沉积在所述光电传感器阵列上的装置。
17. 根据权利要求12所述的光学编码器，还包括用于在编码器件的运动扫描方向上对所述光电传感器阵列的阵列分辨 率与所述编码器件的编码标尺分辨率之间的放大率差异进行补偿的装置。
18. —种用于制造透射式光学编码系统的光学编码器的方法，所述方 法包括提供发射器以产生光信号；相对于所述发射器连接编码器件，其中，所述编码器件被设置成对所 述光信号进行调制；邻近所述编码器件并与所述发射器相对地安装检测器，其中，所述检 测器被设置成对经所述调制的光信号进行检测；以及将检测器透镜安装在所述编码器件与所述检测器之间，其中，所述检 测器透镜被设置成提供比所述检测器的感应面积更大的有效感应面积。
19. 根据权利要求18所述的方法，其中所述检测器透镜是圆柱检测器透镜、球检测器透镜或非球检测器透镜o
20. 根据权利要求18所述的方法，还包括 将所述检测器封装在所述检测器透镜内。
全文摘要
本发明揭示了一种透射式光学编码系统的光学编码器。该光学编码器包括发射器、检测器以及检测器透镜。发射器包括光源及准直透镜。检测器包括多个光电传感器以检测来自发射器的光。检测器透镜与多个光电传感器对准以将光导向多个光电传感器。光学编码器的实施例提供了更大的有效感应面积，到检测器的更大功率传输，以及更长的编码器使用寿命。
文档编号G01D5/26GK101256088SQ20081000599
公开日2008年9月3日 申请日期2008年2月25日 优先权日2007年2月23日
发明者叶维金, 塞弗·巴哈里·宾·赛丹, 陈日隆 申请人:安华高科技Ecbu Ip(新加坡)私人有限公司