专利名称：一种透视检测系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种透视检测系统及方法，尤其涉及一种用于透视检测电子 组件的透视检测系统及方法。
背景技术：
目前， 一些高能量光源，例如，x光光源，伽玛射线源，常应用于计算
机断层影像系统中，用以检测待测物的生化及病理特性。 一般而言，于计算
机断层扫瞄(CT)中，利用X光做为光源并照射一待测检测物，以得出该待测 检测物的结构性影像。而单光子发射计算机断层扫瞄(SPECT)则使用放射性 同位素伽玛射线造影，以得出该待测检测物的功能性影像，例如，于中华民 国专利公报的公告/公开号00,565,437《整合结构性及功能性造影的计算机断 层影像系统》中使用X光、伽玛射线做为光源、幅射源来检测待测物的生化 及病理特性。因此，在高能量光源(例如，X光光源)的应用上常仅局限于计 算机断层影像系统，并常仅用于检测待测物的生化及病理特性，而并未应用 于电子组件透视检测上。
即便如中华民国专利公报的公告/公开号0，056，023《使用光及X射线的 观察装置、曝光装置及曝光方法》中所述的，然而，该专利仅适用于电路基 板/光罩基板上，而并非是针对电子组件而言，况且，于该专利中曝光装置必 须予以移动以进行曝光方法，因此，该专利仅是利用可见光、以及X光当成 曝光光源，而并非是用来检测透视电子组件的结构。
而且，如于中华民国专利公报的公告/公开号1273275《控制幅射的传感 器装置、具此传感器装置的计算机断层扫瞄装置及其制造方法》中所述的， 该专利仅为应用于计算机断层扫瞄装置中的传感器装置、及其制造方法，其 适用范围也仅局限于计算机断层扫瞄方面。
所以如何寻求一种透视检测系统及方法，让X光光源及/或可见光光源， 并非应用于如现有技术中的计算机断层扫瞄系统、装置，并非用于检测待测物的生化及病理特性，而且，也并,用予电路基^^/光罩基板的曝光上，而是 可应用于电子组件的透视检测上，乃是待解决的问题。
发明内容
本发明的主要目的便是在于提供一种透视检测系统及方法，应用于电子
组件透视检测环境中，该透视检测系统利用X光源及/或可见光源来照射所
须检测的电子组件，在无须移动检测物的情况下，得出电子组件外形轮廓影 像、以及该电子组件内部透视影像。
本发明的又一目的便是在于提供一种透视检测系统及方法，该透视检测
系统利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的电子组件，在无须移动检
测物的情况下，将所照射出的电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部 透视影像予以迭合，通过所得的检测物外表与内层的清晰影像，而可精确地 判断、检测该电子组件。
根据以上所述之目的，本发明提供一种透视检测方法，应用于电子组件
透视检测，该透视检测方法包含以下程序
在电子组件无须移动的情况下，产生出X光光源及/或可见光光源并照 射该电子组件；
光源穿透该电子组件后，将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增 强；以及
将由可见光照射该电子组件所形成的外形轮廓影像、以及X光照射该电 子组件所形成的内部透视影像予以迭合；通过所得的该电子组件的迭合影 像，而判断、检测该电子组件。
本发明还提供了一种透视检测方法，应用于电子组件透视检测，该透视 检测方法包含以下程序
于电子组件无须移动的情况下，以光源模块所产生的X光光源及/或可 见光光源照射于承载模块上的该电子组件；
该X光光源穿透于该承载模块上的该电子组件后，于该承载模块下方的 X光转换/影像增强装置会将该X光转换为微弱的荧光，并将影像予以增强; 以及
于该X光转换/影像增强装置下方的镜头以及CCD照相机，将由可见光
7照射该电子组件所形成的外形轮廓影像r以及x光照射该电子组件所形成的
内部透视影像予以迭合，并由该CCD照相机输出迭合影像；通过所得的该
电子组件的迭合影像，而判断、检测该电子组件。
在所述的该透视检测方法中，所述电子组件为发光二极管。 在所述的该透视检测方法中，所述外形轮廓影像与该内部透视影像同步
同时形成。
在所述的该透视检测方法中，所述外形轮廓影像的形成先于该内部透视 影像。
在所述的该透视检测方法中，所述内部透视影像的形成先于该外形轮廓 影像。
本发明进一步提供了一种透视检测系统，应用于电子组件透视检测，该
透视检测系统包含
光源模块，该光源模块用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或 可见光光源；
承载模块，该承载模块用以承载该电子组件，并让该x光光源及/或该
可见光光源照射电子组件；以及 成像模块，该成像模块包含
X光转换/影像增强装置，该X光转换/影像增强装置会将该X光转换为 微弱的荧光并将影像予以增强； 镜头；以及
CCD照相机；于该X光转换/影像增强装置下方的该镜头以及该CCD照 相机，将所照射出的该电子组件外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合， 并由该CCD照相机输出迭合影像；通过由所得的该电子组件的该迭合影像， 而可精确地判断、检测该电子组件。
在所述的该透视检测系统中，所述光源模块包含
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及 可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需 的可见光光源。
在所述的该透视检测系统中，该光源模块包含
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及二个可见光灯源，该二个可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子 组件所需的可见光光源；该二个可见光灯源分别位于该承载模块的上下二
侧，于该承载模块上侧的该个可见光灯源为背光的型式，而于该承载模块下 侧的该个可见光灯源为正光的型式。
在所述的该透视检测系统中，该镜头为长工作距离变焦镜头，该光源模 块包含
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及 可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需 的可见光光源。
在所述的该透视检测系统中， 所述光源模块包含
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及 可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需
的可见光光源;以及
该成像模块还包含同轴光灯源、以及棱镜，该同轴光灯源位于该镜头的 下方处属于正光的一种，该棱镜用以分光该同轴光灯源。 在所述的该透视检测系统中，
所述光源模块包含
X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及
二个可见光灯源，该二个可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子
组件所需的可见光光源；该二个可见光灯源分别位于该承载模块的上下二 侧，于该承载模块上侧的该个可见光灯源为背光的型式，而于该承载模块下 侧的该个可见光灯源为正光的型式；以及 该成像模块还包含
于水平方向的同轴光灯源、镜头、CCD照相机、以及45度反射镜；其 中，该成像模块为双CCD同步观测的结构，于该承载模块下方装设该45度 反射镜，该可见光外形轮廓影像可反射到右侧水平轴方向上并由水平方向的 该CCD照相机所接收；该X光内部透视影像可直接穿透该45度反射镜，由 该45度反射镜下方的垂直方向上的该X光转换/影像增强装置、该镜头、以 及该CCD照相机去取像而得出该电子组件的该内部透视影像，按该成像模块的双ccD同步观测结构，使该外形轮fr影像与该内部透视影像可同步、 同时取得。
在所述的该透视检测系统中，所述电子组件为发光二极管。 在所述的该透视检测系统中，所述外形轮廓影像的形成先于该内部透视 影像。
在所述的该透视检测系统中，所述内部透视影像的形成先于该外形轮廓 影像。
本发明的透视检测系统及方法包含以下优点
1. 透视检测系统利用X光源及/或可见光源来照射所须检测的电子组件， 在无须移动检测物的情况下，得出电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件 内部透视影像。
2. 在无须移动检测物的情况下，将所照射出的电子组件外形轮廓影像、 以及该电子组件内部透视影像予以迭合，通过所得的检测物外表与内层的清 晰影像，而可精确地判断、检测该电子组件。
图1为一系统示意图，用以显示说明本发明实施例中的透视检测系统的
系统架构；
图2为一流程图，用以显示说明利用本发明实施例中的透视检测系统以 进行透视检测方法的流程步骤；
图3为一流程图，用以显示说明利用本发明实施例中的透视检测系统以 进行透视检测方法的详细的流程步骤；
图4为一示意图，用以显示说明如图1中本发明实施例中的透视检测系 统的一实施例；
图5为一示意图，用以显示说明本发明实施例中的透视检测系统的可见 光源取像；
图6为一示意图，用以显示说明本发明另一实施例中的透视检测系统的 可见光源取像；
图7为一示意图，用以显示说明本发明再一实施例中的透视检测系统的 可见光源取像；图8为一示意图，用以显示说"明本发明叉一实施例中的透视检测系统的 可见光源取像;以及
图9为一示意图，用以显示说明本发明又一实施例中的透视检测系统的 可见光源取像。
具体实施例方式
图1为一系统示意图,用以显示说明本发明的透视检测系统的系统架构。 如图1所示，透视检测系统1包含光源模块2、承载模块3、以及成像模块4。
光源模块2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/或可见光光源。
承载模块3用以承载检测物5，并让X光光源及/或可见光光源照射检测 物5,在此，检测物为电子组件。
成像模块4包含X光转换/影像增强装置41、镜头42、以及CCD照相 机43。当X光光源穿透于承载模块3上的检测物5后，于承载模块3下方 的X光转换/影像增强装置41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像 予以增强。此时，于该X光转换/影像增强装置41下方的输出面，已呈现正 常可观看的影像。于该X光转换/影像增强装置41下方的镜头42以及CCD 照相机43，将所照射出的检测物5(电子组件)外形轮廓影像51、以及该检测 物(电子组件)内部透视影像52予以迭合，并由CCD照相机43输出迭合影像 53。使用者通过所得的检测物(电子组件)外表与内层的清晰迭合影像53，而 可精确地判断、检测该电子组件。
图2为一流程图，用以显示说明利用本发明的透视检测系统以进行透视 检测方法的流程步骤。如图2中所示，首先，步骤ll中，检测物(电子组件) 无须移动的情况下，光源模块2产生X光光源及/或可见光光源并照射于承 载模块3上的检测物，并进到步骤12。
步骤12中，光源穿透于承载模块3上的检测物5后，将X光转换为微 弱的荧光，接着，并将影像予以增强，并进到步骤13。
步骤13中，于该X光转换/影像增强装置41下方的镜头42以及CCD 照相机43，将所照射出的检测物5(电子组件)外形轮廓影像51、以及该检测 物(电子组件)内部透视影像52予以迭合，并由CCD照相机43输出迭合影像 53，其中，外形轮廓影像51由可见光照射检测物5所形成，而内部透视影像52则由X光照射检测物5所形成，在此，"外形轮廓影像51可与内部透视 影像52同步同时形成，或者，外形轮廓影像51的形成先于内部透视影像52， 或内部透视影像52的形成先于外形轮廓影像51，端视透视检测系统1的操 作与施行而定；使用者通过所得的检测物(电子组件)外表与内层的清晰迭合 影像53，而可精确地判断、检测该电子组件。
图3为一流程图，用以显示说明利用本发明的透视检测系统以进行透视 检测方法的详细的流程步骤。如图3中所示，首先，步骤31中，于检测物(电 子组件)无须移动的情况下，用光源模块2所产生的X光光源及/或可见光光 源照射于承载模块3上的检测物，并进到步骤32。
步骤32中，当X光光源穿透于承载模块3上的检测物5后，承载模块3 下方的X光转换/影像增强装置41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将 影像予以增强；此时，该X光转换/影像增强装置41下方的输出面，已呈现 正常可观看的影像，并进到步骤33。
步骤33中，该X光转换/影像增强装置41下方的镜头42以及CCD照 相机43，将所照射出的检测物5(电子组件)外形轮廓影像51、以及该检测物 (电子组件)内部透视影像52予以迭合，并由CCD照相机43输出迭合影像 53，其中，外形轮廓影像51由可见光照射检测物5所形成，而内部透视影 像52则由X光照射检测物5所形成，在此，外形轮廓影像51可与内部透视 影像52同步同时形成，或者，外形轮廓影像51的形成先于内部透视影像52， 或内部透视影像52的形成先于外形轮廓影像51，端视透视检测系统1的操 作与施行而定；使用者通过所得的检测物(电子组件)外表与内层的清晰迭合 影像53，而可精确地判断、检测该电子组件。
图4为一示 意图，用以显示说明如图1中所示本发明的一种透视检测系 统。如图4中所示，透视检测系统1包含光源模块2、承载模块3、以及成 像模块4。
在此，光源模块2包含一个X光产生器21、以及一个可见光灯源22， 该个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日光灯，环形LED等等。光 源模块2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/或可见光光源。
承载模块3为一工作台，用以承载检测物5并让X光光源及/或可见光 光源照射检测物5，在此，检测物为电子组件。成像模块4包含X光转换'/影像增强装置41 、—'镜头42、以及CCD照相 机43。当X光光源穿透于承载模块3上的检测物5后，在承载模块3下方 的X光转换/影像增强装置41会将X光转换为微弱的荧光，接着，并将影像 予以增强。此时，在该X光转换/影像增强装置41下方的输出面，己呈现正 常可观看的影像。在该X光转换/影像增强装置41下方的镜头42以及CCD 照相机43，将所照射出的检测物5(电子组件)外形轮廓影像51、以及该检测 物(电子组件)内部透视影像52予以迭合，并由CCD照相机43输出迭合影像 53。使用者通过所得的检测物(电子组件)外表与内层的清晰迭合影像53，而 可精确地判断、检测该电子组件。
在此，外形轮廓影像51由可见光灯源22照射检测物5所形成；而内部 透视影像52则由X光产生器21照射检测物5所形成。
图5为一示意图，用以显示说明本发明的一种透视检测系统的可见光源 取像。如图5中所示，光源模块2的可见光灯源22可为环形灯具，例如， 环形日光灯，环形LED等等，用以产生出照射检测物所需的可见光光源。
承载模块3为一工作台，用以承载检测物5并让可见光光源照射检测物 5，在此，检测物为电子组件。
于此，由于光源为可见光，因此，成像模块4中无须应用到X光转换/ 影像增强装置41,可将X光转换/影像增强装置41置于镜头42、以及CCD 照相机43的左侧。当可见光光源穿透于承载模块3上的检测物5后，该承 载模块3下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该承载模块3下方的 镜头42以及CCD照相机43，可得出由可见光灯源22照射检测物5所产生 的外形轮廓影像51。
图6为一示意图，用以显示说明本发明的另一种透视检测系统的可见光 源取像。在此，由于X光光源的取像情况，在各个不同实施例中均为相同、 类似，因此，在此不再赘述，而仅描述于各个不同实施例的不同可见光光源 取像的施行情况。如图6中所示，光源模块2用以产生出照射检测物所需之 X光光源及/或可见光光源。在此，光源模块2包含一个X光产生器21、以 及二个可见光灯源22，该二个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日 光灯，环形LED等等。如图6中所示，其中，承载模块3的上下二侧均有 一个可见光灯源22，承载模块3上侧的可见光灯源22为背光的型式，起因
13于该可见光灯源22与CCD照相机'43分'别^:于M撐块3的上下不同二侧； 而于承载模块3下侧的可见光灯源22为正光的型式，S卩，该可见光灯源22 与CCD照相机43同位于承载模块3的下侧。
承载模块3为一工作台，用以承载检测物5并让可见光光源照射检测物 5，在此，检测物为电子组件。
于此，由于光源为可见光，因此，于成像模块4中无须应用到X光转换 /影像增强装置41 ，可将X光转换/影像增强装置41置于镜头42、以及CCD 照相机43的左侧。当可见光光源穿透于承载模块3上的检测物5后，于该 承载模块3下方的输出面，已呈现正常可观看的影像。于该承载模块3下方 的镜头42以及CCD照相机43，可得出由可见光灯源22照射检测物5所产 生的外形轮廓影像51。
图7为一示意图，用以显示说明本发明的再一种透视检测系统的可见光 源取像。在此，由于X光光源的取像情况，于各个不同实施例中均为相同、 类似，是故，在此不再赘述，而仅描述于各个不同实施例的不同可见光光源 取像的施行情况。
如图7中所示，光源模块2的可见光灯源22可为环形灯具，例如，环 形曰光灯，环形LED等等，用以产生出照射检测物所需的可见光光源。
承载模块3为一工作台，用以承载检测物5并让可见光光源照射检测物 5，在此，检测物5为电子组件。
于此，由于光源为可见光，因此，于成像模块4中无须应用到X光转换 /影像增强装置41 ，可将X光转换/影像增强装置41置于镜头42、以及CCD 照相机43的左侧，镜头42为长工作距离变焦镜头。当可见光光源穿透于承 载模块3上的检测物5后，于该承载模块3下方的输出面，已呈现正常可观 看的影像。于该承载模块3下方的镜头42以及CCD照相机43，可得出由可 见光灯源22照射检测物5所产生的外形轮廓影像51 。
图8为一示意图，用以显示说明本发明的又一透视检测系统的可见光源 取像。在此，由于X光光源的取像情况，于各个不同实施例中均为相同、类 似，是故，在此不再赘述，而仅描述于各个不同实施例的不同可见光光源取 像的施行情况。
如图8中所示，光源模块2的可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形曰光灯，环形LED等等，用'以;^生出怖、身m泖働戶斤需的可见光光源。
承载模块3为一工作台，用以承载检测物5并让可见光光源照射检测物
5，在此，检测物5为电子组件。
由于光源为可见光，因此，于成像模块4中无须应用到X光转换/影像
增强装置41 ，可将X光转换/影像增强装置41置于镜头42、以及CCD照相
机43的左侧。
在此，成像模块4还包含一同轴光灯源44、以及棱镜(分光镜)45，该同 轴光灯源44位于镜头42的下方处，基本上也属于正光的一种，棱镜45可 用以分光同轴光灯源44。于该承载模块3下方的镜头42以及CCD照相机 43，可得出由可见光灯源22照射检测物5所产生的外形轮廓影像51。
图9为一示意图，用以显示说明本发明又一种透视检测系统的可见光源 取像。在此，由于X光光源的取像情况，于各个不同实施例中均为相同、类 似，是故，在此不再赘述，而仅描述于各个不同实施例的不同可见光光源取 像的施行情况。
如图9中所示，光源模块2用以产生出照射检测物所需的X光光源及/ 或可见光光源。在此，光源模块2包含一个X光产生器21、以及二个可见 光灯源22，该二个可见光灯源22可为环形灯具，例如，环形日光灯，环形 LED等等。如图9中所示，其中，于承载模块3的上下二侧均有一个可见光 灯源22，于承载模块3上侧的可见光灯源22为背光的型式，起因于该可见 光灯源22与CCD照相机43分别位于承载模块3的上下不同二侧；而于承 载模块3下侧的可见光灯源22为正光的型式，g卩，该可见光灯源22与CCD 照相机43同位于承载模块3的下侧。
承载模块3为一工作台，用以承载检测物5并让可见光光源照射检测物 5，在此，检测物为电子组件。
成像模块4包含X光转换/影像增强装置41、镜头42、以及CCD照相 机43。由于光源为可见光，因此，于成像模块4中虽无须应用到X光转换/ 影像增强装置41，在此，可无须将X光转换/影像增强装置41予以移动，而 可置于原处。
在此，成像模块4还包含于水平方向的一同轴光灯源46、镜头47、 CCD 照相机48、以及45度反射镜49。成像模块4为双CCD同步观邻ij的结构'Z于，模块3下方装设一 45度 反射镜49，可见光外形轮廓影像51可反射到右侧水平轴方向上并由CCD照
相机48所接收。另，X光影像即可直接穿透45度反射镜49,由其下方的X 光转换/影像增强装置41、镜头42、以及CCD照相机43去取像而得出检测 物5的内部透视影像52。按此成像模块4的双CCD同步观测结构，无须切 换移动任何组件，而使可见光取像的外形轮廓影像51与X光取像的内部透 视影像52可同步、同时取得。
在以上实施例中，电子组件可为，例如，发光二极管LED，而本发明的 透视检测系统及方法，例如，可用于透视检测发光二极管LED，惟，电子组 件并非仅限于发光二极管LED，而是可为任何的电子组件，而用于其它电子 组件的透视检测系统及方法包含于本发明，其原理相同、类似于本发明，因 此，在此不再赘述。
综合以上的实施例，我们可以得到本发明的一种透视检测系统及方法， 应用于电子组件透视检测环境中，该透视检测系统利用X光源及/或可见光 源来照射所须检测的电子组件，在无须移动检测物的情况下，将所照射出的 电子组件外形轮廓影像、以及该电子组件内部透视影像予以迭合，通过所得 的检测物外表与内层的清晰影像，而可精确地判断、检测该电子组件。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用以限定本发明的范围； 凡其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含在 下述的专利范围内。
权利要求
1.一种透视检测方法，应用于电子组件透视检测，其特征在于，该透视检测方法包含以下程序在电子组件无须移动的情况下，产生出X光光源及/或可见光光源并照射该电子组件；光源穿透该电子组件后，将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强；以及将由可见光照射该电子组件所形成的外形轮廓影像、以及X光照射该电子组件所形成的内部透视影像予以迭合；通过所得的该电子组件的迭合影像，而判断、检测该电子组件。
2. 如权利要求1所述的透视检测方法，其特征在于，所述电子组件为发 光二极管。
3. 如权利要求1或2所述的透视检测方法，其特征在于，所述外形轮廓 影像与该内部透视影像同步同时形成。
4. 如权利要求1或2所述的透视检测方法，其特征在于，所述外形轮廓 影像的形成先于该内部透视影像。
5. 如权利要求1或2所述的透视检测方法，其特征在于，所述内部透视 影像的形成先于该外形轮廓影像。
6. —种透视检测方法，应用于电子组件透视检测，其特征在于，该透视 检测方法包含以下程序于电子组件无须移动的情况下，以光源模块所产生的X光光源及/或可 见光光源照射于承载模块上的该电子组件；该X光光源穿透于该承载模块上的该电子组件后，于该承载模块下方的 X光转换/影像增强装置会将该X光转换为微弱的荧光，并将影像予以增强-， 以及于该X光转换/影像增强装置下方的镜头以及CCD照相机，将由可见光 照射该电子组件所形成的外形轮廓影像、以及X光照射该电子组件所形成的 内部透视影像予以迭合，并由该CCD照相机输出迭合影像；通过所得的该 电子组件的迭合影像，而判断、检测该电子组件。
7. 如权利要求6所述的该透视检测方法；其特征在于，所述电子组件为 发光二极管。
8. 如权利要求6或7所述的透视检测方法，其特征在于，所述外形轮廓 影像与该内部透视影像同步同时形成。
9. 如权利要求6或7所述的透视检测方法，其特征在于，所述外形轮廓 影像的形成先于该内部透视影像。
10. 如权利要求6或7所述的透视检测方法，其特征在于，所述内部透视 影像的形成先于该外形轮廓影像。
11. 一种透视检测系统，应用于电子组件透视检测，其特征在于，该透视 检测系统包含光源模块，该光源模块用以产生出照射电子组件所需的X光光源及/或 可见光光源；承载模块，该承载模块用以承载该电子组件，并让该X光光源及/或该 可见光光源照射电子组件；以及 成像模块，该成像模块包含X光转换/影像增强装置，该X光转换/影像增强装置会将该X光转换为 微弱的荧光并将影像予以增强； 镜头；以及CCD照相机；于该X光转换/影像增强装置下方的该镜头以及该CCD照 相机，将所照射出的该电子组件外形轮廓影像、以及内部透视影像予以迭合， 并由该CCD照相机输出迭合影像；通过由所得的该电子组件的该迭合影像， 而判断、检测该电子组件。
12. 如权利要求11所述的透视检测系统，其特征在于，所述光源模块包含X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需 的可见光光源。
13. 如权利要求11所述的透视检测系统，其特征在于，该光源模块包含: X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及 二个可见光灯源，该二个可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需的可见光光源；该二个可见光'灯源分别位于该承载模块的上下二 侧，于该承载模块上侧的该个可见光灯源为背光的型式，而于该承载模块下 侧的该个可见光灯源为正光的型式。
14. 如权利要求11所述的透视检测系统，其特征在于，该镜头为长工作 距离变焦镜头，该光源模块包含X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需的可见光光源。
15. 如权利要求11所述的该透视检测系统，其特征在于， 所述光源模块包含X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及 可见光灯源，该可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子组件所需的可见光光源;以及该成像模块还包含同轴光灯源、以及棱镜，该同轴光灯源位于该镜头的下方处属于正光的一种，该棱镜用以分光该同轴光灯源。
16. 如权利要求11所述的该透视检测系统，其特征在于， 所述光源模块包含X光产生器，该X光产生器产生出照射电子组件所需的X光光源；以及 二个可见光灯源，该二个可见光灯源为环形灯具用以产生出照射该电子 组件所需的可见光光源；该二个可见光灯源分别位于该承载模块的上下二 侧，于该承载模块上侧的该个可见光灯源为背光的型式，而于该承载模块下 侧的该个可见光灯源为正光的型式；以及 该成像模块还包含于水平方向的同轴光灯源、镜头、CCD照相机、以及45度反射镜；其 中，该成像模块为双CCD同步观测的结构，于该承载模块下方装设该45度 反射镜，该可见光外形轮廓影像可反射到右侧水平轴方向上并由水平方向的 该CCD照相机所接收；该X光内部透视影像可直接穿透该45度反射镜，由 该45度反射镜下方的垂直方向上的该X光转换/影像增强装置、该镜头、以 及该CCD照相机去取像而得出该电子组件的该内部透视影像，按该成像模 块的双CCD同步观测结构，使该外形轮廓影像与该内部透视影像可同步、同时取得。
17. 如权利要求11至16任一所述的透视检测系统，其特征在于，所述电子组件为发光二极管。
18. 如权利要求11至15任一所述的透视检测系统，其特征在于，所述外 形轮廓影像的形成先于该内部透视影像。
19. 如权利要求11至15任一所述的透视检测系统，其特征在于，所述内 部透视影像的形成先于该外形轮廓影像。
全文摘要
本发明公开了一种透视检测系统及方法，应用于电子组件透视检测，所述透视检测方法包含以下程序在电子组件无须移动的情况下，产生出X光光源及/或可见光光源并照射该电子组件；光源穿透该电子组件后，将该X光转换为微弱的荧光并将影像予以增强；以及将由可见光照射该电子组件所形成的外形轮廓影像、以及X光照射该电子组件所形成的内部透视影像予以迭合；通过所得的该电子组件的迭合影像，而判断、检测该电子组件。所述透视检测系统，包含光源模块，承载模块，以及成像模块，镜头，CCD照相机。
文档编号G01N23/04GK101581572SQ20081009733
公开日2009年11月18日 申请日期2008年5月13日 优先权日2008年5月13日
发明者范炽格, 董文山 申请人:骏泽科技股份有限公司